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orsquon aborde les notions de fiabilit, on sappuie trs souvent sur la courbe en baignoire
ou courbe de dure de vie, reprsentant lvolution du taux davarie dun lment en fonction de son
temps dutilisation. Cela, en se rfrant la courbe
de mortalit des humains en fonction de leur ge.
Mais on commet une erreur en supposant que la vie
dun lment mcanique, lectrique, pneumatique ou
lectronique peut tre reprsente comme celle des
humains par trois priodes successives : infantile,
accidentelle, de vieillissement. Les essais sur un lment peuvent faire apparatre ces diffrents taux
davarie (dfaillances infantiles, fortuites, dues au
vieillissement), mais il sagit de comportements et non
de priodes successives. Llment matriel peut prsenter un seul, deux ou trois de ces comportements.
Lorsquon prsente la courbe du taux de mortalit
des humains, on omet de prciser et il en est de mme
pour les matriels que durant la priode accidentelle le MTBF (temps moyen de bon fonctionnement)
ou le MTTF (un mort ntant pas rparable !) est de
lordre de 4 000 ans. Ce qui na pas beaucoup de sens
autre que mathmatique. Cela veut dire que si nous ne
vieillissions pas, nous aurions un risque de mort de
2,5 10 4 par an. Le si est important !
De mme, annoncer pour un composant un MTBF de
50 000 heures suppose que celui-ci suit uniquement
une loi de fiabilit exponentielle (ce qui peut ne pas
tre le cas). Cela signifie aussi que la probabilit darriver cette dure nest que de 36,8 %. Par contre,
si ce composant suit vraiment une loi exponentielle,
il prsente, tout au long de sa vie, une probabilit de
20 10 6 dfaillance par heure de fonctionnement.
m
ots-cls
maintenance,
outil et mthode,
processus
[1] Ingnieur-conseil et instructeur TPM (Total Productive Maintenance) certifi JIPM (Japan Institute of Plant Maintenance).
[2] Le hasard a t dfini par mile Borel (1871-1956) comme le
rsultat de la prsence simultane de trois conditions : un grand
nombre de causes, indpendantes les unes des autres, aucune
dentre elles ntant prpondrante. Le hasard est le rsultat de la
combinaison de probabilits.
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On verra que livres, tudes prvisionnelles de fiabilit, bases de donnes mais aussi constructeurs supposent que les composants tudis sont dans la partie
horizontale, de taux davarie constant, de la courbe
en baignoire (priode de vie utile, de pannes fortuites
ou de pannes accidentelles), les autres phnomnes
ntant pas pris en compte. Pour les normes relatives
aux systmes instruments de scurit fonctionnelle
(normes CEI 61508, 61511, etc.), cest lindustriel
utilisateur qui doit justifier un taux davarie constant
durant un temps dtermin.
Cette hypothse est ncessaire pour faciliter les
calculs prvisionnels de fiabilit, mais elle suppose
que lon connaisse le comportement rel des composants pour viter les phnomnes de vieillissement,
en ralisant en particulier une maintenance prventive. On peut faire toutes les hypothses que lon veut
condition de connatre leurs attendus et leurs conditions dapplication.
Fiabilit et thorie des contraintes
On peut reprsenter la fiabilit dun composant comme
sa capacit (due ses caractristiques) rsister
certaines contraintes relatives aux conditions :
dutilisation : charge, temprature, vibrations,
humidit;
induites : dissipation dnergie, vibrations autoinduites, usure, etc.
Si caractristiques et contraintes sont des variables
alatoires (donc dues au hasard [2]) et indpendantes, la
fiabilit est la probabilit que la rsistance soit suprieure toutes les valeurs possibles de contraintes.
Elle est la rsultante des distributions alatoires des
caractristiques et des contraintes subies.
Les dfaillances rsultent de la concidence alatoire
de pics de contrainte et de creux de rsistance 1 .
Elles rsultent dune accumulation alatoire, donc
imprvisible et sans signe prcurseur, de contraintes
qui dpassent les limites que le composant peut supporter. Ce processus correspond au comportement
dit de vie utile.
Deux phnomnes viennent modifier ce comportement :
Un lot de composants peut contenir un petit nombre
dlments ayant des caractristiques plus faibles que
les autres (pourcentage de dfauts admis dans une
fabrication, qualit du montage) et qui lchent plus
rapidement. Cela conduit la priode infantile. Leur
remplacement au fur et mesure des dfaillances
2 Limpact du vieillissement
f (C)
[ g(K) dK ] dC
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En rayon
www.thebookedition.com/fiabilite-desequipements-jean-bufferne-p-98007.html
Vieillissement
quation de Weibull
= 1 loi exponentielle
Taux davarie
1 < <4
= 2 loi log-normale ; = 3,45 loi normale
Assimilation une loi normale pour 3
= f(t)
R(t) fonction de lge du composant.
MTBF =
Temps moyen de bon
fonctionnement
Moyenne des temps de bon
fonctionnement
Type de dfaillances
Maintenance prventive
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R(t) dt
M=
o
MTBF = f(t)
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Hypothses
Conditions de ralisation
Remarques
lsyst = Sli
Redondance active : pour t lsystme limite = 1 / M
Redondance passive : contrle systmatique du bon
fonctionnement des composants avant chaque mission (4)
Composants comportement quelconque (1 < < 4) ou lments constitus dun grand nombre de ces composants. Loi de Drenick
n composants comportement exponentiel de taux davarie lai
et m composants en mode de vieillissement ayant une moyenne de temps de bon fonctionnement Mj
i=n
syst (t) =
j=m
a +
i
i=1
j=1
1
Mj
lsyst = 1 / M
n
syst (t) =
1
Mi
Mode de vieillissement
Application dune maintenance prventive
prv =
M (T0)
T0
R (t) dt
(1) Probabilit de dfaillance reprsente par F(t) = 1 elt. Or pour x < 0,05 on peut considrer que 1 ex x, do F(t) lt. Do probabilit de dfaillance durant
lunit de temps l. Pour un chantillon de grandeur N, le nombre de dfaillants durant le temps t est : K = N F(t) = N (1 elt) N l t. Do frquence de
panne dun composant = K / N t = l.
(2) Exemples : leds, transistors MOS, gnrateurs dultrasons, etc.
dR
dt
1
R(t)
2 e t 2 e2 t
2 e t e2 t
te
(4) Si 2 composants de mme l = c , en redondance passive le taux moyen de dfaillance quivalent pour des tests effectus une priodicit T0 est :
d =
1 R(T0)
m(T0)
1 eT0 (2 eT0)
3
2
eT0
eT0
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