TRCicognatese

THIAGO RODRIGO CICOGNA
Identificao de matrizes de funes de resposta em

freqncia multidirecionais em estruturas complexas
Tese apresentada Escola de

Engenharia de So Carlos da
Universidade de So Paulo, como
parte dos requisitos para a obteno
do Ttulo de Doutor em Engenharia
Mecnica
Orientador: Prof. Tit. Paulo Sergio Varoto
SO CARLOS
2008
Dedicatria
Aos meus queridos pais, ao meu irmo e minha esposa, com amor,
admirao e eterna gratido.

AGRADECIMENTOS
Agradeo a Deus pela sade fsica e mental e por ter colocado em meu
caminho pessoas que auxiliaram em muito para a minha formao.
Meu agradecimento especial ao Prof. Tit. Paulo Sergio Varoto pela amizade,
orientao, pelo incentivo e pelo total apoio dispensado durante a elaborao desse
trabalho.
Ao Prof. Dr. Marcelo Areias Trindade pela amizade, confiana e inestimveis
contribuies ao longo do desenvolvimento dessa tese.
Agradeo a minha famlia, simplesmente por tudo que fizeram e fazem ao
longo de minha vida e a minha esposa pelo amor e o apoio constante.
Aos colegas de laboratrio pelo companheirismo e em especial aos amigos
Marcelo, Heinsten, Denis e Carlos, pelas contribuies em muitas etapas desse
trabalho. Aos amigos Paulo Caixeta, Guilherme (Nauta) e Peronti pela amizade
sincera e presena mesmo em momentos difceis e muitas vezes incertos.
Meus sinceros agradecimentos aos funcionrios do Laboratrio de Dinmica,
Cristina, Xina, Diego, Sergio e Leandro, por todo o apoio e amizade.
Aos colegas do Laboratoire de Mcanique des Structures et des Systmes
Coupls por todo o apoio durante minha estadia no Conservatoire National des Arts
e Mtiers (CNAM/Paris) e em especial, ao Prof. Tit. Roger Ohayon.
Fundao de Amparo Pesquisa do Estado de So Paulo (FAPESP) pela
bolsa de doutorado direto concedida.
E a todos que acreditam, torcem e contribuem para o meu crescimento.

RESUMO
CICOGNA, T. R. Identificao de matrizes de funes de resposta em freqncia
multidirecionais em estruturas complexas. 2008. 215 p. Tese (Doutorado) Escola de
Engenharia de So Carlos, Universidade de So Paulo, So Carlos-SP.
Este trabalho apresenta o desenvolvimento de uma metodologia para a
estimativa de funes de resposta em freqncia angulares (FRFAs). Trata-se de uma
tcnica que utiliza transdutores piezeltricos (PZT) do tipo bimorph para a medio da
curvatura local da estrutura atravs do potencial eltrico induzido pela extenso e
compresso do sensor. A partir da estimativa da curvatura, a rotao pode ser obtida
diretamente atravs de vrias tcnicas de interpolao (polinomial, formas modais,
etc.). Apresenta-se a modelagem terica da qual se deriva as equaes que
governam a dinmica de estruturas uni-dimensionais, do tipo viga, e estruturas bi-
dimensionais, do tipo placa, ambas isotrpicas, onde se incorpora o sensor bimorph.
Modelos em elementos finitos foram propostos no intuito de avaliar a utilizao destes
sensores (bimorphs) aplicados estimativa das FRFAs. Apresentam-se tambm
resultados numricos e experimentais considerando-se uma viga engastada-livre
(cantilever) e resultados numricos considerando-se uma placa simplesmente
apoiada. Um algoritmo gentico foi ainda desenvolvido no intuito de determinar a
posio e dimenso timas dos bimorphs em estruturas do tipo viga.
Palavras-chave: FRF Angular, Bimorph, Material piezeltrico, Movimentos
angulares
ABSTRACT
CICOGNA, T. R. Multidirectional frequency response functions matrices assessment in
complex structures. 2008. 215 p. Thesis (Doctoral) So Carlos School of
Engineering, University of So Paulo, So Carlos-SP, Brazil.
The present work aims to perform the development of an attractive approach
for accurate measurement of angular frequency response functions (AFRFs). It uses
bimorph piezoceramic patches to measure the structures local curvature through the
measurement of the electric potential induced by the extension and compression of the
patchs top and bottom stripes, respectively. From this curvature, rotation can be
obtained directly by several interpolation techniques (single polynomial, modes basis).
Theoretical modeling of the vibration incorporating piezoelectric bimorph sensor is
presented and equations governing the dynamics for one-dimensional structures, like
a beam, and for two-dimensional structures, like a plate, are derived for isotropic
structures. Finite element model for the dynamic analysis were proposed to evaluate
bimorphs patches applied to the measurement of angular FRFs. Numerical and
experimental results are presented considering a cantilever beam and numerical
results for a simply supported plate as tested structured. Also, in this work, a genetic
algorithm was used as an adaptive heuristic search algorithm for optimal placement
and sizing of the bimorph sensor into beam like structures.
Keywords: Angular FRF, Bimorph, Piezoelectric material, Angular motions

SUMRIO
LISTA DE FIGURAS................................................................................................ XII

LISTA DE TABELAS ................................................................................................XV
LISTA DE SMBOLOS............................................................................................ XVI
LISTA DE ABREVIATURAS ...................................................................................... XXI
1. INTRODUO ..............................................................................................23
1.1 OBJETIVO .................................................................................................................... 25
1.2 REVISO DA LITERATURA.............................................................................................. 25
1.2.1 Tcnicas de medida de aceleraes angulares................................................... 28
1.2.2 Patches piezeltricos ......................................................................................... 39
1.3 ORGANIZAO DA TESE ............................................................................................. 61
2. DESENVOLVIMENTO DE UM TRANSDUTOR DE ROTAO .............................63
2.1 RELAES DE ENTRADA E SADA MULTIDIRECIONAIS .................................................. 63
2.2 BIMORPH..................................................................................................................... 67
2.3 FORMULAO ANALTICA PARA VIGAS LAMINADAS .................................................... 69
2.3.1 Cinemtica ...................................................................................................... 70
2.3.2 Equaes constitutivas reduzidas ....................................................................... 71
2.3.3 Formulao variacional .................................................................................... 72
2.3.4 Equaes de movimento e determinao da curvatura local ............................... 76
2.3.5 Elementos Finitos.............................................................................................. 82
2.4 FORMULAO ANALTICA PARA PLACAS FINAS E ISOTRPICAS .................................. 83
2.4.1 Cinemtica ...................................................................................................... 84
2.4.2 Equaes constitutivas reduzidas ....................................................................... 86
2.4.3 Formulao variacional .................................................................................... 87
2.4.4 Equaes de movimento e determinao da curvatura local ............................... 89
2.4.5 Elementos finitos............................................................................................... 95
3. OTIMIZAO GEOMTRICA DOS SENSORES BIMORPHS ...............................98
3.1 FUNDAMENTOS .......................................................................................................... 98
3.2 TERMOS E OPERADORES TPICOS EM ALGORITIMOS GENTICOS................................ 99
3.2.1 Operador de Seleo ..................................................................................... 100
3.2.2 Operador de Reproduo ............................................................................... 100
3.2.3 Operador de Mutao.................................................................................... 101
3.2.4 Operador de Elitismo ..................................................................................... 102
3.3 FUNCIONAMENTO DO ALGORITMO GENTICO....................................................... 102
3.4 O AG NA OTIMIZAO (ESTRUTURAS DO TIPO VIGA) ............................................... 104
3.4.1 Codificao das variveis ............................................................................... 105
3.4.2 Funo de avaliao ...................................................................................... 106
4. RESULTADOS ..............................................................................................109
4.1 ESTRUTURAS DO TIPO VIGA .......................................................................................109
4.1.1 Avaliao dos mtodos de aproximao ..........................................................112
4.1.2 Comparao entre modos no corrigidos e modos corrigidos ..........................118
4.1.3 Avaliao dos parmetros de desempenho do AG ...........................................123
4.1.4 Estimativa das FRFAs.......................................................................................130
4.1.5 Resultados experimentais ................................................................................141
4.2 ESTRUTURAS DO TIPO PLACA.....................................................................................151
4.2.1 Avaliao do mtodo de aproximao.............................................................152
5. CONCLUSES ............................................................................................172
5.1 TRABALHOS FUTUROS ...............................................................................................175
6. REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS....................................................................177
A. CDIGO EM MATLAB PARA ESTRUTURAS DO TIPO VIGA............................185
B. CDIGO EM ANSYS PARA ESTRUTURAS DO TIPO PLACA ...........................196
LISTA DE FIGURAS
Figura 1.1: Anlise dinmica de sistemas (OLIVEIRA, 2003) ............................................................. 26
Figura 1.2: Crescimento do nmero de publicaes nas ltimas dcadas ......................................... 27
Figura 1.3: Medio de acelerao angular atravs do bloco T ........................................................ 30
Figura 1.4: Configurao experimental (MOTTERSHEAD et al., 2005) .............................................. 33
Figura 1.5: Determinao das componentes de acelerao atravs de lasers.................................... 37
Figura 1.6: Transdutor de 6 GDL constitudo por acelermetros lineares........................................... 37
Figura 1.7: Sensor com posicionamento e orientao dos acelermetros (HELDERWEIRT et al. 2001). 38
Figura 1.8. Dispositivo VSM Vibrating Sample Magnetometer (MONTURET; NOGAREDE, 2002) .. 44
Figura 1.9 : Estrutura 2D (CHARETTE et al., 1998) ........................................................................... 53
Figura 1.10: Patches piezeltricos na supresso de vibrao em placas (QIU et al., 2007) ................ 60
Figura 1.11: Mltiplos patches de PVDF no controle modal em placas (Tanaka e Sanada, 2007)....... 60
Figura 2.1. Relao entre entrada e sada em uma estrutura flexvel ................................................. 64
Figura 2.2: Exemplos de bimorphs .................................................................................................. 67
Figura 2.3: Montagem do sensor bimorph em paralelo (a e c) e em srie (b e d) (DAS-GUPTA, 1998)68
Figura 2.4: Bimorph sujeito a: a) trao e b) flexo.......................................................................... 69
Figura 2.5: Representao cinemtica para uma viga laminada....................................................... 70
Figura 2.6: Polarizao e numerao das camadas piezeltricas ...................................................... 78
Figura 2.7. Representao cinemtica para uma placa fina laminada .............................................. 85
Figura 2.8: Variao da deformao, campo eltrico e tenso em uma placa fina laminada............. 87
Figura 2.9: Polarizao e numerao das camadas piezeltricas para placas ................................... 90
Figura 2.10: Elemento SHELL99 utilizado na modelagem via elementos finitos.................................. 96
Figura 2.11: Elemento SOLID226 utilizado na modelagem via elementos finitos ............................... 96
Figura 3.1: Funcionamento do operador de reproduo (crossover) ............................................... 101
Figura 3.2: Funcionamento do operador de mutao .................................................................... 102
Figura 3.3: Diagrama de blocos do AG ........................................................................................ 103
Figura 3.4: Parmetros de otimizao em estruturas do tipo viga ................................................... 104
Figura 3.5: Codificao utilizada na montagem dos cromossomos................................................. 105
Figura 4.1. Diagrama de blocos do toolbox................................................................................... 110
Figura 4.2: Resposta no tempo de cada pastilha cermica de um bimorph e a voltagem resultante a ser
medida................................................................................................................................ 111
Figura 4.3. Configurao numrica adotada nas simulaes ......................................................... 111

Figura 4.4: Variao do erro para n = 1 e x out = 50 mm ..............................................................113
Figura 4.5. Variao do erro para s b = 30 mm e x out = 50 mm ....................................................114
Figura 4.6: Variao do erro para n = 1 e x out = 250 mm............................................................115
Figura 4.7. Variao do erro para s b = 30 mm e x out = 250 mm..................................................116
Figura 4.8: Variao do erro para n = 3 ......................................................................................117
Figura 4.9. Variao do erro para s b = 30 mm e x out = 250 mm..................................................118
Figura 4.10: Comparao entre os 5 primeiros modos de vibrar (no corrigidos e corrigidos) no caso
de 1 sensor bimorph ............................................................................................................120
Figura 4.11: Comparao entre os 5 primeiros modos de vibrar (no corrigidos e corrigidos) no caso
de 3 sensores bimorphs ........................................................................................................122
Figura 4.12: Efeito da utilizao de modos elsticos para n = 3 ....................................................122
Figura 4.13: Avaliao da probabilidade de crossover ...................................................................124
Figura 4.14: Avaliao da probabilidade de mutao ....................................................................125
Figura 4.15: Consideraes a respeito do tamanho da populao .................................................127
Figura 4.16: Distribuio dos indivduos no domnio das solues ..................................................128
Figura 4.17: Avaliao da porcentagem de elitismo .......................................................................129
Figura 4.18: Solues timas atingidas..........................................................................................130
Figura 4.19: Evoluo dos indivduos e FRFA para x out = 50mm ...................................................131
Figura 4.20: Evoluo dos indivduos e FRFA para x out = 100mm .................................................132
Figura 4.23. Evoluo dos indivduos e FRFA para x out = 250mm .................................................135
Figura 4.24. Evoluo dos indivduos e FRFA para x out = 300mm .................................................136
Figura 4.25. Evoluo dos indivduos e FRFA para x out = 350m ....................................................137
Figura 4.29: Dimenses da pastilha cermica piezeltrica (PZT-5H) e procedimento de corte e remoo
das pastilhas do suporte de fixao .......................................................................................142
Figura 4.30: Materiais utilizados na confeco dos bimorphs ......................................................... 143
Figura 4.31: Sensor bimorph confeccionado ................................................................................. 144
Figura 4.32: Sensores bimorphs posicionados sobre a viga............................................................ 145
Figura 4.33: Aparato experimental................................................................................................ 147
Figura 4.34: Resultado experimental: x out = 150mm .................................................................... 147
Figura 4.37: Correo da estimativa numrica ( x out = 150mm ) .................................................... 149
Figura 4.38: Correo da estimativa numrica ( x out = 200mm ).................................................... 150
Figura 4.39: Correo da estimativa numrica ( x out = 300mm ).................................................... 150
Figura 4.40: Dimenses principais na modelagem da placa .......................................................... 151
Figura 4.41: 4 bimorphs dispostos sobre a placa........................................................................... 153
Figura 4.42: Modos de vibrar para placa com 4 bimorphs (Rayleigh-Ritz) ....................................... 156
Figura 4.43: Respostas no domnio da freqncia para cada bimorph (n=4) .................................. 157
Figura 4.44: Estimativa da FRFA: ponto 1 (x=200,y=25) e n=4..................................................... 158
Figura 4.46: Estimativa da FRFA: ponto 3 (x=220,y=250) e n=4................................................... 160
Figura 4.48: 4 bimorphs dispostos sobre a placa........................................................................... 162
Figura 4.49: Modos de vibrar para placa com 12 bimorphs (Elementos finitos) ............................... 164
Figura 4.50: Respostas no domnio da freqncia para cada bimorph (n=12) ................................ 164
Figura 4.53: Estimativa da FRFA: ponto 3 (x=220,y=250) e n=12................................................. 167

LISTA DE TABELAS
Tabela 4.1. Propriedades do material da placa..............................................................................151
Tabela 4.2. Comparao entre as freqncias naturais (n=4) ........................................................153
Tabela 4.3. Comparao entre as freqncias naturais (n=12) ......................................................163
Tabela 4.4. Freqncias naturais da placa sob condies de contorno eltricas diferentes ...............171
LISTA DE SMBOLOS
Romanas Maisculas
Aj rea da j -sima camada
DE Constante elstica
D posio Nmero de bits para o gene posio
Dtamanho Nmero de bits para o gene tamanho
D3 Deslocamento eltrico transveral
E Mdulo de Young
E3 Campo eltrico na direo z
F Fora de excitao
FQ Excitao estrutural linear associada coordenada estrutural Q
{F } Vetor de excitao linear
{F }Q Vetor de excitao linear associada coordenada estrutural Q
{} Vetor de excitao estrutural ao longo das direes ortogonais
H PQ FRF relacionada s coordenadas estruturais P e Q
[H XF ] Sub-matriz de FRFs envolvendo a relao de GDL linear/linear
[H F ] Sub-matriz de FRFs envolvendo a relao de GDL angular/linear
[H XM ] Sub-matriz de FRFs envolvendo a relao de GDL linear/angular
[H M ] Sub-matriz de FRFs envolvendo a relao de GDL angular/angular
Ij Segundo momento de inrcia da seo transversal ( j -sima camada)
I 0j rea da j -sima camada
I 1j Primeiro momento de inrcia da seo transversal ( j -sima camada)
I 2j Segundo momento de inrcia da seo transversal ( j -sima camada)
Ij Primeiro momento de inrcia da seo transversal ( j -sima camada)
[K ] Matriz de rigidez
Lj Comprimento da j -sima camada
Lx Dimenso da placa na direo x
Ly Dimenso da placa na direo y

L px Dimenso do sensor bimorph na direo x
L py Dimenso do sensor bimorph na direo y
M Momento resultante aplicado

{M } Vetor de excitao angular
{M }Q Vetor de excitao angular associada coordenada estrutural Q
[M ] Matriz de massa
Nmero de camadas em estruturas compostas (piezeltricas e no

N
piezeltricas)
N Resultante normal aplicada
N Nmero de pontos calculados no domnio da frequncia
P Coordenada do ponto de resposta estrutural
Q Coordenada do ponto de aplicao do vetor de foras
Qi i -sima fora generalizada
[QM ] Matriz de interpolao para a aproximao por formas modais
[Q ] p
Matriz de interpolao para a aproximao polinomial
[QRR ] Matriz de interpolao para a aproximao por formas modais (Ritz)
RFRF FRF angular

RFRFi bimorph Valor pontual para FRF angular (bimorph)
RFRFi fem Valor pontual para FRF angular (elementos finitos)
T Energia cintica
U Energia potencial
V Resultante transversal aplicada
V Unidade de tenso eltrica (Volts)
V Tenso eltrica
Vj Diferena de potencial eltrico para a j -sima camada piezeltrica
V j+ Potencial eltrico medido na face superior da j -sima camada piezeltrica
V j Potencial eltrico medido na face inferior da j -sima camada piezeltrica
V posio Intervalo de valores para o cromossomo posio
Vtamanho Intervalo de valores para o cromossomo tamanho
XP Resposta estrutural linear associada coordenada estrutural P
{X } Vetor de movimentos lineares

{X }P Vetor de resposta linear associada coordenada estrutural P
{} Vetor de resposta estrutural ao longo das direes ortogonais
Romanas Minsculas
ai Parmetros de deslocamentos
a k (t ) Coeficientes temporais (aproximao polinomial)
{a} Vetor de coeficientes a k
bj Largura da j -sima camada
cij Constantes elsticas
c11j Constante elstica corrigida para a j -sima camada
{c} Vetor de curvaturas estimadas a partir de cada sensor bimorph
elj Constantes piezeltricas
e31j Constante piezeltrica corrigida para a j -sima camada
g Acelerao da gravidade (g=9,81m/s2)

h Espessura da viga (placa)
hj Espessura da j -sima camada
hp Espessura de cada camada piezeltrica
m Massa
m Nmero de modos utilizados na aproximao por formas modais
m Ordem da maior derivada do funcional
n Nmero de sensores bimorph distribudos sob a estrutura
p Ordem do polinmio de aproximao para o campo de deslocamentos
qi i -sima coordenada generalizada
s bi Dimenso do i -simo sensor bimorph
ti Instante de tempo
u Deslocamento axial local (linha mdia)

u, x Primeira derivada do deslocamento axial u em relao x
u, y Primeira derivada do deslocamento axial u em relao y
u Campo de deslocamento axial

v, y Primeira derivada do deslocamento axial v em relao y
v, x Primeira derivada do deslocamento axial v em relao x
v Campo de deslocamento axial

x Eixo do sistema de coordenada
xbi Posio do i -simo sensor bimorph ao longo do eixo x
xin Posio da excitao impulsiva ao longo do eixo x
xout Ponto de resposta na viga (coordenada x )
x& Derivada primeira em relao ao tempo

&x& Derivada segunda em relao ao tempo
y Eixo do sistema de coordenada
y in Posio da excitao impulsiva ao longo do eixo y
y out Ponto de resposta na viga (coordenada y )
z Eixo do sistema de coordenada

w Deslocamento axial local (linha mdia)
w Campo de deslocamento transversal
Grega Maiscula
D Mdia entre os erros locais

Di i -simo erro
2 Laplaciano
ll Constantes dieltricas
{} Vetor de movimentos angulares
j Volume da j -sima camada
Grega Minscula
i (t ) Coeficientes temporais (aproximao por formas modais)
i ( ) Coeficientes de forma no domnio da frequncia
{ } Vetor de coeficientes i
Primeira derivada do deslocamento transversal w em relao ao eixo x
,x Primeira derivada do deslocamento transversal w em relao x
,y Primeira derivada do deslocamento transversal w em relao y
b Deformao do tipo flexo
m Deformao do tipo membrana
1 Deformao axial em x
2 Deformao axial em y
6 Deformao em cisalhamento
H Trabalho virtual das foras eletromecnicas

T Trabalho virtual das foras de inrcia
W Trabalho virtual das foras externas
i (x ) Descrio geomtrica do i -simo modo de vibrar
( x, y ) Funo de forma ou funo de Ritz
r ( x, y ) r -esima forma modal

Cisalhamento
Coeficiente de Poisson
Rotao angular
& Velocidade angular (derivada primeira em relao ao tempo)
j Densidade em massa por volume da j -sima camada
x Tenso normal em x
y Tenso normal em y
z Tenso normal em z
1 Tenso mecnica axial (direo x )
2 Tenso mecnica axial (direo y )
6 Tenso mecnica em cisalhamento (plano xy )
3 Tenso mecnica na direo z
Freqncia
OC
2 Frequncia de ressonncia em circuito aberto
SC
2 Frequncia de ressonncia em curto-circuito
LISTA DE ABREVIATURAS
AG Algoritmo Gentico
AM Assumed Modes method
ASAC Active Structural Acoustic Control
CC Clamped edges
CF Clamped and free edges
CLT Classical Laminated Theory
CNAM Conservatoire National des Arts et Mtiers
DC Transverse electric displacement constant
EAM Enhanced Assumed Modes method
EMCC Coeficiente Efetivo de Acoplamento Eletromecnico
ESL Equivalent Single Layer
FE Finite Element method
FRF Funo de Resposta em Freqncia
FRFA Funo de Resposta em Freqncia Angular
FRFM Funo de Resposta em Freqncia Multidirecional
GB Gigabytes
GDL Graus de Liberdade
GDLR Graus de Liberdade Rotacionais
GDLT Graus de Liberdade de Translao
GHz Giga-Hertz
LEN Last Energy Norm method
LMSSC Laboratoire de Mcanique des Structures et des Systmes Coupls
LW Layerwise
MEC Mtodo dos Elementos de Contorno
MEF Mtodo dos Elementos Finitos
MEMS Microelectromechanical Systems
MSM Mtodo dos Sistemas Multicorpos
OC Open circuit (circuito aberto)
PVDF Polyvinylidenefluoride
PVF Polyvinyfluoride
PZT Titanato ou Zirconato de Chumbo
RR Rayleigh-Ritz
SEREP System Equivalent Reduction Expansion Technique
SC Short circuit (curto-circuito)
SS Simply Supported edges
VLD Vibrmetro a Laser Doppler
2D Bi-dimensional
3D Tri-dimensional
CAPTULO
UM
1. INTRODUO
Durante a dcada de 90 os recursos computacionais e experimentais
destinados anlise modal experimental de estruturas flexveis alcanaram um
avano significativo com o surgimento de novos sensores e tcnicas de medida que
visam, principalmente, aumentar a preciso dos dados experimentais. Novos
sensores, dentre os quais se destacam os piezeltricos tm surgido mais leves e
menores, o que contribui de forma decisiva para a reduo da influncia destes nos
dados experimentais. As tcnicas de medio de vibrao sem contato,
principalmente aquelas baseadas no uso de interfermetros laser mereceram uma
ateno maior e igualmente avanaram nos ltimos anos.
Em relao aos mecanismos de excitao estrutural, prepondera ainda a
utilizao de duas tcnicas j consagradas no contexto da anlise modal
experimental: os excitadores1 eletromagnticos e os martelos impulsivos. Embora

P
estas duas tcnicas possuam vantagens e desvantagens conforme estabelecido em
diversas publicaes importantes na rea (VAROTO, 1994; OLIVEIRA; VAROTO,
2002; ZHU et al., 2006), os shakers e martelos de impacto ainda so utilizados na
grande maioria dos ensaios com o objetivo de se levantar modelos modais de
resposta da estrutura sob estudo. Em estudos recentes, considerou-se a possibilidade
1
O termo shaker tambm comumente utilizado.
Introduo 24
de se utilizar fontes acsticas calibradas como mecanismos de excitao estrutural
(BRUNSKOG, 2002). Esta tcnica, embora tambm possua algumas desvantagens,
apresenta-se como uma opo promissora, tanto na anlise modal estrutural quanto
acstica, principalmente pelo fato de no requerer, a princpio, que acoplamentos
mecnicos sejam realizados com a estrutura sob estudo, como o caso dos shakers.
Embora as consideraes feitas nos dois pargrafos precedentes permitam
uma idia de que avanos importantes foram atingidos, existe ainda uma deficincia
tanto nos mecanismos de excitao quanto na captao da resposta estrutural no que
diz respeito identificao de grandezas angulares. O conhecimento de tais
grandezas de fundamental importncia para a estimativa das chamadas Funes
de Resposta em Freqncia Multidirecionais (FRFMs) e, por sua vez, das Funes de
Resposta em Freqncia Angulares (FRFAs), que desempenham um papel importante,
pois esto presentes em 75% da matriz de resposta estrutural completa.
O sucesso no desenvolvimento de produtos consiste primordialmente em
introduzir no mercado produtos cada vez mais baratos, durveis, leves e
principalmente ainda mais confiveis e que agridam o mnimo possvel o meio
ambiente. Por sua vez, um fator fundamental no desenvolvimento de produtos o
estudo do seu comportamento dinmico. Do ponto de vista da anlise modal
experimental, os ensaios em vibrao so realizados atualmente considerando-se
somente grandezas lineares em excitao e resposta. Contudo, a no considerao
de grandezas angulares na determinao da resposta dinmica de um produto
empobrece os resultados obtidos (AVITABILE; OCALLAHAN, 2003), com conseqente
perda de informaes que venham a ser importantes para o seu completo
entendimento.
Introduo 25
1.1 OBJETIVO
O objetivo desta tese realizar um estudo aprofundado de tcnicas analticas e
experimentais para a identificao de matrizes de FRFM, em especial, na identificao
das FRFs envolvendo grandezas angulares. Para tal, o presente trabalho apresenta o
desenvolvimento analtico, numrico e experimental de um transdutor piezeltrico
(bimorph) voltado para a estimativa de FRFs do tipo F , onde a rotao
angular local de algum ponto em particular da estrutura em estudo e F a fora de
excitao aplicada mesma.
1.2 REVISO DA LITERATURA
A anlise dinmica de sistemas pode ser realizada atravs de dois
procedimentos diferentes (EWINS, 1984). O primeiro denominado de Anlise Modal
Terica e consiste na formulao de um modelo matemtico da estrutura em estudo
atravs de alguma tcnica de discretizao: o Mtodo dos Elementos Finitos (MEF) ou
o Mtodo dos Sistemas Multicorpos (MSM), como tambm, o Mtodo dos Elementos
de Contorno (MEC). O MEF largamente utilizado na obteno das matrizes fsicas
de massa e rigidez da estrutura. Estas matrizes so ento utilizadas na formulao de
um problema de autovalores e autovetores cuja soluo fornece as freqncias
naturais e modos normais de vibrar da estrutura. Estes resultados constituem o
chamado modelo modal terico e podem ser posteriormente utilizados na obteno
de nveis de resposta a carregamentos dinmicos conhecidos, na determinao de
caractersticas de resposta em freqncia e impulsiva e na correlao com dados
experimentais (EWINS, 1984).

Introduo 26
O segundo procedimento denominado de Anlise Modal Experimental. Neste
tipo de anlise dados experimentais so obtidos e utilizados na determinao das
caractersticas dinmicas da estrutura em estudo (freqncias naturais, fatores de
amortecimento modais e modos de vibrar). Dentre as aplicaes da anlise modal
experimental, a mais comum a validao de um modelo terico para uma dada
estrutura. Atravs de ensaios experimentais obtm-se as caractersticas de resposta do
sistema, que so geralmente apresentadas no domnio da freqncia atravs de
Funes de Respostas em Freqncia (FRFs) ou ento atravs da resposta impulsiva
(MAIA et al., 1997).
A Figura 1.1 ilustra ambos os procedimentos que podem ser adotados em uma
anlise dinmica de sistemas (OLIVEIRA, 2003).
Figura 1.1: Anlise dinmica de sistemas (OLIVEIRA, 2003)
No entanto, um dos maiores desafios da anlise modal experimental a
identificao com preciso de FRFs angulares cujas entradas e sadas do sistema so
dadas atravs de grandezas angulares. Da mesma forma, as medidas de binrios

Introduo 27
tambm representam um grande desafio no contexto da anlise modal experimental.
Por muitos anos este problema no tem sido de fcil soluo e as medidas tm se
limitado excitao com foras lineares e a resposta em acelerao apenas
translacional. O resultado destas medidas conduz a um modelo experimental
incompleto, onde a falta de informao das grandezas angulares pode representar
mais da metade do modelo de resposta completo do sistema (VAROTO, 1996).
Contudo, a necessidade de maior preciso nos modelos de resposta vem
contribuindo para uma crescente importncia e melhoria nas tcnicas de medida de
grandezas angulares (MAIA et al., 1997).
A Figura 1.2 ilustra o crescimento do nmero de publicaes diretamente
relacionadas obteno de grandezas angulares e mais amplamente, na medio de
FRFs multidirecionais.
100 100
90 84 90
80 80 2
84
R = 0,9975
70 70
Nmero de artigos
Nmero de artigos
60 60
50 50
40 40
29 30 29
30 30
20 20
8 8
10 3 10 3
0 0
1961-1970 1971-1980 1981-1990 1991-2000 2001-2007 0 1 2 3 4 5
Perodo Dcadas
Figura 1.2: Crescimento do nmero de publicaes nas ltimas dcadas
Seguindo a mesma diviso de contedo feita por Bregant e Sanderson (2000),
os tpicos a seguir apresentam uma descrio das principais contribuies cientficas
e tecnolgicas relacionada s tcnicas e mtodos de medio e aplicao de FRFs
multidirecionais, com maior enfoque aos mtodos experimentais para determinao
dos graus de liberdade rotacionais (GDLR).

Introduo 28
1.2.1 TCNICAS DE MEDIDA DE ACELERAES ANGULARES
O estudo experimental de vibrao estrutural tem proporcionado uma grande
contribuio para a identificao e tambm para a soluo de problemas de
engenharia. Neste contexto, a Anlise Modal Experimental tornou-se uma poderosa
ferramenta de anlise para a determinao de caractersticas dinmicas das
estruturas a partir de medidas da resposta em freqncia da estrutura sob estudo.
Desta forma, a pesquisa em Anlise Modal Experimental est relacionada a um
conjunto de tcnicas que possibilitam a obteno de modelos matemticos para uma
determinada estrutura atravs de dados experimentais (EWINS; INMAN, 2000).
De acordo com Maia et al. (1997), a anlise modal foi aplicada pela primeira
vez com sucesso em 1940 em um estudo que proporcionou o entendimento do
comportamento dinmico de uma estrutura aeronutica. Atualmente, a aplicao da
anlise modal cobre uma vasta rea: desde a identificao e avaliao dos
fenmenos de vibrao, como tambm na validao e ajuste de modelos dinmicos
computacionais e na modificao estrutural e deteco de falhas. Salienta-se tambm
que a anlise modal parte integrante do processo de desenvolvimento de novos
produtos bem como na avaliao de seu comportamento dinmico. A anlise modal
tambm possui uma estreita relao com temas de pesquisa em acstica estrutural e
anlise vibro acstica de sistemas mecnicos (HEYLEN et al., 2000).
De acordo com Bregant e Sanderson (2000), medidas e excitaes que
considerem graus de liberdade de rotao (GDLR) tm um histrico relativamente
curto se comparado com os graus de liberdade de translao (GDLT), devendo-se isto
principalmente a dois motivos: (i) GDLR no eram considerados importantes e estes

Introduo 29
no eram vistos como necessrios para o enriquecimento do modelo de resposta da
estrutura. Isto poderia, em princpio, ser considerado verdade na determinao das
freqncias naturais e fatores de amortecimento modais, mas no representa uma
hiptese apropriada em termos de acoplamento estrutural e (ii) GDLR apresentam
maior complexidade em termos de medio em comparao aos GDLT, pois estas
medidas requerem um grande esforo experimental e apresentam pouca preciso se
comparado com as medidas diretas dos movimentos dos GDLT. Tcnicas e mtodos
para medir GDLR vm ganhando muita importncia pela necessidade de maior
preciso nas FRFs experimentais.
1.2.1.1 MEDIDAS ANGULARES BASEADAS NA UTILIZAO DE BLOCOS T
A obteno de dados de posio, velocidade ou acelerao angular pode ser
feita de diferentes maneiras, (EWINS, 2000; MAIA et al., 1997; McCONNELL, 1995).
As mais comuns so baseadas na utilizao de dois ou mais acelermetros de
medidas lineares fixados diretamente sobre a estrutura ou utilizando um corpo rgido
auxiliar na forma de um T conectado a mesma (EWINS, 2000; MAIA et al., 1997;
McCONNELL, 1995; YOSHIMURA; HOSOYA, 2000).
A tcnica do bloco T baseia-se na medio da resposta de acelermetros
lineares montados em um bloco T conectado estrutura no ponto de interesse como
mostrado na Figura 1.3 (URGUEIRA, 1989). O bloco assumido como sendo rgido
na faixa de freqncias de interesse e a sensibilidade cruzada dos acelermetros tem
que ser baixa (BREGANT; SANDERSON, 2000).

Introduo 30
s s
..
xP
.. ..
xA xB
P
Figura 1.3: Medio de acelerao angular atravs do bloco T
A principal vantagem dessa tcnica que o aparato experimental
relativamente simples e barato, j que faz uso somente de acelermetros lineares
convencionais durante as medidas. Porm, uma grande desvantagem desta tcnica
a presena de massa adicional (do bloco T e dos acelermetros) adicionada
estrutura sob estudo e que pode alterar as medidas significativamente em alguns
casos. Outra desvantagem desta tcnica a presena de elevados nveis de rudo, j
que a determinao da acelerao angular nesta tcnica requer que os sinais dos
acelermetros sejam subtrados um do outro.
Yoshimura e Hosoya (2000) utilizam o bloco T em estruturas tipo viga para
estimar FRFs angulares. Primeiramente, o bloco fixado na estrutura no ponto de
interesse e ento excitado por um martelo de impacto convencional em trs pontos
diferentes, onde so ento introduzidas na estrutura uma fora e um momento para
se obter as aceleraes dos GDLR como resposta do sistema. Aps um procedimento
numrico, so estimadas as foras e os momentos aplicados no ponto onde o bloco T
foi instalado bem como os movimentos lineares e angulares resultantes nestes pontos.
Finalmente, as FRFs angulares e lineares so obtidas.

Introduo 31
Silva (2003) desenvolveu um mtodo baseado em tcnicas de acoplamento em
que se estimam termos rotacionais sem que seja necessria a aplicao de um
binrio, introduzindo-se uma modificao estrutural obtida pela rotao de um bloco
em forma de T. A fora aplicada em seu centride. Alguns exemplos numricos e
experimentais so apresentados de modo a ilustrar o procedimento e procedendo-se
sua discusso de modo a verificar as vantagens do mtodo e evidenciar as
dificuldades que surgem na sua aplicao prtica. O trabalho tambm aborda
tcnicas de cancelamento de massa e medies por laser.
Neste mesmo ano, Lofrano (2003) realizou uma investigao sobre tcnicas
experimentais para a determinao de FRFs angulares com aplicao em estruturas
do tipo viga. Foram feitas vrias constataes e dentre elas destacam-se resultados
onde as FRFs angulares/lineares resultantes podem sofrer alteraes significativas
dependendo das dimenses dos blocos T, forma de fixao do mesmo, bem como, os
dados experimentais so processados.
De acordo com Montalvo et al. (2004), um mtodo alternativo baseado em
tcnicas de acoplamento desenvolvido. Este mtodo permite a obteno de
receptncias que envolvam grandezas angulares sem que haja a necessidade de se
aplicar uma excitao do tipo binrio, porm, ainda sendo passvel de medio. Isto
alcanado introduzindo-se uma inrcia de rotao oriunda de um bloco rgido no
formato de um T. Alguns exemplos numricos e experimentais so apresentados a
ttulo de demonstrao da aplicabilidade e do desempenho do mtodo. As limitaes
do mtodo proposto so exploradas de maneira que sejam explicitadas as origens de
resultados pobres. O mtodo explora ainda o que chamado de terceira funo do
bloco T: a introduo de uma modificao na inrcia de rotao devido rotao em

Introduo 32
90 do bloco sobre um de seus eixos de simetria. Respostas em translao so
realizadas sem contato atravs de dois vibrmetros a laser, resultando em respostas
rotacionais por subtrao. O mtodo envolve ainda um procedimento de
cancelamento de massas adicionais e a inrcia residual devido rotao do bloco T.
Fica evidente ainda da anlise de alguns resultados, que o procedimento de
cancelamento de massa muito sensvel a erros. Embora bons resultados sejam
obtidos no caso de um exemplo numrico, os autores salientam a necessidade da
utilizao de dados reais, oriundos de experimentos. Para dados com certo nvel de
rudo (simulao de dados reais), observa-se a propagao e a amplificao de erros
devido subtrao de quantidades que so similares. Em vista de suprimir esse fato,
os autores propem a regenerao das FRFs atravs da identificao dos parmetros
modais.
Por fim, Mottershead et al. (2005), descrevem uma tcnica de processamento
de sinais e uma metodologia experimental baseada tambm na utilizao de um
bloco T para a obteno da matriz completa de receptncia, incluindo a estimativa de
FRFAs. O trabalho se diferencia dos demais na incluso da rigidez e massa do bloco
T em sua modelagem, representando uma melhora nos resultados decorrente do ps-
processamento dos dados. As equaes resultantes geradas so mal condicionadas,
porm, os autores propem com sucesso a regularizao atravs de poucas medidas
independentes da estrutura sob investigao sem a presena do bloco T. Um exemplo
experimental apresentado no intuito de demonstrar a aplicabilidade do mtodo
proposto (ver Figura 1.4).

Introduo 33
Figura 1.4: Configurao experimental (MOTTERSHEAD et al., 2005)
1.2.1.2 MEDIDAS ANGULARES BASEADAS NA UTILIZAO DE DIFERENAS FINITAS
Um mtodo relativamente simples quanto aplicao prtica para solucionar
o problema da falta de medidas de graus de liberdade de rotao apresentado por
Ashory (1999). Em seu trabalho, a tcnica das diferenas finitas apresentada,
juntamente com um mtodo de correo, para estimar FRFs. Para aplicar a tcnica de
diferenas finitas, dois ou trs acelermetros convencionais (de acordo com a
formulao de diferenas finitas empregada) so colocados prximos uns aos outros,
com uma distncia entre eles constante. Medem-se os movimentos nos GDLT e a
partir das formulaes dessa tcnica, as FRFs angulares so obtidas. Um mtodo de
correo proposto, pois as FRFs angulares de transferncia podem no apresentar
bons resultados. A principal vantagem em se obter FRFs angulares baseadas na
tcnica de diferenas finitas se deve ao fato de as FRFs serem diretamente obtidas.
Alm disso, nenhum aparato experimental especial necessrio, pois, somente os
transdutores convencionais so utilizados. Porm alguns problemas so associados
no uso dessa tcnica e alguns cuidados devem ser tomados para se minimizar
Introduo 34
influncias que empobream os resultados. O primeiro problema estabilizar o
espaamento entre os acelermetros. A distncia entre os acelermetros tem uma
relao direta na freqncia das anti-ressonncias (ASHORY, 1999). Outro problema
a ordem da aproximao utilizada. Para um dado espaamento, a aproximao de
segunda ordem geralmente melhor que a aproximao de primeira ordem para as
FRFs. O mesmo no ocorre para as FRFs angulares que relacionam entrada e
resposta do tipo angular (DUARTE, 1996).
Duarte e Ewins (2000) em seu trabalho tambm utilizaram a tcnica das
diferenas finitas. Por se tratar de uma tcnica da qual se obtm movimentos nos
GDLR com boa qualidade, os autores consideram seu uso como uma boa alternativa
para se aplicar tambm na anlise do acoplamento estrutural. A compensao
residual na obteno desses graus de liberdade cuidadosamente tratada neste
trabalho junto com a melhor tcnica de aproximao. Os autores demonstraram
tambm que a qualidade das medidas depende diretamente do espaamento entre
os acelermetros, e propem que para aumentar a ordem de aproximao das FRFs
necessria que a distncia entre os acelermetros seja a menor possvel.
Lofrano (2003) tambm fez uso da formulao de diferenas finitas na
estimativa de FRFAs, cujos resultados numricos e experimentais obtidos, reforam os
a eficincia da tcnica via diferenas finitas em comparao ao bloco T.
1.2.1.3 MEDIDAS UTILIZANDO TECNOLOGIA LASER
A utilizao de vibrmetros a laser em medidas de vibrao vem ganhando
popularidade tanto no meio acadmico quanto nas empresas. Esta tecnologia teve
seu incio de forma mais acentuada no incio da dcada de 1990 com os vibrmetros
Introduo 35
baseados em mtodos interferomtricos e pontuais; a varredura na estrutura em
estudo ocorria de forma manual. O uso destes instrumentos tem-se difundido
bastante, principalmente no setor acadmico, especialmente devido reduo de seu
custo. Em contrapartida, novas tecnologias surgiram nesta rea, e hoje os
vibrmetros de varredura (scanning laser vibrometers) j equipam a maioria dos
laboratrios de anlise modal das grandes empresas (montadoras automobilsticas,
empresas aeronuticas, etc.).
O funcionamento do vibrmetro laser Doppler (VLD) se baseia no efeito
Doppler, ou seja, quando a luz entra em contato com uma superfcie em movimento,
a freqncia do feixe de luz refletida alterada de uma determinada quantidade e o
feixe de luz ento dividido em duas partes: uma delas guiada em direo a
estrutura em um determinado ponto e a outra parte usada como feixe de luz de
referncia para a formao de interferncia construtiva ou destrutiva com relao ao
feixe de luz medido, o qual refletido pela estrutura (RATCLIFFE; LIEVEN, 1996).
Ziaei-Rad et al. (2000) utilizaram o vibrmetro Doppler para obter movimentos
angulares da estrutura. Os autores descrevem o funcionamento dessa tcnica levando
em considerao os mtodos discretos, lineares e circulares de medidas. Desta forma,
o vibrmetro pode mapear continuamente a superfcie de uma estrutura vibrante ao
longo de uma linha reta ou ao redor de um crculo e responder com uma sada
modulada que pode ser usada para analisar a vibrao de uma estrutura com mais
de um grau de liberdade. O vibrmetro um instrumento que mede a componente
da velocidade de vibrao do ponto na direo do laser e, a partir de uma
formulao algbrica, podem-se derivar os movimentos nos GDL.

Introduo 36
A principal vantagem dessa tcnica a ausncia de contado com a estrutura
sob teste, o qual permite desconsiderar o efeito de carregamento de massa (diferente
da maioria das tcnicas que utiliza transdutores convencionais). As medidas so
relativamente rpidas e fceis, como tambm, a resoluo e a preciso das medidas
so elevadas. Qualquer superfcie pode ser medida, independentemente da
temperatura ou da presena de altos campos eletromagnticos. At o presente
momento, a principal desvantagem se deve ao custo do equipamento, pois dentre
todas as tcnicas de obteno de GDLR o uso do laser o que apresenta a maior
inviabilidade econmica por ainda possuir um elevado custo dos equipamentos
(ZIAEI-RAD et al., 2000).
Outra tcnica que se baseia na utilizao de lasers apresentada por
Bokelberg et al. (1994a, 1994b) e consiste no posicionamento de um conjunto de
vibrmetros de tal maneira que o feixe de luz possa incidir sobre um alvo tetradrico
localizado numa superfcie vibrante. Cada feixe de luz refletida intercepta um
fotodetector capaz de determinar as coordenada x e y do alvo. Com alguns
procedimentos algbricos possvel determinar a posio inicial do alvo em forma de
tetraedro e seu movimento em seis direes (ver Figura 1.5). Esse sistema possui um
alto custo devido ao fato de se utilizar mais de um laser no aparato experimental.
Outra desvantagem a sobrecarga computacional e problemas relacionados ao
posicionamento do alvo na estrutura.

Introduo 37
Laser 2 Fotodetector 2
Laser 1
Laser 3
Fotodetector 3 Fotodetector 1
Figura 1.5: Determinao das componentes de acelerao atravs de lasers
1.2.1.4 MEDIDAS UTILIZANDO SENSORES DEDICADOS
Ivarsson et al. (2000) utilizaram um corpo rgido na forma de tringulo com
uso de acelermetros lineares e desenvolveram um transdutor para medir
simultaneamente todos os seis graus de liberdade de um corpo rgido. Esse
mecanismo conta com seis acelermetros convencionais devidamente posicionados
em uma pea triangular com um orifcio em seu centro e este sendo o ponto de
medio, como mostra a Figura 1.6.
A
D
rDy rAy
y
z x x
rFy rEy rBy ,rCy

F
B E C
rBx rCx
Figura 1.6: Transdutor de 6 GDL constitudo por acelermetros lineares
O orifcio na pea possibilita a medida de excitao e resposta no mesmo
ponto, alm de diminuir a massa do transdutor, minimizando o problema de

Introduo 38
carregamento de massa. Tambm para evitar este problema, os acelermetros
adotados apresentam massa pequena (cada acelermetro possui cerca de 2g).
Apesar de esse transdutor conter seis acelermetros, ele foi projetado para ter pouca
massa, o que no leva a considerar o carregamento de massa na estrutura.
Assumindo que o transdutor de 6 GDL se comporta como corpo rgido, as equaes
ordinrias para anlise cintica dos corpos rgidos podem ser utilizadas.
Helderweirt et al. (2001) utilizaram tcnicas indiretas e uma massa adicional
para propor um mtodo de obteno de movimentos nos GDLR. Os autores
propuseram uma tcnica que utiliza vrios acelermetros lineares em uma massa
adicional para derivar os correspondentes movimentos dos GDLR no ponto de
excitao. Para essa finalidade, um sensor especial foi desenvolvido. Esse sensor
consiste em um corpo rgido em forma de cruz onde so conectados acelermetros
lineares em diversas direes (ver Figura 1.7). Este trabalho tambm aborda a tcnica
de cancelamento de massa para a eliminao de erros.
Acel 5: -x Acel 4: +z
y Acel 3: +y
Acel 3: +z
z x Acel 2: +z
Acel 7: -z
Acel 8: +z Acel 1: +x
Figura 1.7: Sensor com posicionamento e orientao dos acelermetros (HELDERWEIRT et

al. 2001)
Introduo 39
Ainda utilizando a tecnologia de materiais piezeltricos, a empresa Kistler
disponibilizou recentemente no mercado dois acelermetros angulares: K-ShearTM
Type 8838 e 8840. O primeiro mede aceleraes angulares axiais e o segundo
aceleraes angulares laterais. Estes sensores representam a evoluo de um sensor
dedicado a medidas de acelerao angular denominado TAP (Translational Angular
Piezobeam) que foi comercializado em meados da dcada de 1990. McCONNELL
(1995) descreve o modelo mecnico e eltrico deste sensor que bastante similar aos
atuais.
1.2.2 PATCHES PIEZELTRICOS
Bello et al. (2003) considera em seu trabalho a possibilidade de uso de
pastilhas piezeltricas de baixo custo como transdutores para medidas de grandezas
rotacionais. Como referncia, utiliza-se bimorphs, pois estes so capazes de medir a
curvatura local da estrutura, possuem baixo custo e pouca interferncia na estrutura
sob teste. A partir da curvatura, a rotao pode ser obtida tanto por integrao
quanto por mtodos de interpolao. Diversas dificuldades devem ser superadas,
como: i) uma montagem apropriada sobre a estrutura em anlise; ii) o problema de
sensibilidade cruzada, especialmente para medies em placas e iii) um
procedimento de calibrao, pois tais pastilhas piezeltricas no possuem cartas de
calibrao. O trabalho apresenta tambm algumas comparaes entre FRFs
rotacionais obtidas atravs de um sensor de acelerao angular e estimativas
baseadas na aplicao do mtodo de reduo/expanso SEREP (System Equivalent
Reduction Expansion Technique). Uma forma encontrada para a reduo do efeito da
sensibilidade cruzada foi o uso de uma pastilha esbelta, com uma razo de
Introduo 40
comprimento/largura da ordem de 10/1. Alm disso, a pastilha colada a uma
camada de material deformvel (no caso, poliestireno), possibilitando assim, a sua
fixao estrutura de calibrao e estrutura sob estudo de maneira intercambivel.
Para obteno das rotaes, optou-se por uma interpolao polinomial cujo grau
da ordem de n + 3 , onde n o nmero de sensores distribudos ao longo da
estrutura. Os resultados apresentados encontram-se em uma faixa que vai de 0 a
800Hz com 5 sensores (pastilhas piezeltricas+base para fixao) ao longo de uma
viga simplesmente apoiada. Apesar de certo nvel de rudo presente nas curvas
oriundas do mtodo proposto, a comparao com as demais tcnicas mostra bons
resultados.
1.2.2.1 ESTRUTURAS DO TIPO VIGA
Benjeddou et al. (1997) apresenta um modelo em elementos finitos para vigas
sanduches capaz de representar tanto o mecanismo de extenso e atuao
convencional, quanto o mecanismo de atuao por cisalhamento utilizando-se
materiais piezeltricos. No primeiro mecanismo, um ncleo elstico coberto por
duas camadas piezeltricas transversamente polarizadas (uma camada inferior e
outra superior), constituindo a parte ativa do mecanismo. Na segunda forma de
atuao, um ncleo piezeltrico polarizado axialmente coberto por duas camadas
de material elstico. O modelo mecnico se baseia na teoria de Euler-Bernoulli para
as camadas superficiais e na teoria de Timoshenko para o ncleo do sanduche. Os
resultados apresentados mostram que o desvio a partir do modelo de Euler-Bernoulli
ocorre de maneira significativa para atuadores pequenos e espessos, assim como,
para vigas espessas onde a influncia do cisalhamento do material grande. Em

Introduo 41
termos de controle de vibrao, o trabalho mostra que o mecanismo de atuao por
cisalhamento promissor em comparao ao mecanismo convencional de extenso-
atuao e mais adequado em altas freqncias e pequenas amplitudes. Para baixas
freqncias, os atuadores posicionados sobre a estrutura fornecem melhores
resultados, fato este, j comprovado anteriormente atravs de uma formulao
terica apresentado por Zhang e Sun (1996).
Em 1999, Benjeddou et al. apresenta um novo modelo para o mecanismo de
atuao por cisalhamento. Em seu trabalho anterior, a descrio cinemtica do
modelo permitia a presena do fenmeno conhecido por shear locking, pois no
considerava uma adio no cisalhamento devido ao escorregamento das camadas
em vista do ncleo piezeltrico. Comparaes tericas e numricas para situaes
estticas e dinmicas so apresentadas, comprovando a aplicabilidade do novo
modelo desenvolvido. Mostra-se ainda que o mecanismo de atuao por
cisalhamento mais eficiente em comparao ao mecanismo de extenso, pois este
ltimo est limitado a espessuras reduzidas para produzir bons resultados. Alm
disso, mostra-se tambm que para estruturas com rigidez elevada, novamente o
mecanismo por cisalhamento apresenta melhores resultados. Em ambos os modelos
os modos de vibrar obtidos so equivalentes, embora os atuadores cisalhantes
apresentem menos deformao e freqncias naturais mais altas.
Gopinathan et al. (2000) apresenta uma reviso a cerca das diferentes teorias
utilizadas na modelagem e anlise de vigas e placas laminadas. O trabalho atenta
para o fato de no haverem estudos e simulaes documentados em termos das
variaes dinmicas do campo eletromecnico ao longo da espessura de estruturas
laminadas. O mesmo considera este efeito essencial no entendimento e

Introduo 42
aplicabilidade da hiptese de modelos que tratam de placas finas no controle ativo
de estruturas. Um campo de solues tridimensional para camadas ativas baseado
em solues por sries de Fourier desenvolvido para o clculo de todos os campos
eletromecnicos nas proximidades das freqncias de ressonncia no caso de vigas e
placas considerando duas camadas piezeltricas (sensor e atuador) e uma nica
camada estrutural. Desta forma, o clculo ao longo da espessura de componentes
no nulos em termos do campo eletromecnico vivel. Conclui-se ainda que para
estruturas com razo de aspecto moderadas, muitas das aproximaes consideradas
nos modelos de deformao em primeira ordem para o cisalhamento so
questionveis nas proximidades das freqncias de ressonncia.
No trabalho desenvolvido por Trindade et al. (2001a), uma formulao em
elementos finitos para a anlise de vigas do tipo sanduche apresentada. Neste
trabalho, vigas do tipo multicamadas podem ser modeladas considerando um
controle ativo-passivo. Suas multicamadas podem ser constitudas de materiais
elsticos e piezeltricos (Euler-Bernoulli), de maneira que apenas a camada central
pode ser modelada como um material viscoelstico (Timoshenko). O material
viscoelstico ainda modelado considerando sua dependncia em relao
freqncia (Anelastic Displacement Field Lesieutres ADF). O modelo em elementos
finitos foi programado considerando funes de forma lineares (Lagrange) no caso
dos deslocamentos axiais principais e relativos e atravs de funes cbicas
(hermitianas) no caso da deflexo transversal. As diferenas de potenciais eltricos
nas camadas piezeltricas foram assumidas constantes, constituindo um elemento
com 8 graus de liberdade mecnicos e 1 grau de liberdade eltrico. A validao do
modelo apresentada na segunda parte do trabalho (TRINDADE et al., 2001b) em

Introduo 43
trs exemplos: 1) uma viga composta por material elstico, um adesivo e uma
camada piezeltrica; 2) uma viga feita de materiais compostos e 3) uma viga
sanduche com atuadores piezeltricos. Os resultados oriundos das anlises mostram
a acuracidade do modelo quando comparado a resultados numricos.
Uma anlise aprimorada do comportamento de estruturas do tipo bimorph
apresentada por Beckert e Pfundtner (2002) ao combinar uma anlise terica de
materiais compostos em flexo a uma aproximao analtica detalhada para a
transferncia de tenso gradual das extremidades da face piezeltrica induzida por
uma deformao desigual entre as camadas. Os resultados so validados atravs de
anlises em um modelo em elementos finitos e revelam uma influncia significativa
das suposies para o estado de deformao transversal. O estudo complementado
por anlises experimentais que investigam a influncia da rigidez e da espessura da
camada adesiva na eficincia do atuador piezeltrico. Mostra-se que para camadas
finas e rgidas, a transferncia de tenses entre as camadas se aproxima de um
estado plano de tenses, enquanto que para camadas adesivas pouco rgidas um
comportamento no linear pode ser evidenciado, gerando discrepncias entre os
resultados numricos e experimentais.
O artigo escrito por Monturet e Nogarede (2002) prope uma metodologia de
projeto voltada para o dimensionamento timo de atuadores piezeltricos. O estudo
trata do funcionamento de uma barra bimorph heterognea em flexo quase-
esttica. Primeiro, um modelo analtico estabelecido baseando-se em suposies
clssicas para vigas e materiais piezeltricos. O campo de validade do modelo
proposto ento avaliado atravs de comparaes com um modelo em elementos
finitos. O modelo desenvolvido explorado, desta forma, dentro de um procedimento

Introduo 44
de dimensionamento automatizado via otimizao. So ilustradas as possibilidades
do mtodo desenvolvido no dimensionamento de um atuador piezeltrico voltado
para um equipamento vibratrio (ver Figura 1.8).
Figura 1.8. Dispositivo VSM Vibrating Sample Magnetometer (MONTURET;

NOGAREDE, 2002)
O trabalho de Brissaud (2004) trata da modelagem de bimorphs no-
simtricos utilizados em sistemas micro-eletro mecnicos (sigla em ingls: MEMS). Um
modelo analtico incluindo os parmetros elsticos e geomtricos da estrutura
elstica, da camada adesiva, dos eletrodos e da camada piezeltrica apresentado.
Este modelo foi aplicado a bimorphs em tipos diferentes de condies de contornos:
bi-engastada (CC), cantilever (CF) e simplesmente apoiada (SS). Adota-se para o
modelo analtico a teoria clssica de lminas, onde a flexo e as deformaes so as
mesmas para todas as camadas. Quando o bimorph usado como atuador, a
freqncia de ressonncia e o deslocamento de diferentes tipos de bimorphs so
calculados. A voltagem em circuito aberto, o deslocamento e freqncia de
ressonncia so determinados quando o bimorph utilizado como sensor. A
influncia dos parmetros da camada de cola tambm avaliada. Um mtodo para

Introduo 45
calcular o fator de qualidade global considerando os bimorphs versus um fator de
qualidade aplicado a cada camada proposto. Este mtodo pode ser aplicado
facilmente a todos os tipos de bimorphs (CC, CF, SS). A forma analtica da evoluo
da freqncia de ressonncia e a sensibilidade so deduzidas do modelo geral e
modelos tericos so comparados com o mtodo dos elementos finitos.
O artigo escrito por Costa Branco e Dente (2004) apresenta um estudo
analtico, numrico e experimental de um atuador/sensor piezeltrico assimtrico
aplicado a vigas engastadas (cantilever). A estrutura consiste de trs camadas
laminadas: uma camada piezeltrica representado um atuador, uma camada de
material elstico e uma segunda camada de piezeltrica que pode operar como um
sensor ou atuador. O acoplamento entre os movimentos de extenso e flexo
resolvido analiticamente, de forma que as equaes eletromecnicas que governam a
expanso e a flexo so obtidas. Solues analticas em termos dos deslocamentos
longitudinais e transversais, assim como, a resposta em freqncia da estrutura
calculada. O modelo terico formulado baseando-se em pequenas deformaes, o
que garante que os materiais sejam considerados dentro de seus regimes lineares e
desconsidera-se qualquer efeito de histerese. Um modelo em elementos finitos
desenvolvido e o mesmo utilizado para avaliar a preciso do modelo analtico.
Utilizam-se ainda resultados experimentais na verificao da resposta em freqncia
da estrutura como forma de validar os dois modelos precedentes: terico e em
elementos finitos.
Huang et al. (2004) desenvolve em seu artigo um novo modelo aplicado a
vigas multicamadas. Expresses analticas para a curvatura, deslocamento e o
deslocamento da ponta da viga so apresentadas em diversas situaes. Atravs do

Introduo 46
modelo proposto possvel ainda avaliar o efeito dos eletrodos na deflexo da viga.
Para um mesmo mdulo de Young e uma mesma espessura da camada piezeltrica,
os autores mostram em seus resultados que a deflexo na ponta da viga para um
bimorph montado em paralelo o dobro em comparao a um bimorph montado
em sua configurao em srie e que no h nenhuma interferncia significativa
quando se altera a largura dos atuadores.
Um mtodo analtico introduzido por Li et al. (2004) no intuito de determinar
o campo de deslocamentos em uma viga bimorph heterognea. Um modelo
tridimensional comparado a um modelo em elementos finitos e os resultados
obtidos mostram diferenas inferiores a 3% para as condies examinadas.
Baseando-se nestas comparaes, os autores deduzem que o modelo analtico, o
qual no considera efeitos secundrios como cisalhamento e tenso residual, pode
ser utilizado como uma ferramenta para aperfeioar o projeto de vigas bimorph
dentro de uma gama especfica de materiais e espessuras. Para ilustrar a utilidade do
modelo, vrios tipos de vigas foram parametricamente estudados monitorando-se o
comportamento da deflexo das mesmas. Baseado no estudo paramtrico
determinou-se que a espessura da viga um parmetro crtico na obteno da
deflexo desejada e, em contra partida, o mesmo no ocorre em termos da sua
largura. A rigidez, por sua vez, indica ter uma influncia modesta na deflexo em
metais tpicos e uma influncia significativa em materiais menos rgidos como
polmeros.
Um modelo em elementos finitos dedicado somente ao elemento piezeltrico
do tipo bimorph apresentado no trabalho de Wang (2004). O modelo combina
elementos 2D (uma nica camada) com elementos piezeltricos 3D (subcamadas)

Introduo 47
para anlises do tipo esttica e dinmica. Os resultados mostram que a distribuio
de potencial eltrico ao longo da espessura do bimorph pode ser obtida com
acuracidade atravs da suposio de uma distribuio linear para cada subcamada.
De acordo ainda com o modelo proposto, os efeitos no lineares relacionados aos
potenciais eltricos, para os sensores piezeltricos em circuito fechado, so
insignificantes para bimorphs finos ou de moderada espessura.
Maxwell e Asokanthan (2004) trazem em seu trabalho as caractersticas
modais de vigas flexveis com mltiplos atuadores (PZTs) distribudos ao longo da
mesma. A estrutura, assim como, as pastilhas piezocermicas foram modeladas
atravs da teoria de vigas por Timoshenko. Os atuadores foram considerados
perfeitamente aderidos estrutura, no havendo interferncia do adesivo na atuao.
As formas dos modos, bem como, as respectivas freqncias naturais foram
computadas para diversas configuraes de posicionamento das pastilhas. Como
concluso do trabalho, tem-se como efeito direto do posicionamento dos PZTs o
aumento de rigidez local, bem como, a variao do parmetro de cisalhamento.
Wu e Ro (2004) apresentam um clculo analtico do desempenho dinmico
para estruturas do tipo bimorph. Simulaes em elementos finitos foram efetuadas
para validar a estratgia proposta. Os resultados mostram que o mtodo de
determinao do pico pela amplitude apresenta aptido suficiente para predizer o
desempenho dinmico de bimorphs. A colagem de camadas e seus efeitos tambm
foram analisados atravs de mtodos estticos e dinmicos. O comprimento do
bimorph, assim como a espessura e a rigidez da cola devem ser consideradas ao se
tentar minimizar o efeito da colagem, pois estes se apresentam como os parmetros

Introduo 48
de maior relevncia. Concluiu-se o trabalho apontando para a utilizao de
estruturas longas e camadas finas de cola com alta rigidez.
Na rea de supresso de vibrao em estruturas, alguns parmetros como a
localizao de atuadores e sensores possuem influncia decisiva no melhoramento do
desempenho do sistema de controle. Bruant e Proslier (2005) apresentam um critrio
de otimizao modificado que visa garantir bons nveis de observabilidade e
controlabilidade da estrutura. Considera ainda o efeito de modos residuais como
forma de limitar o efeito de spill-over. Dois exemplos so colocados para ilustrar a
eficincia do critrio proposto utilizando para tal uma viga simplesmente apoiada e
uma placa retangular. Os resultados apontam para a importncia do critrio de
otimizao e sua influncia no controle da estrutura. Outro fator importante do
critrio proposto reside na simplicidade computacional.
Nesta mesma rea, o trabalho proposto por Dhuri e Seshu (2006) tem por
objetivo determinar o melhor local e o melhor tamanho para um atuador piezeltrico
responsvel pelo controle da estrutura. Propem tambm que o atuador altere o
mnimo possvel as caractersticas originais do sistema, pois este foi projetado para
atuar dentro de um determinado espectro em freqncia em relao s excitaes
externas. Os exemplos se baseiam em estruturas do tipo viga e em duas condies
distintas: estacionria e em rotao. Com isso, pode-se concluir que os parmetros
referentes ao atuador (tamanho e posio) podem ser distintos nestas duas condies.
Maurini et al. (2006) analisa em seu trabalho mtodos numricos para anlise
modal de vigas e pastilhas piezeltricas. As anlises recaem em modelos lineares
(Euler-Bernoulli) com a incluso de efeitos tridimensionais. Quatro diferentes tcnicas

Introduo 49
foram testadas: LEN (Last Energy Norm method), AM (Assumed Modes method), EAM
(Enhanced Assumed Modes method) o qual inclui funes especiais para capturar
descontinuidades na curvatura dos modos de vibrar e por fim, o mtodo dos
elementos finitos (FE method). O mtodo dos modos assumidos no produziu
resultados satisfatrios em termos de propriedades modais. O mtodo dos modos
assumidos melhorado, no entanto, conseguiu gerar resultados mais precisos, alm de
apresentar os efeitos de segmentao da viga. Segundo os autores, o mtodo dos
elementos finitos apresenta bons resultados em termos de freqncias, porm,
mesmo com um alto nmero de graus de liberdade, as estimativas para altas
freqncias ficam abaixo das obtidas pelo mtodo EAM, pois este ltimo contm as
funes de descontinuidades. Por fim, o mtodo LEN tem como aliado a sua fcil
programao computacional, porm, restrito a problemas unidimensionais.
No trabalho apresentado por Zabihollah et al. (2006) uma anlise da
sensibilidade de vigas laminadas considerando sensores e atuadores embebidos ou
colados sobre a superfcie apresentada utilizando-se um modelo em elementos
finitos baseado na teoria de deslocamentos de estruturas laminadas. A formulao
em elementos finitos tambm incorpora a interao entre campos eltricos e
mecnicos. O artigo mostra ainda que o modelo em elementos finitos aliado a uma
tcnica de programao quadrtica seqencial produz um algoritmo eficiente em
termos de otimizao do conjunto estrutura e atuadores/sensores. Exemplos
numricos so apresentados para demonstrar a capacidade e a eficincia da anlise
de sensibilidade desenvolvida pelo algoritmo de otimizao tanto em problemas
estticos quanto em dinmicos. A posio dos sensores/atuadores e as condies de

Introduo 50
contorno da estrutura contribuem decisivamente para a escolha entre a melhor
espessura das camadas elsticas e piezeltricas e suas massas, respectivamente.
Outro trabalho tambm relacionado ao estudo da otimizao no
posicionamento de sensores e atuadores piezeltricos pode ser encontrado no artigo
escrito por Zhang e Erdman (2006). Primeiro, introduz-se um modelo de controle de
vibrao de mecanismos flexveis. Em seguida, o modelo timo projetado visando o
mximo em controlabilidade e o observabilidade a partir dos modos sob controle e a
minimizao dos modos residuais. Um exemplo numrico apresentado para
demonstrar a aplicabilidade do mtodo proposto.
Carbonari et al. (2007) prope nessa mesma linha de otimizao uma
formulao que permite a distribuio simultnea de materiais no piezeltricos e
piezeltricos no intuito de se obter movimentos de atuao especficos. O problema
de otimizao colocado como a procura simultnea por uma tima topologia da
estrutura flexvel e a tima posio para o atuador piezeltrico, assim como, timos
ngulos de rotao que maximizem os deslocamentos ou as foras em certa direo
especificada. Uma funo multi-objetiva definida para permitir o controle da
flexibilidade, dureza e deslocamento na estrutura. Alguns exemplos so apresentados
para ilustrar o potencial do mtodo. Considerando o ngulo de rotao como uma
varivel de projeto o deslocamento em determinados pontos podem ser minimizados
fortemente com o mtodo proposto.
1.2.2.2 ESTRUTURAS DO TIPO PLACA
Steel et al. (1978) apresenta em seu trabalho um estudo terico e experimental
da resposta quase-esttica de uma placa de cermica piezeltrica de 150m de

Introduo 51
espessura colada sobre uma placa de cobre. O comportamento eletromecnico
avaliado considerando a direo polarizao da cermica, assim como, um estudo a
cerca das deformaes longitudinais e transversais. O tratamento terico
apresentado como um mtodo para interpretar os resultados. Para o bimorph de
cermica/metal as medidas esto em acordo com as predies da anlise terica,
respeitando a dependncia com a espessura da placa. Uma pequena relao com a
largura da placa observada e atribui-se o fato s restries presentes nas condies
de contorno. Para o bimorph de cermica/plstico tambm se buscou identificar a
relao com a espessura da placa, no entanto, os resultados demonstram apenas
uma equivalncia qualitativa com a teoria. Os benefcios prticos do bimorph
heterogneo esttico remetem a sua habilidade para produzir deflexes milimtricas e
aceitar voltagens at 100 V.
Usando combinaes de ngulos e padres de eletrodos diferentes, uma fina
placa bimorph de polmero piezocermico e metal foi construda apresentando
ambos os fenmenos de flexo e toro quando sujeita a um campo eltrico (Lee e
Moon, 1989). Os resultados experimentais mostram grande concordncia com as
previses tericas. Os autores ainda sugerem que tais dispositivos podem encontrar
aplicao no controle de micro-atuadores ou talvez no controle modal de estruturas
contnuas de maiores dimenses.
Lee (1990) novamente faz uso da teoria de placas laminadas com a presena
de camadas piezeltricas no controle e observao da flexo, toro, compresso e
extenso. O aprimoramento em relao ao seu trabalho anterior permite a
modelagem eletromecnica (atuao) e mecnico-eltrico (sensoriamento) em termos
do comportamento da placa. Atenta-se para o fato de uma rigorosa formulao para

Introduo 52
a presena de sensores e atuadores distribudos. As equaes de movimento no caso
dos atuadores incluem a fora de cisalhamento equivalente para as condies de
contorno, pois se baseiam na formulao de Kirchhoff. Observa-se tambm uma
relao recproca entre os sensores e atuadores piezeltricos ao se utilizar funes
generalizadas, o que permite, segundo o autor, atestar a vantagem de algoritmos de
controle que combinam sensores e atuadores piezeltricos.
Incorporando o efeito piezeltrico na teoria clssica de placas laminadas,
sensores e atuadores distribudos capazes de sensoriar e controlar a vibrao modal
de uma placa cantilever so apresentados teoricamente e verificados
experimentalmente por Lee et al. (1991). Mostra-se que o amortecimento crtico de
um modo em particular pode ser alcanado usando a combinao sensor/atuador
modal contanto que a amplitude de vibrao da estrutura controlada no sature o
atuador modal. Considerando ainda que o sinal do sensor seja proporcional
coordenada modal, um controlador de avaliao de velocidade pode ser empregado
sem o uso de qualquer elemento ajustado freqncia de ressonncia no
controlador. Utilizando-se um sensor/atuador de PVF2 e eliminando-se a interferncia
eletromagntica e o rudo de base no controlador em circuito fechado, demonstra-se
experimentalmente um amortecimento crtico para o primeiro modo de uma placa
cantilever.
Um conjunto completo de equaes que descrevem o comportamento
mecnico e eltrico de um componente piezeltrico desenvolvido no artigo de
Koshigoe e Murdock (1993). Destas equaes, obtm-se as equaes eletromecnicas
que descrevem o comportamento dinmico de elementos piezeltricos aplicados a
estruturas do tipo placa. As equaes eletromecnicas so utilizadas para explicar o

Introduo 53
amortecimento ativo introduzido por PZTs funcionando como atuadores e sensores. O
modelo de amortecimento ativo aplicado a um caso mais realstico. O
deslocamento transversal e os coeficientes de amortecimento da placa so calculados
fazendo-se uso das equaes eletromecnicas e os mesmos so comparados com
resultados experimentais. O amortecimento alcanado de aproximadamente 20 dB
em ambos os casos, numrico e experimental, excitando a placa em uma freqncia
correspondente ao seu primeiro modo de vibrar. Usando a equao de sensor, uma
concisa aproximao desenvolvida tendo em vista a construo de mtodos de
amortecimento ativo e passivo.
Charette et al. (1998) descreve em seu artigo um sensor de deslocamento
volumtrico feito de filme PVDF cortado em tiras moldadas. A estratgia projetar um
sensor que traduza o deslocamento volumtrico induzido pela vibrao de uma
estrutura 2D. A tcnica se baseia na representao modal da resposta da placa
utilizando para tal um sensor composto de vrias tiras de PVDF coladas superfcie
da estrutura, capaz de emitir um sinal de sada diretamente proporcional ao
deslocamento volumtrico (ver Figura 1.9).
Figura 1.9 : Estrutura 2D (CHARETTE et al., 1998)

Introduo 54
A aplicao experimental deste sensor voltada para sistemas com controle
ativo. O campo de deslocamento transversal e os nveis de presso obtidos
experimentalmente antes e depois de aplicado o controle validam o uso do filme de
PVDF como um sensor de deslocamento volumtrico voltado para o controle acstico
estrutural ativo (ASAC). Sugere-se o uso deste tipo de sensor para bandas de
excitao ainda maiores se um controlador digital apropriado for implementado.
Em paralelo ao ocorrido s estruturas do tipo viga, os trabalhos relacionados
s estruturas bidimensionais tambm se voltaram para o campo da otimizao.
Utilizando um algoritmo gentico, Han e Lee (1999), propem um mtodo para a
determinao dos locais timos para o posicionamento de sensores e atuadores em
placas. Os conceitos de observabilidade, controlabilidade e preveno de spill-over
formam a base para a funo custo dentro da otimizao. Os resultados
experimentais mostram reduo de vibrao significante para os modos controlados
com pequeno efeito nos modos residuais. Alm disso, observa-se que o sistema em
circuito fechado robusto o suficiente s variaes dos parmetros do sistema.
Sadri et al. (1999) apresenta em seu trabalho a modelagem terica de
estruturas do tipo placa que incorporam atuadores piezeltricos. As equaes que
governam a dinmica da estrutura, relacionando as deformaes nos elementos
piezeltricos s deformaes induzidas no sistema, so obtidas atravs do mtodo de
Rayleigh-Ritz para placas isotrpicas. Todo o desenvolvimento foi feito para placas
simplesmente apoiadas. Dois critrios de otimizao para o posicionamento dos
atuadores piezeltricos so apresentados: um utilizando controlabilidade modal e
outro utilizando controlabilidade via Grammian. Ambos os critrios foram testados
utilizando-se novamente um algoritmo gentico. Como resultado, observou-se que o

Introduo 55
modelo foi capaz de determinar com acuracidade as freqncias naturais, assim
como, os critrios utilizados na determinao do melhor posicionamento/dimenso
do atuador proporcionaram considerveis nveis de amortecimento para uma
considervel faixa de freqncia.
A soluo analtica exata para placas piezeltricas adaptativas simplesmente
apoiadas trazida no artigo escrito por Benjeddou et al. (2002). O estudo se baseia
na formulao original voltada a estruturas do tipo sanduche. Nenhuma
simplificao na modelagem feita em termos do campo eltrico e de
deslocamentos. Desta forma, a equao de conservao da carga eltrica satisfeita
e o potencial eltrico induzido corretamente representado no acoplamento
eletromecnico. Pela primeira vez, equaes de movimento eletromecnicas
bidimensionais e equaes constitutivas piezeoeltricas generalizadas
correspondentes s tenses e deslocamentos eltricos resultantes so introduzidos. O
mtodo proposto validado numericamente atravs da anlise modal de placas
hbridas de carbono-epoxy e camadas piezeltricas embebidas ou coladas sobre a
superfcie. Os resultados mostram a aplicabilidade da formulao proposta ao serem
confrontados com modelos elsticos tridimensionais acoplados ou desacoplados e a
modelos em elementos finitos de camada equivalente ou sanduche.
Utilizando as definies de Reissner para cinemtica de placas espessas, Barut
et al. (2002) aproxima os componentes de deslocamento em qualquer ponto de uma
placa em termos da ponderao das quantidades mdias, deslocamentos e rotaes,
funes estes das coordenadas no plano. As equaes de equilbrio e as condies de
contorno de uma placa sanduche so apresentadas empregando-se o princpio de
deslocamentos virtuais. A soluo para uma carga arbitrariamente distribuda

Introduo 56
obtida empregando-se sries de Fourier na representao das variveis
desconhecidas. A teoria apresentada validada comparando-a a uma soluo
analtica para uma placa sanduche quadrada simplesmente apoiada sob presso em
uma pequena regio e a outras teorias de camada equivalente.
Um modelo em elementos finitos para estruturas do tipo placa em material
composto proposto no artigo de Ferrario et al. (2003) como um aprimoramento nas
modelagens de membranas piezeltricas. Demonstra-se a validade da teoria atravs
da simulao de um sensor no monitoramento de viscosidade de alimentos. A
motivao do trabalho reside no fato de que modelos precisos voltados a membranas
piezeltricas multicamadas no estavam disponveis em pacotes comerciais de
softwares de elementos de finitos. O modelo proposto se comporta como uma placa
bidimensional considerando-se os graus de liberdade mecnicos e como um prisma
tridimensional para os graus de liberdade eltricos. O modelo proposto, denominado
Argyris, juntamente com as equaes piezeltricas habilitam uma representao
satisfatria da teoria de placas sanduche de Kirchhoff-Love em anlises termo-
mecnicas.
Sze et al. (2004) aborda a freqente adoo em anlises computacionais de
estruturas compostas por camadas piezeltricas e no-piezeltricas do campo eltrico
ser constante ao longo da direo transversal. Esta suposio convencional pode
conduzir a erros significantes a menos que a camada piezeltrica seja
consideravelmente fina em comparao as demais camadas. Dois mtodos
alternativos, denominados EL e DC, so propostos para representar a distribuio
espacial das variveis eltricas. Em EL, o campo eltrico adotado linear ao longo da
direo transversal e em DC, o deslocamento eltrico tomado como constante ao

Introduo 57
longo da direo transversal. Os resultados indicam que os mtodos alternativos
propostos so notadamente mais precisos que o convencional. Porm, em EL, os
resultados perdem acuracidade quando se adota o campo eltrico constante ao
longo de mais de uma camada ao mesmo tempo. Por outro lado, em DC, ocorre um
consumo menor de graus de liberdade eltricos e o mesmo se mostra mais eficiente
ao compar-lo a EL.
A representao exata de movimentos de corpo-rgido no padro de
deslocamentos em elementos de camada equivalente (ESL) e sanduche (LW)
abordada por Kulikov e Plotnikova (2005). Esta considerao exigiu o
desenvolvimento das relaes de deslocamento-deformao para ESL e LW com
respeito consistncia dos movimentos de corpo-rgido. As variveis fundamentais
desconhecidas consistem em seis deslocamentos das superfcies na teoria de camada
equivalente (ESL) e 3(N+1) deslocamentos das superfcies em LW, onde N representa
o nmero de camadas. Tal escolha de deslocamentos permite deduzir as relaes
deslocamento-deformao, invariantes sob movimentos de corpo-rgido.
Lee et al. (2005) trata em seu artigo da determinao de respostas estticas e
dinmicas de estruturas laminadas (multimorphs). Determina-se baseado na teoria de
Euler-Bernoulli as freqncias naturais, o deslocamento mximo e a fora que pode
ser produzida por uma estrutura multimorph cantilever simtrica. O modelo inclui a
dinmica dos piezeltricos, eletrodos e da camada elstica. O modelo terico
proposto verificado experimentalmente utilizando-se um multimorph com 20
camadas piezeltricas e o mesmo comparado a um modelo de estrutura bimorph
convencional. Os resultados experimentais concordam com as predies analticas
em termos das freqncias naturais e do deslocamento vertical. Atravs da soluo

Introduo 58
analtica, os efeitos do nmero e da espessura de camadas piezeltricas so
demonstrados. Mostra-se que existe um nmero timo de camadas piezeltricas (6 ou
8) na maximizao da deflexo transversal, assim como, h um valor especfico na
relao entre a espessura das camadas piezeltricas e da camada estrutural (0,88
para 6 e 0,275 para 8 camadas piezeltricas) que maximiza tanto a deflexo quanto
a fora produzida.
Recentemente, um modelo reduzido voltado a estruturas piezeltricas do tipo
placa trazido por Costa et al. (2007). O foco inicial do trabalho a modelagem de
uma placa fina composta de camadas de materiais piezeltricos distintos. Segundo o
modelo proposto, as variveis mecnicas e eltricas mostram-se parcialmente
desacopladas. O modelo avaliado do ponto de vista da sua capacidade de
representar um atuador e um sensor e ambos os problemas so resolvidos atravs de
um algoritmo gentico. No caso do atuador, altera-se a localizao de aplicao do
potencial eltrico em busca do maior deslocamento possvel como resposta e do
menor nmero de regies com potenciais eltricos no-nulos (regies de excitao).
Para o sensor, altera-se a localizao de aplicao dos carregamentos mecnicos
buscando-se o maior potencial eltrico induzido na placa e um nmero mnimo de
regies de excitao. Observa-se que em ambos os casos, a soluo tima
alcanada quando certo nmero mximo de regies excitado e que existe
interferncia nos resultados quanto diferena de discretizao da estrutura.
Pietrzakowski (2007) trata em seu artigo da anlise vibratria de placas
retangulares ativas. As placas so constitudas de camadas piezeltricas que atuam
como sensores/atuadores em um controle de supresso de vibrao do movimento
transversal. As camadas piezeltricas so polarizadas transversalmente e equipadas

Introduo 59
com eletrodos sobre as suas superfcies. Para satisfazer as equaes eletrostticas de
Maxwell, o modelo considera que a distribuio do potencial eltrico no caso dos
atuadores se trata de uma combinao de senos e co-senos na direo transversal. A
variao espacial no plano do potencial determinada pela soluo das equaes
eletromecnicas acopladas em conjunto com as condies de contorno
correspondentes flexo e ao potencial eltrico. A anlise executada em placas
simplesmente apoiadas. Consideram-se dois modelos de placa: no primeiro caso, o
campo de deslocamento baseia-se nas hipteses de Kirchhoff e, no segundo, no
modelo de Mindlin. A influncia da distribuio do potencial eltrico, assim como, a
espessura das camadas piezeltricas na dinmica da placa, incluindo a modificao
nas freqncias naturais numericamente investigada e discutida. Observa-se que as
freqncias naturais aumentam em funo do aumento da espessura da camada
piezeltrica referente ao atuador. Este efeito fica mais evidente no modelo de Mindlin
devido incluso dos efeitos de cisalhamento. Em placas relativamente finas, a
inrcia de rotao ligeiramente modifica as freqncias naturais.
Motivado pelo problema de estruturas espaciais tais como, painis solares e
antenas, Qiu et al. (2007) prope a utilizao de patches piezeltricos no controle da
vibrao em placas engastadas (ver Figura 1.10). Primeiramente, o artigo apresenta
as equaes modais e de controle. Em seguida, um mtodo de determinao dos
pontos timos de aplicao dos sensores e atuadores piezeltricos desenvolvido
baseado nos ndices de observabilidade e controlabilidade da estrutura. O mtodo
prope ainda o desacoplamento dos modos de toro e flexo atravs do filtro de
Butterworth. Os resultados analticos referentes s freqncias modais, respostas
transientes e controle so apresentados, assim como, os resultados experimentais

Introduo 60
voltados para o controle da vibrao referente aos modos de flexo e toro. Os
resultados numricos e experimentais apresentados mostram que o mtodo de
controle e o mtodo de identificao dos locais timos propostos so adequados.
Figura 1.10: Patches piezeltricos na supresso de vibrao em placas (QIU et al., 2007)
Na mesma linha de pesquisa, Tanaka e Sanada (2007) apresentam um
controle modal voltado a placas retangulares atravs do uso de sensores e atuadores
piezeltricos do tipo PVDF. O controle modal discutido teoricamente, assim como,
investigado experimentalmente utilizando sensores/atuadores bidimensionais (ver
Figura 1.11).
Figura 1.11: Mltiplos patches de PVDF no controle modal em placas (Tanaka e Sanada,
2007)
Introduo 61
Os resultados mostram que a supresso de vibrao alcanada combinando-
se mltiplos sensores/atuadores sem que haja a presena do fenmeno de spill-over.
1.3 ORGANIZAO DA TESE
Esta tese apresenta-se organizada da seguinte maneira:
no Captulo 2 introduz-se a formulao matemtica para estruturas do tipo
viga e placa de um novo sensor capaz de medir grandezas angulares. Trata-se de um
sensor composto por duas pastilhas piezeltricas, denotado aqui por sensor bimorph.
Sua aplicao tem grande motivao ao se considerar a sua facilidade de integrao
com a estrutura e a qualidade dos resultados obtidos dentro da metodologia
proposta;
no Captulo 3 apresenta-se a formulao do problema de otimizao do
sensor bimorph para o caso de estruturas do tipo viga. O problema tratado do
ponto de vista dos algoritmos genticos;
no Captulo 4 trata-se dos resultados numricos obtidos, da comparao
entre os mtodos de aproximao (no caso de vigas) propostos e da avaliao de
parmetros correspondentes ao algoritmo gentico. Trata ainda dos resultados
numricos obtidos no caso de estruturas do tipo placa, bem como, do mtodo de
aproximao proposto;
no Captulo 5 contemplam-se as concluses finais decorrentes dos estudos
desenvolvidos ao longo deste trabalho;
no Captulo 6 trazem-se as referncias bibliogrficas deste trabalho;

Introduo 62
no Apndice A descreve-se as rotinas desenvolvidas em ambiente Matlab na
modelagem numrica do transdutor bimorph e do algoritmo gentico desenvolvido e,
no Apndice B apresenta-se o cdigo desenvolvido para o estudo de
estruturas do tipo placa+bimorph do ponto de vista do software Ansys.

CAPTULO
DOIS
2. DESENVOLVIMENTO DE UM TRANSDUTOR DE ROTAO
A possibilidade de medio de Graus de Liberdade Rotacionais (GDLR) e
conseqentemente de Funes de Resposta em Freqncia Angulares (FRFAs) limitam-
se atualmente utilizao de tcnicas numricas e experimentais restritas a poucos
tipos de estruturas e condies de contorno. Este captulo apresenta uma tcnica de
baixo custo, voltada para a utilizao de materiais piezeltricos (PZTs) como uma
forma alternativa s tcnicas e sensores dedicados j existentes. Trata-se da utilizao
de sensores do tipo bimorph, capazes de medirem a curvatura local da estrutura em
condies dinmicas. A partir desta curvatura, a rotao em qualquer ponto da
estrutura pode ser obtida tanto via integrao quanto via interpolao (BELLO et al.,
2003).
2.1 RELAES DE ENTRADA E SADA MULTIDIRECIONAIS
Considere a estrutura flexvel mostrada na Figura 2.1. Comum a anlise modal
de estruturas, a notao aqui utilizada, corresponde ao domnio da freqncia. As
relaes entradas/sadas so dadas como funes da freqncia e estas, so
chamadas de funes de resposta em freqncia, ou simplesmente, FRFs
(McCONNELL, 1995).
A entrada aplicada no ponto de coordenada Q representada pelo vetor
{} = {( )}Q , o qual pode ser constitudo por seis componentes: trs componentes
Desenvolvimento de um transdutor de rotao 64
que representam foras lineares ao longo das direes ortogonais 1, 2 e 3 e trs
binrios em torno dos respectivos eixos, indicados por 4, 5 e 6 na figura.
Em um nico ponto da estrutura, portanto, o vetor excitao pode ser
decomposto em potencialmente seis entradas aplicadas estrutura, sendo que
destas, trs so foras e as trs restantes, binrios.
Figura 2.1. Relao entre entrada e sada em uma estrutura flexvel
De maneira inteiramente anloga, a resposta da estrutura {} = {( )}P no
ponto de coordenada P pode ser decomposta tambm em seis movimentos, sendo
trs movimentos lineares ao longo dos eixos ortogonais e trs movimentos angulares
em torno destes mesmos eixos. Desta forma, sabendo-se que uma dada FRF
definida como a razo da resposta em um determinado ponto pela excitao
aplicada em outro ponto, tem-se ento que para dois pontos no coincidentes na
mesma estrutura existem potencialmente 36 FRFs a serem determinadas.
As equaes de movimento para qualquer estrutura e em especial ilustrada
na Figura 2.1 podem ento ser escritas no domnio da freqncia da seguinte
maneira (MCCONNELL, 1995):

{}P = [ ( )]PQ {}Q (2.1)
Reescrevendo a equao acima em termos dos vetores de fora e binrio como
entrada e os vetores de movimento linear e angular como sada, obtm-se
{X } [H XF ] [H XM ] {F }
=
{} P [H F ] [H M ] PQ {M }Q (2.2)
Os vetores {X } = {X ( )}P e {} = {( )}P representam os movimentos lineares
e angulares associados ao P -simo grau de liberdade da estrutura (GDL), bem
como, {F } = {F ( )}Q e {M } = {M ( )}Q representam as entradas lineares e angulares
aplicadas ao Q -simo grau de liberdade da estrutura, respectivamente.
A matriz de FRF do sistema, por sua vez, aparece escrita de forma particionada
em quatro sub-matrizes. A sub-matriz [H XF ] = [H XF ( )] contm apenas as FRFs
relacionando graus de liberdade lineares (tanto para entrada quanto para sada).
A sub-matriz [H F ] = [H F ( )] , por outro lado, relaciona a resposta angular da
estrutura a uma entrada do tipo fora atravs da sub-matriz e, como visto na reviso
da literatura, a maioria das tcnicas de estimativa de FRFAs tem concentrado esforos
na identificao desta sub-matriz (BREGANT; SANDERSON, 2000).
Pela lei da reciprocidade, a sub-matriz que relaciona as entradas angulares
com as sadas lineares [H XM ] deve ser idntica sub-matriz que relaciona as sadas
angulares por entradas lineares [H F ] . Sendo assim, tem-se que [H XM ( )] = [H F ( )] .
Por ltimo, a sub-matriz [H M ] = [H M ( )] contm as FRFs que relacionam sadas
angulares com suas respectivas entradas angulares aplicadas estrutura.

A importncia da Eq. (2.2) pode ser vista quando um de seus elementos
escrito explicitamente:
{X }P = [H XF ]PQ {F }Q + [H F ]PQ {M }Q (2.3)
A resposta linear no ponto de coordenada P recebe a contribuio dos
esforos lineares e das FRFs contidas em [H XF ], assim como, dos esforos angulares
e das FRFs contidas na matriz [H F ] . Entretanto, na prtica experimental, onde se
utiliza comumentemente acelermetros translacionais, comum fazer-se a seguinte
simplificao:
X P = H PQ FQ (2.4)
de maneira que os demais termos que aparecem na Eq. (2.3) so simplesmente
desprezados, o que pode, em determinados casos afetar de maneira substancial os
modelos de resposta da estrutura sob estudo.
Do ponto de vista matemtico, o desconhecimento de tais informaes pode
representar cerca de 75% do modelo completo (VAROTO, 1996). Ento, torna-se de
grande importncia a correta estimativa dos movimentos angulares e as respectivas
FRFs.
Desta forma, prope-se a seguir o desenvolvimento de um sensor angular
baseado na utilizao de pastilhas piezeltricas capaz de estimar rotaes em
qualquer ponto da estrutura, e assim, ser possvel determinar as FRFs do tipo
H ( ) = ( ) F ( ) que relacionam respostas angulares devido a entradas do tipo
fora.
2.2 BIMORPH
Por bimorph entende-se um elemento composto por duas camadas de material
piezeltrico ligadas a um painel metlico flexvel (SAWYER, 1931). Exemplos deste
componente podem ser vistos na Figura 2.2.
Sua utilizao extensa, podendo ser encontrado desde aplicaes em micro-
vlvulas (MORRIS; FORSTER, 2000) quanto como fontes geradoras de eletricidade
(AJITSARIA et al., 2007) entre outras (TAI et al., 2004; GONG et al., 2005; JIANG et
al., 2005; LIM; CHOI, 2007).
Figura 2.2: Exemplos de bimorphs
Bimorphs podem ser utilizados como atuadores, quando alimentados por uma
tenso eltrica (efeito piezeltrico inverso), ou como sensores, quando as tenses
eltricas so medidas em seus terminais (efeito piezeltrico direto). Seu funcionamento
se baseia na utilizao das duas camadas piezeltricas conectadas de tal maneira
que se tenha um circuito em paralelo ou em srie (ver Figura 2.3).

1 1
2 2
C1
C1 C2 V V
C2
a) b)
1 1
2 2
C1
C1 C2 V V
C2
c) d)
Figura 2.3: Montagem do sensor bimorph em paralelo (a e c) e em srie (b e d) (DAS-

GUPTA, 1998)
A razo em se utilizar duas e no apenas uma nica pastilha piezeltrica na
confeco de um bimorph se deve ao fato de que quando este sujeito a uma
trao, ambas as camadas tambm estaro sob trao. Logo, a tenso eltrica na
extremidade do circuito nula (ver Figura 2.4a). Semelhantemente, se aplicada uma
flexo, a camada piezeltrica superior estar sob trao enquanto que a inferior sob
compresso. Desta maneira, a tenso eltrica ( V ) na extremidade do circuito ser
proporcional ao efeito de trao na camada superior e ao efeito de compresso na
camada inferior, ou seja, ter-se- uma tenso eltrica no nula e proporcional
curvatura (ver Figura 2.4b).

+ + + + + + + +
V =0

V 0
+

+

+ +
+ + + +
a) b)
Figura 2.4: Bimorph sujeito a: a) trao e b) flexo
Sendo assim, sugere-se a utilizao de bimorphs na estimativa da curvatura
local da estrutura, como tambm, uma estimativa da rotao em um ponto qualquer
da estrutura a ser identificada atravs de um mtodo de aproximao (polinomial,
formas modais, etc.).
2.3 FORMULAO ANALTICA PARA VIGAS LAMINADAS
Apresenta-se a seguir a formulao terica de uma viga laminada composta
de materiais elsticos/piezeltricos. A viga modelada utilizando-se a teoria clssica
de lminas ou, em ingls, Classical Laminate Theory (CLT), onde todas as camadas
esto sujeitas ao mesmo campo de deslocamento e s hipteses de Euler-Bernoulli.
As camadas piezeltricas so consideradas transversalmente polarizadas e
sujeitas tambm a um campo eltrico transversal. Por outro lado, a camada elstica
considerada isolada das demais. Todas as camadas so assumidas perfeitamente
aderidas e no mesmo estado plano de tenso. O comprimento, largura e espessura
da viga laminada so denotadas por L j , b j e h j , respectivamente.

2.3.1 CINEMTICA
Os deslocamentos axiais u ( x, z , t ) foram assumidos lineares ao longo da
espessura, enquanto que os deslocamentos transversais w ( x, z , t ) foram supostos
constantes (TRINDADE et al., 2001a).
u ( x , z , t ) = u ( x , t ) + z ( x , t )
(2.5)
w ( x, z , t ) = w( x, t )
A descrio cinemtica da viga laminada est esquematizada na Figura 2.5.
Observa-se que foram considerados os mesmos campos de deslocamentos ( u )
para todas as camadas. A partir da hiptese de Euller-Bernoulli, = w , tal que,
foi utilizado para denotar x .
z
w
x
u x
Figura 2.5: Representao cinemtica para uma viga laminada
Desta forma, considerando-se as relaes usuais de deslocamento e
deformao para cada camada, a deformao axial 1 pode ser escrita da seguinte
maneira:
1 = m + z f (2.6)
onde m = u , f
= w e os ndices m e f remetem s deformaes do tipo
membrana e flexo.
Supe-se um campo eltrico transverso constante para as camadas
piezeltricas enquanto que as componentes no mesmo plano so supostas nulas.
Embora a equao de equilbrio eletrosttico seja satisfeita apenas com a adoo de
um campo eltrico linear (RAHMOUNE et al., 1998; WANG, 2004), observou-se que
a parte linear pode ser desconsiderada para o problema tratado neste modelo
(TRINDADE et al., 2001). Conseqentemente, para j -sima camada de material
piezeltrico, tem-se que:
Vj
E3j = (2.7)
hj
onde V j a diferena de potencial eltrico para a j -sima camada, definida por
V j = V j+ V j , de maneira que, V j+ e V j referem-se aos potenciais eltricos medidos
nas faces superior e inferior da j -sima camada de material piezeltrico.
Considera-se ainda, que os materiais piezeltricos esto completamente
cobertos em suas superfcies superiores e inferiores por eletrodos, onde um campo
eltrico na direo z ( E3 ) pode ser aplicado (GODOY, 2008).
2.3.2 EQUAES CONSTITUTIVAS REDUZIDAS
Para a modelagem dos materiais piezeltricos, adotou-se materiais
ortotrpicos lineares cujos eixos de simetria so paralelos aos da viga em estudo. Os

termos cij , elj e ll ( i, j = 1,K ,6 ; l = 1,2,3 ) denotam as constantes elsticas,
piezeltricas e dieltricas, respectivamente. Para simplificar a notao, todas as
camadas foram consideradas piezeltricas. A camada elstica (viga), por sua vez,
obtida fazendo-se com que a constante piezeltrica seja nula.
Assim, as equaes constitutivas tridimensionais para uma camada de material
piezeltrico ortotrpico podem ser reduzidas a (RAHMOUNE et al., 1998)
1j c11j e31j 1
j = j j (2.8)
D3 e31 33j E3
onde
c132 c e2
c11j = c11 , e31j = e31 13 e33 , 33j =33 + 33 (2.8b)
c33 c33 c33
e 1 e D3 referem-se s componentes de tenso axial e deslocamento eltrico
transversal.
A correo das constantes c11 , e31 e 33 em (2.8b) deve-se hiptese de que a
tenso ( 3 ) na direo z nula (RAHMOUNE et al., 1998) tenses planas.
Observa-se que o acoplamento eletromecnico nas camadas piezeltricas
ocorre devido deformao axial e ao campo eltrico transversal, ou seja, o
mecanismo de extenso e atuao convencional para materiais piezeltricos.
2.3.3 FORMULAO VARIACIONAL
Utilizando o princpio de dAlembert, a seguinte equao variacional pode ser
escrita:
T H + W = 0 , u, w, Vk (2.9)
onde T , H e W remetem ao trabalho virtual das foras de inrcia,
eletromecnicas e externas, respectivamente.
Por sua vez, estes trs termos podem ser descritos de acordo com as variveis
principais u , w e V j .
O trabalho virtual das foras eletromecnicas pode ser escrito da seguinte
forma para uma viga laminada:
H = ( DE ) (2.10)

ou ento, como um somatrio das contribuies de cada camada
H = H j (2.11)
j
tal que
H j = ( 1 D3j E3j )d j
j
1 (2.12)
j
com j sendo o volume da j -sima camada.
Fazendo uso das equaes constitutivas (2.8) e (2.8b) pode-se escrever que
H j = ( c 1 E3j e31j 1 1e31j E3j E3j 33j E3j )d j

j
1 11 (2.13)
j
Substituindo a equao referente ao campo de deslocamentos (2.5) e ao
compo eltrico (2.7), o trabalho virtual dos esforos eletromecnicos pode ser descrito
e decomposto de acordo com as seguintes contribuies: mecnica H mj , piezeltricas
H me
j e H em
j e dieltrica H ej . Logo,
H j = H mj H me
j H j + H j
em e
(2.14)
onde
H = c11j ( m A j m + f I j m + m I j f + f I j f )dx
L
m
j
0
( )e
L
Vj
H me
j = A j m + I j f j
31 dx
0
hj
(2.15)
V j
(A )h
L
H em
j = e j
31 j
m
+ I j f
dx
0 j
L
V j V j
H = 33j A j
e
j dx
0
hj hj
A j , I j e I j simbolizam, respectivamente, a rea, o primeiro e o segundo momento
de inrcia da seo transversal da j -sima camada. Logo,
z j +h j 2 j
[A , I ] [1, z, z ]dzdy
b2
j j ,I j = 2
(2.16)
b 2 z j h j 2
Observa-se das expresses em (2.15) que existem termos de acoplamento
entre flexo e membrana devido caracterstica de mltiplas camadas. O eixo local
z da j -sima camada situa-se no plano mdio, de forma que
h jpiezo + h viga j 1
zj = + hrpiezo
2 r =1
O trabalho virtual dos esforos eletromecnicos (2.14) pode ser expresso em
termos das variveis u , w e V j , logo,

L Vj j Vj
H j = u c11j A j u c11j I j w + e31j A j + w c11 I j u + c11 I j w + e31 I j
j j
0 h j h j
(2.17)
V j V j
+ e31 A j u e31 I j w 33 A j dx
j j j
h j h j
Integrando por parte uma vez em u e duas vezes em w , pode-se escrever
que
H j = H lm
j + H j
vl
(2.18)
onde
Vj
H lm j
j

j = u c11 A j u c11 I j w + e31 A j
j

h j
Vj
+ w c11j I j u + c11j I j w + e31j I j
h j
L
V j
w c11j I j u + c11j I j w + e31j I j
h j
0
(2.19)
L V j
H vlj = u c11j A j u c11j I j w + e31j A j
0 h j
V j
w c11j I j u + c11j I j w + e31j I j
h j
V j V j
e31 A j u e31 I j w 33 A j dx
j j j
h j h j
O trabalho virtual das foras inerciais pode ser escrito da seguinte maneira:
T = (u j u&& + w j w
&& )d j
j j
(2.20)
onde j representa a densidade em massa por volume da j -sima camada e &
remete t .
Utilizando as relaes de deslocamento (2.5) e promovendo uma integrao
ao longo da rea transversal, tem-se que:
T j = j A j (uu&& + ww
&& )dx (2.21)
0
importante salientar que os termos inerciais de acoplamento translacional-
rotacional desta modelagem foram desconsiderados para efeitos de simplificao do
modelo, sem a perda de acuracidade do mesmo. Assim, em vista da definio do
campo de deslocamentos, a equao (2.21) pode ser expressa em funo das
variveis u e w de tal forma que
T j = (u j A j u&& + w j A j w
&& )dx
L
(2.22)
0
O trabalho virtual das foras axiais e transversais aplicadas em cada camada
pode ser escrito da seguinte forma:
W = W j (2.23)
j
onde
L
W j = (uN + wV wM )dx (2.24)
0
e N , V e M representam as resultantes totais normal, transversal e o momento
aplicadas s camadas.
2.3.4 EQUAES DE MOVIMENTO E DETERMINAO DA CURVATURA LOCAL
As equaes de movimento para toda a viga podem ser escritas da seguinte
maneira:
(T
j
j H j + W j ) = 0 , u, w, V j (2.25)
Utilizando as relaes vistas em (2.18), (2.22), e (2.24), pode-se reescrever a
equao acima supondo em relao s variveis independentes u , w e V j a
diferena de potencial eltrico V j , constante ao longo da direo x (condio de
equipotencialidade atribuda camada piezeltrica devido hiptese de eletrodos
recobrindo a mesma), tal como:
L
0 u j j A j u&& + j c11 A j u j c11 I j w + N
j j

+ w j A j w
&& + c11j I j u c11j I j w + V M (2.26)
j j j
V j V
e31j A j u e31j I j w 33j A j j dx = 0
j h j h j
Observa-se que embora considerando as hipteses de Euler-Bernoulli, onde u
e w so iguais para cada camada, a diferena de potencial eltrico V j
independente e pode variar de acordo com cada camada. Desta maneira, das
equaes de movimento pode-se dizer que:

j A j u&& c11j A j u + c11j I j w = N (2.27a)

j j j

j A j w
&& + c11 I j w c11 I j u = V M
j
j
(2.27b)

j j j
Vj
e31j A j u e31j I j w 33j A j =0 (2.27c)
hj
A Eq. (2.27c) pode ser resolvida em termos de V j , pois o interesse aqui
justamente avaliar a diferena de potencial eltrico induzido em cada camada
piezeltrica devido vibrao da estrutura. Logo,
e31j Ij
Vj = h j u w (2.28)
33
j
Aj

A Eq. (2.28) mostra a razo da utilizao de sensores bimorph. Com apenas
uma nica camada piezeltrica no seria possvel a determinao da voltagem
apenas conhecendo-se a curvatura w , pois esta dependente tambm do
deslocamento axial u . No entanto, se for utilizado um par de pastilhas piezeltricas
idnticas coladas uma sobre a outra (bimorph), possvel se obter a seguinte
expresso:
V2 V1 =
e31 h p
(I1 I 2 )w (2.29)
33 A p
A partir da Eq. (2.16) e da Figura 2.6 pode se escrever que
h 2+ h p h 2+ 2 h p
I1 = zdA
h2
e I2 = zdA
h 2+ h p
(2) PZT hp
(1) PZT hp
viga h
Figura 2.6: Polarizao e numerao das camadas piezeltricas
Logo, considerando-se pastilhas com seo transversal retangular e de mesma
largura b da viga, tem-se que:

e31
V2 V1 = h p2 w (2.30)
33
Desta forma, a curvatura local pode ser associada com a voltagem medida
diretamente de cada bimorph atravs da seguinte relao:
33
w( x, t ) = [V2 (t ) V1 (t )] (2.31)
e31 h p2
De acordo com a Eq. (2.31), o princpio bsico de funcionamento do
transdutor bimorph consiste na obteno da diferena entre as voltagens oriundas de
cada pastilha piezeltrica. Logo, a determinao da rotao para um determinado
ponto ( xout ) de resposta na viga, por sua vez, ocorre atravs de um processo de
aproximao. Dois mtodos so propostos: polinomial e formas modais.
2.3.4.1 APROXIMAO POLINOMIAL
Neste tipo de aproximao o campo de deslocamentos e suas derivadas
podem ser escritos da seguinte forma:
w(x, t ) = a p (t )x p + a p 1 (t )x p 1 + L + a 3 (t )x 3 + a 2 (t )x 2 + a1 (t )x + a 0 (t )
w( x, t ) = a p (t ) px p 1 + a p 1 (t )( p 1)x p 2 + L + 3a 3 (t )x 2 + 2a 2 (t )x + a1 (t )
(2.32)
w( x, t ) = a p (t ) p( p 1)x p 2 + a p 1 (t )( p 1)( p 2)x p 3 + L + 6a 3 (t )x + 2a 2 (t )
w( x, t ) = a p (t ) p( p 1)( p 2)x p 3 + a p 1 (t )( p 1)( p 2)( p 3)x p 4 + L + 6a 3 (t )
Os coeficientes a k (t ) ( k = 0,K , p ) podem ser determinados impondo-se as
condies de contorno e as curvaturas locais obtidas de (2.31) para cada instante de
tempo t i . Para uma viga engastada-livre (cantilever), as quatro condies de
contorno so: deslocamento ( w ) e rotao ( w ) nulos em x = 0 e momento ou

curvatura ( w ) e fora de cisalhamento ( w ) nulos para a extremidade oposta
( x = L ).
Cada condio de contorno fornece uma equao em vista dos coeficientes
a k . Logo, para uma viga cantilever, tem-se que a 0 = a1 = 0 , enquanto que os p 1
coeficientes ( a 2 ,K, a p ) restantes devem ser determinados a partir das duas condies
naturais de contorno em x = L e as respectivas curvaturas locais, obtidas a partir da
equao (2.31), extradas em cada um dos n sensores bimorphs.
Desta forma, a soluo exata do sistema de equaes em termos dos
coeficientes ( a 2 ,K, a p ) pode ser encontrada caso a ordem do polinmio seja dada
pela relao p = n + 3 , de tal forma que
[Q ]{a} = {c}
p (2.33)
onde
(n + 3)(n + 2)( xb1 )n +1 (n + 2)(n + 1)(xb1 )n L 2

M M M M
QP = (n + 3)(n + 2 )( xbn )n +1 (n + 2)(n + 1)(xbn )n L 2 (2.34)

(n + 3)(n + 2 )(L ) (n + 3)(n + 2)(L )n
n +1
L 2
(n + 3)(n + 2 )(n + 1)(L )n (n + 3)(n + 2)(n + 1)(n )(L )n1 L 0

{a}T = {a p (t i ) L a3 (t i ) a 2 (t i )} (2.35)
{c}T = {wb1 (t i ) (t i ) 0 0}
L wbn (2.36)
tal que xb representa a posio de cada bimorph em relao ao eixo longitudinal x
da viga.
Utilizando os coeficientes a k para cada instante de tempo t i , os deslocamentos
w( x, t i ) e as rotaes w( x, t i ) so obtidos considerando-se o campo de
deslocamentos adotado em (2.32).
2.3.4.2 APROXIMAO POR FORMAS MODAIS
Utilizando formas modais, tem-se que o campo de deslocamentos pode ser
aproximado da seguinte forma:
m
w( x, t ) = i (x ) i (t ) (2.37)
i =1
onde i (x ) representa a descrio geomtrica do i -simo modo de vibrar para uma
viga cantilever do tipo Euler-Bernoulli. Observa-se ainda que qualquer funo i (x )
pode ser utilizada neste caso, incluindo funes polinomiais de alta ordem.
Os coeficientes temporais i (t ) podem ser determinados impondo-se
novamente as quatro condies de contorno naturais, bem como, as curvaturas locais
obtidas atravs das voltagens induzidas em cada bimorph, em um total de n pontos
de medidas, para cada instante de tempo t i .
Desta forma, tendo assumido a presena de n bimorphs, o nmero de modos
que devem utilizados nesta aproximao igual a m = n + 2 , dado que as condies
de contorno j foram inicialmente includas na definio das formas modais.
De acordo com (2.37), o seguinte sistema pode ser escrito:
[QM ]{ } = {c} (2.38)
onde
1( xb1 ) 2( xb1 ) L M ( xb1 )

M M M M

QM = 1( xbn ) 2( xbn ) L M ( xbn ) (2.39)

1(L ) 2(L ) L M (L )
(L )1 2(L ) L M (L )
{ }T = { p (t i ) L M (t i )} (2.40)
{c}T = {wb1 (t i ) (t i ) 0 0}
L wbn (2.41)
Logo, a rotao w( x, t ) pode ser aproximada neste caso considerando-se a Eq.
(2.37).
Finalmente, comparando-se o mtodo de aproximao por formas modais ao
mtodo de aproximao polinomial, este ltimo apresenta um polinmio de ordem
n + 2 referente rotao, enquanto que o primeiro utiliza n + 2 modos de vibrar de
ordem p 1 em sua aproximao.
2.3.5 ELEMENTOS FINITOS
Um modelo em elementos finitos foi elaborado em conjunto com o Prof. Dr.
Marcelo Areias Trindade do Departamento de Engenharia Mecnica da Escola de
Engenharia de So Carlos. O modelo tem por objetivo simular a utilizao do
bimorph, bem como, prover subsdios de projeto para a integrao deste tipo de
sensor a estruturas do tipo viga.
A partir da formulao variacional e das expresses de trabalho virtual,
desenvolveu-se um modelo em elementos finitos para a viga incluindo-se os sensores
bimorphs. Funes de forma lineares (Lagrange) foram adotadas no caso dos

deslocamentos principais ( u ) e funes cbicas (Hermitianas) para a deflexo
transversal w . O modelo ainda considera uma condio de equipotencialidade, o
que equivale a uma rede de eletrodos interconectados cobrindo a superfcie superior
e inferior de cada pastilha. A descrio completa deste modelo pode ser encontrada
em Trindade (2000).
2.4 FORMULAO ANALTICA PARA PLACAS FINAS E ISOTRPICAS
De maneira semelhante ao que foi visto para estruturas do tipo viga,
apresenta-se a seguir, a formulao terica para estruturas do tipo placa. O objetivo
final relacionar novamente a leitura da tenso eltrica resultante no bimorph
curvatura local da estrutura e, assim, estimar a rotao em qualquer ponto da
estrutura.
As equaes descrevendo o modelo de placa so obtidas a partir da equao
geral de movimento de casca, em coordenadas curvilneas, com a escolha
apropriada dos parmetros de Lam e dos respectivos raios de curvatura (LIMA JR.,
1999).
Neste trabalho, foi adotado o modelo de Kirchhoff, onde as normais
superfcie de referncia permanecero perpendiculares superfcie de referncia
deformada, ou seja, xz = yz = 0 , como tambm, no h variao de espessura
durante a deformao.
Considera-se ainda que a tenso normal z , perpendicular a superfcie da
placa, pequena, podendo ser desprezada quando comparada s outras tenses
normais x e y . Alm disso, as deformaes ocorrem no campo das pequenas

deformaes, o que permite desprezar os termos de segunda ordem e superiores. A
espessura da placa h muito pequena em comparao s outras dimenses,
condio esta, fundamental para a formulao da teoria de placas finas.
As camadas piezeltricas so supostas novamente transversalmente
polarizadas e sujeitas tambm a um campo eltrico transversal. A camada elstica
novamente considerada isolada e, todas as camadas so assumidas perfeitamente
aderidas e no mesmo estado plano de tenso.
2.4.1 CINEMTICA
Os deslocamentos axiais u ( x, y, z , t ) e v ( x, y, z , t ) foram assumidos lineares ao
longo da espessura, enquanto que os deslocamentos transversais w (x, y, z , t ) foram
supostos constantes, logo:
u ( x , y , z , t ) = u ( x , y , t ) + z x ( x , y , t )
v ( x , y , z , t ) = v ( x , y , t ) + z y ( x , y , t ) (2.42)
w ( x, y, z , t ) = w( x, y, t )
O smbolo indica a quantidade num ponto arbitrrio (x, y, z ) da placa e as
variveis sem o trao so definidas no plano mdio da placa. Desta forma, os
deslocamentos (u , v ) dependem apenas da localizao do ponto (x, y ) e da rotao
do plano mdio em relao aos eixos x e y .
A descrio cinemtica da placa fina laminada est esquematizada na Figura
2.7.
Observa-se que foram considerados os mesmos campos de deslocamentos
( u, v ) para todas as camadas. A partir da hiptese de Euller-Bernoulli, , x = w x e

, y = w y . O plano inferior da camada mais inferior (placa) foi ajustado para
coincidir com a origem do eixo z .
z
x
w
z
x

u
u
Figura 2.7. Representao cinemtica para uma placa fina laminada
Considerando-se as relaes usuais de tenso e deformao para cada
camada, as deformaes axiais 1 e 2 e cisalhamento 6 podem ser escritas da
seguinte maneira:
u 2w
1 = z 2 = u , x + z , x
x x
v 2w
2 = z 2 = v , y + z y (2.43)
y y
u v 2w
6 = + 2z = u , y + v, x + 2 z xy
y x xy
Da mesma forma que foi adotada para a viga, supe-se um campo eltrico
transverso constante para as camadas piezeltricas enquanto que as componentes no
mesmo plano so supostas nulas.

2.4.2 EQUAES CONSTITUTIVAS REDUZIDAS
Novamente para a modelagem dos materiais piezeltricos, considerou-se
materiais ortotrpicos lineares cujos eixos de simetria so paralelos aos da placa em
estudo. Para simplificar a notao, todas as camadas foram consideradas
piezeltricas. A camada elstica (placa), por sua vez, obtida fazendo-se com que a
constante piezeltrica seja nula.
Desta maneira, as equaes constitutivas tridimensionais para uma camada de
material piezeltrico ortotrpico podem ser reduzidas a (RAHMOUNE et al., 1998)
1j c11j c12j 0 e31j 1

j j
2 c12 c 22j 0 e32j 2
j= (2.44)
6 0 0 c66j 0 6
D3j e31j j
e32j 0 33j E3
onde
c132 c c2 c e2
c11 = c11 , c12 = c12 23 c13 , c 22 = c 22 23 , e31 = e31 13 e33 , 33 =33 + 33
c 33 c33 c33 c33 c33
tal que 1 , 2 , 6 referem-se s componentes de tenso axiais e cisalhamento no
plano e 1 , 2 , 6 e D3 s componentes de deformao axiais e cisalhamento e ao
deslocamento eltrico transversal, respectivamente.
O acoplamento eletromecnico nas camadas piezeltricas ocorre novamente
entre s deformaes axiais e o campo eltrico transversal o que caracteriza o
mecanismo de extenso e atuao convencional para materiais piezeltricos.

Observa-se que embora as deformaes variem linearmente ao longo da
espessura, o campo eltrico e as tenses no sero contnuos, no entanto, estas ainda
assim variam linearmente a cada camada.
E
Figura 2.8: Variao da deformao, campo eltrico e tenso em uma placa fina
laminada
2.4.3 FORMULAO VARIACIONAL
Utilizando mais uma vez o princpio de dAlembert, a equao variacional
pode ser escrita como:
T H + W = 0 , u , v, w, V j (2.45)
onde T , H e W referem-se ao trabalho virtual das foras de inrcia,
eletromecnicas e externas, respectivamente.
O trabalho virtual das foras eletromecnicas pode ser escrito da seguinte
forma para uma placa laminada:
H = H j (2.46)
j
tal que
H j = ( 1 + 2j 2 + 6j 6 D3j E3j )d j
j
1 (2.46b)
j
e j simboliza o volume da j -sima camada.
Fazendo uso das equaes de deformao (2.43), constitutivas (2.44) e campo
eltrico (2.7) e integrando-as ao longo eixo z , obtm-se as seguintes equaes para
a j -sima camada piezeltrica:
Vj
H j = u , x c11j I 0j u , x + c11j I 1j , x + c12j I 0j v, y + c12j I 1j , y + e31j I 0j
Aj h j
Vj
+ v, y c12j I 0j u , x + c12j I 1j , x + c 22j I 0j v, y + c 22j I 1j , y + e32j I 0j
hj

Vj
+ , x c11j I 1j u , x + c11j I 2j , x + c12j I 1j v, y + c12j I 2j , y + e31j I 1j
hj

(2.47)
Vj
+ , y c12j I 1j u , x + c12j I 2j , x + c 22j I 1j v, y + c 22j I 2j , y + e32j I 1j
hj

+ u , y (c 66j I 0j u , y + c 66j I 0j v, x + 2c 66j I 1j xy ) + v, x (c 66j I 0j u , y + c 66j I 0j v, x + 2c 66j I 1j xy )
+ 2 xy (c66j I1j u, y + c66j I1j v, x + 2c66j I 2j xy )
V j V
+ e31j I 0j u , x + e32j I 0j v, y + e31j I 1j , x + e32j I 1j , y 33j I 0j j dA j
h j h j
de maneira que
z j +h j 2
[I 0
j j
,I ,I
1 2
j
] = [1, z, z ]dz 2
(2.48)
z j h j 2
O eixo local z da j -sima camada situa-se no plano mdio, de forma que
h jpiezo + h placa j 1
zj = + hrpiezo (2.49)
2 r =1
Utilizando as relaes de deslocamento (2.42) tem-se que:

T j = j (u u&& + v v&& + w w
&& )d j
(2.50)
j
Os termos inerciais de acoplamento translacional-rotacional novamente nesta
modelagem foram desconsiderados para efeitos de simplificao do modelo.
Por fim, o trabalho virtual das foras axiais e transversais aplicadas em cada
camada pode ser escrito novamente da seguinte forma:
W = W j (2.51)
j
2.4.4 EQUAES DE MOVIMENTO E DETERMINAO DA CURVATURA LOCAL
A partir da Eq. (2.47) possvel observar que para uma diferena de potencial
eltrico V j medida na j -sima camada piezeltrica, o variacional V j anula-se, o
que resulta em:
Vj
e31j I 0j u , x + e32j I 0j v, y + e31j I 1j , x + e32j I 1j , y 33j I 0j =0 (2.52)
hj
Logo, considerando o material piezeltrico transversalmente isotrpico
( e31j = e32j ), a diferena de potencial pode ser escrita da seguinte maneira:
Vj =
e31j
h (u + v ) +
e31j I 1j
h j ( , x + , y ) (2.53)
33j 33j I 0j
j ,x ,y
ou ento,
e31j h j I 1j 2
Vj = u + v w (2.54)
33j
,x ,y
I 0j
onde 2 w representa o Laplaciano de w , ou seja: 2 w = 2 w x 2 + 2 w y 2 .

A Eq. (2.54) explicita a razo da utilizao de sensores bimorph. Com apenas
uma nica camada piezeltrica no seria possvel a determinao da voltagem
apenas conhecendo-se a curvatura mdia local 2 w , pois esta dependente tambm
dos deslocamentos axiais. No entanto, utilizando-se um par de pastilhas piezeltricas
idnticas ( e31j = e31 e 33j = 33 ), coladas uma sobre a outra, possvel assumir que
e31 h p I 11 I 12 2
V2 V! = w (2.55)
33 I 01 I 02
Considera-se ainda que as camadas piezeltricas possuam as mesmas
espessuras e dimenses laterais (ver Figura 2.9).
(2) PZT hp
(1) PZT hp
placa h
Figura 2.9: Polarizao e numerao das camadas piezeltricas para placas
A partir da Eq. (2.48) e da suposio acima, pode se escrever que
h 2+ h p h 2+ 2 h p
I = 1dz = h e I = 1dz = h
1 2
0 p 0 p
h 2 h 2+ h p
h 2+ h p h 2+ 2 h p
I =
1
1 zdz =
hp
(h + h ) e
p I =
1
2
zdz =
hp
(h + 3h )
p
h 2
2 h 2+ h p
2
Logo,
e31 h p2
V2 V1 = 2w (2.56)
33
Finalmente, a curvatura mdia local pode ser associada com a voltagem
resultante medida diretamente de cada bimorph atravs da seguinte relao:

33
2 w( x, y, t ) = [V2 (t ) V1 (t )] (2.57)
e31 h p2
Novamente, o princpio bsico de funcionamento do transdutor bimorph
consiste na obteno da diferena entre os potencias eltricos oriundos de cada
pastilha piezeltrica. A determinao da rotao, por sua vez, para um determinado
ponto (x, y ) = ( x out , y out ) de interesse na placa ocorre atravs de um processo de ajuste
considerando o respectivo campo de deslocamentos.
2.4.4.1 DETERMINAO DAS FORMAS MODAIS POR RAYLEIGH-RITZ
No clculo variacional, procura-se a funo y ( x, y ) que dentre todas as
funes admissveis a soluo exata para minimizar um determinado funcional.
No mtodo de Rayleigh-Ritz, a funo y ( x, y ) (suposta exata) prope uma
soluo aproximada, formada por uma combinao linear de funes i ( x, y ) para
resolver o problema de elasticidade em sua formulao energtica.
Neste trabalho, a determinao das formas modais para a estrutura do tipo
placa ser dada atravs do mtodo de Rayleigh-Ritz da seguinte forma:
( x, y ) = aii ( x, y ) = {a}T { }
k
(2.58)
i =1
As funes i ( x, y ) , denominadas funes de forma ou funes de Ritz, devem
ser linearmente independentes e satisfazerem individualmente as condies de
contorno, alm de serem contnuas at o grau m 1 , sendo m a ordem da maior
derivada do funcional. Os coeficientes ai , a serem determinados, so denominados
parmetros de deslocamentos.
Esta soluo em conjunto com as equaes de Lagrange pode ser utilizada
para obter uma formulao aproximada da equao do movimento do sistema.
Logo, a energia potencial U e cintica T devem ser determinadas.
A energia potencial pode ser escrita da seguinte forma (MEIROVITCH, 1970):
2 w 2 2 w 2 w
2
(
2
)
U = DE w + 2(1 )
1
2
xy
d (2.59)
2 x y 2

( )
onde DE = Eh 3 12 1 2 e o coeficiente de Poisson.
Considerando a aproximao por Rayleigh-Ritz, pode-se escrever a energia
potencial da seguinte maneira:
U=
1
2
DE {a}
T
[ { } { } dxdy]{a} = 12 {a} [K ]{a}
2 2 T T
(2.60)
A energia cintica pode ser escrita simplesmente da seguinte forma
(MEIROVITCH, 1970)
1
T=
2 mw& 2 d (2.61)
ou ento
T=
1
2
h{a}T [ { }{ } dxdy]{a} = 12 {a} [M ]{a}
T T
(2.62)
Como os modos normais de vibrao por definio esto associados a um
sistema conservativo, podem-se considerar as equaes de Lagrange para tais
sistemas como:
d T T U
+ = Qi (2.63)
dt q& i q i q i
onde qi representa a i -sima coordenada generalizada e Qi a i -sima fora
generalizada.
Logo, substituindo as equaes (2.60) e (2.62) na equao (2.63)(2.72),
obtm-se as equaes do movimento escritas na forma matricial:
[M ]{q&&} + [K ]{q} = {0} (2.64)
Alm disso, lembrando que para o modo normal de vibrao, a dependncia

temporal de {q (t )} harmnica, tem-se um problema de autovalor dado por
{a}T ([K ] 2 [M ]) = 0 (2.65)
A soluo do autoproblema resulta em k autovalores r2 , vistos como as
freqncias naturais estimadas, e seus k autovalores associados {a}r ( r = 1,2, K, k ).
Assim, as formas modais podem ser descritas da seguinte maneira:
r ( x, y ) = {a}Tr { } (2.66)
A escolha adequada das funes i ( x, y ) determinante para se obter uma
boa aproximao para a soluo do problema. As funes aproximadoras mais
comumente utilizadas so polinomiais e trigonomtricas.
Para o problema da placa aqui em estudo adotou-se funes de forma que
representam a descrio geomtrica do i -simo modo de vibrar para uma placa fina
isotrpica simplesmente apoiada. Logo,
m n
i (x, y ) = sin sin

(2.67)
Lx Ly
onde m e n retratam o nmero de meias ondas, assim como, L x e L y remetem s
dimenses da placa nas direes x e y , respectivamente.
2.4.4.2 APROXIMAO DO CAMPO DE DESLOCAMENTOS POR FORMAS MODAIS
Utilizando formas modais, tem-se que o campo de deslocamentos pode ser
aproximado da seguinte forma:
m
w( x, y, ) = i ( )i ( x, y ) (2.68)
i =1
Os coeficientes i ( ) , descritos agora no domnio da freqncia , podem
ser determinados impondo-se as curvaturas locais obtidas atravs das voltagens
induzidas em cada bimorph, em um total de n sensores distribudos sobre a placa,
para cada incremento na freqncia i . Desta forma, tendo assumido a colocao
de n bimorphs, o nmero de modos a serem utilizados neste mtodo de
aproximao para o campo de deslocamentos igual a k = n , dado que as
condies de contorno j esto embutidas na definio dos modos aproximados
i ( x, y ) escolhidos.
Logo, de acordo com a equao (2.68), o seguinte sistema pode ser escrito:
[QRR ]{ } = {c} (2.69)
onde
21 ( xb1 , y b1 ) 2 2 (xb1 , y b1 ) L 2 n ( xb1 , y b1 )

2
1 ( xb 2 , y b 2 ) 2 2 ( xb 2 , y b 2 ) L 2 n ( xb 2 , y b 2 )
QRR = (2.70)
M M M M
2
1 ( xbn , y bn ) 2 ( xbn , y bn ) L n (xbn , y bn )
2 2
{ }T = { 1 (i ) 2 (i ) L n ( i )} (2.71)
{c}T {
= 2 wb1 ( i ) 2 wb 2 ( i ) L 2 wbn ( i ) } (2.72)
Portanto, a rotao w( x, y, ) pode ser aproximada neste caso considerando-
se a equao (2.68).
2.4.5 ELEMENTOS FINITOS
O software Ansys (Release 10.0) foi utilizado na modelagem estrutural,
anlise da resposta modal e tenses eltricas induzidas pelo acoplamento
eletromecnico em um sistema do tipo placa-bimorphs. O modelo utilizado consiste
de uma placa retangular e um conjunto de pastilhas cermicas piezeltricas coladas
duas a duas entre elas constituindo os sensores bimorphs e superfcie da placa.
O elemento estrutural SHELL99 foi utilizado na modelagem da placa, na forma
quadrangular em camada nica. Este elemento apresenta propriedades de
linearidade e isotropia, com oito ns no seu plano mdio e seis graus de liberdade
por n: deslocamentos UX, UY e UZ e rotaes ROTX, ROTY e ROTZ nas direes x ,
y e z , respectivamente (Figura 2.10).
O elemento SOLID226 foi adotado na modelagem das pastilhas piezeltricas
que constituem os sensores bimorph. Este elemento apresenta potencialidade de

acoplamento estrutural-trmico, trmico-eltrico, estrutural-termoeltrico, trmico-
piezeltrico ou puramente piezeltrico e piezoresistivo.
Figura 2.10: Elemento SHELL99 utilizado na modelagem via elementos finitos
No formato cbico puramente piezeltrico aqui utilizado composto por 20
ns, sendo 8 por face, com ns comuns nos vrtices e quatro graus de liberdade por
n: deslocamentos UX, UY e UZ, tenso eltrica VOLT (Figura 2.11).
Figura 2.11: Elemento SOLID226 utilizado na modelagem via elementos finitos
As malhas da placa e das pastilhas definem um reticulado uniforme de
elementos com dimenses unitrias de 5 5 3 mm e 5 5 2,5 mm, respectivamente.

Observou-se que uma discretizao ao longo da espessura das pastilhas em ao
menos duas camadas de elementos sobrepostos propicia uma correta leitura da
tenso eltrica (PAGANI JR; TRINDADE, 2007).
No modelo considerado, ambos os elementos possuem oito ns coplanares. O
elemento SHELL99 permite ainda que os ns, a partir de seu plano mdio, sejam
deslocados para a superfcie do topo da placa, permanecendo assim, em um plano
comum aos ns da base de cada pastilha em contato.
As pastilhas foram posicionadas de maneira que seus ns estejam
verticalmente alinhados aos da placa, sendo possvel a utilizao do comando Merge.
Este comando responsvel por acoplar mecanicamente cada n do elemento
SHELL99 ao n adjacente do elemento SOLID226. Seu efeito prtico a colagem dos
materiais, na medida em que transforma dois ns em um nico e acopla os graus de
liberdade comuns: as translaes em x , y e z .
Para a definio das condies eltricas dos sensores bimorphs, utilizou-se a
configurao em paralelo, cuja leitura da tenso eltrica resultante dada pelo
eletrodo do meio (ver Figura 2.3a) com o aterramento dos ns das superfcies inferior
e superior de cada bimorph. Deve-se considerar tambm que o potencial eltrico
invariante na superfcie, o que conseguido com a condio de equipotencialidade
nas superfcies superior e inferior de cada camada piezeltrica.

CAPTULO
TRS
3. OTIMIZAO GEOMTRICA DOS SENSORES BIMORPHS
Este captulo trata dos fundamentos, elementos e operadores utilizados no
procedimento de otimizao via Algoritmo Gentico (AG) desenvolvido para a
determinao do melhor posicionamento e dimenso de sensores bimorphs aplicados
a estruturas do tipo viga.
3.1 FUNDAMENTOS
Algoritmos genticos so ferramentas de busca baseadas em teorias de
gentica e da seleo natural de Charles Darwin. So tcnicas de inteligncia artificial
utilizadas na pesquisa por solues em domnios extensos para os quais uma busca
atravs da varredura do domnio demandaria um grande esforo desnecessrio
(GOLDBERG, 1989).
Entre os mtodos de otimizao mais comuns pode-se dizer que as diferenas
bsicas so: i) AGs no trabalham com parmetros de otimizao em si, mas com
uma codificao destes; ii) AGs no procuram um nico ponto, mas sim uma
populao de pontos; iii) AGs utilizam informaes de funes objetivo (fitness) e,
finalmente, iv) AGs utilizam regras de transio probabilsticas e no determinsticas.
A otimizao por AG parte de um conjunto inicial de solues do problema
proposto, as quais so codificadas para descrever as caractersticas do sistema. A
manipulao desses elementos feita de maneira a imitar os processos de seleo e

Otimizao geomtrica dos sensores bimorph 99
evoluo dos seres vivos na natureza, atravs de operadores tpicos de gentica,
descritos a seguir.
3.2 TERMOS E OPERADORES TPICOS EM ALGORITIMOS GENTICOS
Alguns termos so freqentemente utilizados quando se trata de AGs por
definirem os seus elementos de trabalho. Todos tm sua origem nas teorias de
gentica e entre eles destacam-se:
Populao: conjunto de indivduos que representam solues para o
problema a ser tratado;
Indivduo: um elemento da populao descrito (codificado) atravs de um
cromossomo;
Cromossomo: cdigo que descreve as caractersticas de cada indivduo,
sendo cada uma destas caractersticas relacionadas em um gene;
Gene: trecho de um cromossomo ligado a uma caracterstica do indivduo;
Funo de avaliao (fitness): trata-se da funo de custo no ambiente de
otimizao. Seu valor reproduz a aptido e define o quanto o indivduo apto a
sobreviver no meio em que vive.
Em todo processo de otimizao atravs de algoritmos genticos, seus
elementos (indivduos, genes e cromossomos) so manipulados atravs de
operadores. O AG desenvolvido neste trabalho para a otimizao dos sensores
bimorph utiliza operadores baseados nos processos naturais da gentica de seres
vivos: seleo, reproduo, mutao e elitismo.

Neste trabalho, pela simplicidade e capacidade de gerar bons, adotou-se uma
codificao binria (0 ou 1) dos indivduos.
3.2.1 OPERADOR DE SELEO
A seleo consiste na escolha de indivduos (pais), representados por seus
cromossomos, de acordo com seus valores da funo custo, pois esta traduz a
aptido de cada soluo (indivduos). Os indivduos mais aptos tero maiores
probabilidades de contriburem geneticamente para as geraes seguintes.
O operador de seleo pode ser entendido como uma verso artificial da
seleo natural das espcies de Darwin, onde os mais aptos tendem a permanecer e
os menos aptos tendem a desaparecer com o decorrer das geraes.
Em termos computacionais, a maneira mais comum de se programar a seleo
atravs da chamada roda de roleta (roulette wheel). Conceitualmente, este
mecanismo funciona como as rodas de roletas de cassinos. Os indivduos pais so
colocados na roda, para que esta, quando girada, pare em uma posio qualquer e
defina qual ser o pai escolhido (GOLDBERG, 1989). Na roda, a regio ocupada por
cada indivduo proporcional ao seu valor resultante da avaliao atravs da funo
de custo. Define-se assim, a probabilidade dos indivduos serem escolhidos como
pais para as prximas geraes (CAO e WU, 1999).
3.2.2 OPERADOR DE REPRODUO
A reproduo um dos principais operadores em um algoritmo gentico e
para tal utiliza-se o cruzamento (crossover). Ele o responsvel por transmitir aos
filhos caractersticas dos pais, uma vez que, divide os cromossomos dos pais, troca
parte deles e os recombina gerando novos cromossomos (filhos). A Figura 3.1 ilustra
o conceito deste operador.
0 1 1 0 1 1 1 1 0 1
Pais
0 1 1 1 0 1 0 0 0 1
Crossover
0 1 1 0 1 1 0 0 0 1
Filhos
0 1 1 1 0 1 1 1 0 1
Figura 3.1: Funcionamento do operador de reproduo (crossover)
A seleo dos pais feita atravs da roda de roleta, descrita anteriormente no
operador de seleo. Optou-se aqui por uma seleo aleatria do ponto de troca do
material gentico e at o presente momento, 5 pontos de troca podem ser
selecionados de acordo com o nmero de bimorphs: dois pontos de troca a cada
bimorph presente na otimizao.
3.2.3 OPERADOR DE MUTAO
A mutao responsvel pela diversificao da populao, permitindo que se
trabalhe com indivduos de reas distintas do domnio de solues, o que adiciona
robustez ao mtodo de otimizao. Atravs da mutao, pode-se tambm atenuar
uma possvel perda de material gentico valioso que tenha ocorrido no decorrer da
formao de novas geraes.
O funcionamento da mutao bem simples no caso de indivduos
(cromossomos) codificados binariamente: a partir de uma probabilidade de

ocorrncia de mutao um elemento do cromossomo escolhido aleatoriamente e
este trocado por zero (0) no caso de ser um (1) e vice versa (ver Figura 3.2).
Escolha aleatria
s/ mutao 0 1 1 1 0 1 1 1 0 1
c/ mutao 0 1 1 0 0 1 1 1 0 1
Figura 3.2: Funcionamento do operador de mutao
3.2.4 OPERADOR DE ELITISMO
O operador de elitismo foi includo, pois com a evoluo das geraes, bons
indivduos pais podem gerar filhos piores que eles mesmos. Desta maneira, a nova
gerao pode deixar de herdar boas caractersticas. Pela simples gerao de filhos
atravs dos operadores descritos anteriormente, no se pode garantir que os
melhores indivduos permaneam nas geraes futuras.
Por sua vez, o operador de elitismo tem por funo manter os melhores
indivduos ao longo da evoluo das geraes e, assim, melhorar o desempenho do
algoritmo gentico (DE JONG, 1975).
3.3 FUNCIONAMENTO DO ALGORITMO GENTICO
O funcionamento do AG proposto neste trabalho parte de uma populao
inicial de solues do problema, as quais so codificadas em cromossomos. O
processo continua baseado em operaes probabilsticas que lembram as etapas
tpicas da seleo, reproduo e por sua vez, evoluo dos seres vivos. Cruzamentos
entre indivduos (pais) na gerao de novos indivduos (filhos) correspondem a um

procedimento intrnseco da evoluo. Como resultado, os filhos possuem em seus
cromossomos as caractersticas genticas de seus pais, que sero transmitidas para as
futuras geraes, representadas aqui por iteraes na busca pela soluo tima
global. Na concepo dos filhos, tem-se ainda a importante presena do operador de
mutao, responsvel pela alterao dos genes do indivduo.
No decorrer das geraes (iteraes), os indivduos mais aptos sobrevivem, ou
seja, as melhores solues permanecem na populao, enquanto que os menos aptos
so descartados. A Figura 3.3 ilustra a seqncia do AG.
Populao inicial
Avaliao Critrio de parada sim Melhor indivduo
no
Seleo
Gerao+1 Reproduo
Gentica =
Mutao
Elitismo
Figura 3.3: Diagrama de blocos do AG
Como visto anteriormente, a gentica responsvel pela seleo, reproduo,
mutao e elitismo dos indivduos da populao
A cada nova gerao (processo evolutivo), uma nova populao corresponde a
uma busca no domnio das possveis solues. O AG pertence a uma categoria de
mtodos de busca que consegue um balano necessrio entre dois objetivos

aparentemente dispares: i) obter as melhores solues e ii) explorar o espao de
busca.
3.4 O AG NA OTIMIZAO (ESTRUTURAS DO TIPO VIGA)
A Figura 3.4 ilustra os parmetros utilizados no algoritmo gentico aplicado a
estruturas do tipo viga: n bimorphs posicionados em xb1 a xbn e dimenses sb1 a sbn ,
respectivamente, podem ser dispostos ao longo da viga ( x = 0 na regio de engaste).
Fixado o nmero de bimorphs que se deseja para a anlise, o algoritmo
gentico tem por objetivo determinar as posies e dimenses que representam um
indivduo com a melhor aptido possvel.
De acordo com os mtodos de aproximao vistos, quanto maior o nmero de
bimorphs, maior o grau do polinmio na aproximao polinomial e maior o
nmero de modos utilizados na aproximao por formas modais.
xbn
xb 2
xb1 sb1 sb 2 sbn
L
L
x
Figura 3.4: Parmetros de otimizao em estruturas do tipo viga
3.4.1 CODIFICAO DAS VARIVEIS
A codificao destas variveis pode ser feita de inmeras maneiras, sendo que
a mais comum delas a representao atravs de uma base binria (GOLDBERG,
1989). Para este padro de codificao, cada parmetro traduzido com um nmero
binrio e disposto seqencialmente ao longo do cromossomo.
No caso deste algoritmo gentico em especfico, um cromossomo composto
pela seqncia dos valores relativos ao tamanho do transdutor e posio do mesmo
na viga. Cada um desses valores (genes) includo nos cromossomos como valores
binrios.
Experimentalmente, entende-se que a preciso de corte da pastilha piezeltrica
e a unidade de posicionamento ao longo da viga no devam ser inferiores a 1mm.
Sendo assim, o valor do tamanho de cada bimorph foi codificado com 6 dgitos e o
valor da posio com 8 dgitos, totalizando um cromossomo de 14 dgitos por
bimorph. Logo, o tamanho final do cromossomo dado por 14n dgitos.
A Figura 3.5 apresenta uma ilustrao de como os genes so organizados ao
longo do cromossomo para um indivduo arbitrrio.
n bimorphs
1 0 0 1 1 0 1 1 0 0 0 1 1 1 L 0 0 1 1 0 1 0 1 1 1 0 0 0 0
sb1 xb1 sbn xbn

Figura 3.5: Codificao utilizada na montagem dos cromossomos
Desta forma, explica-se o motivo do nmero de bimorphs no fazer parte do
processo de otimizao, pois, se cada indivduo representasse um nmero de

bimorphs distinto dentro de uma mesma populao, ocorreria durante as operaes
genticas troca de material gentico entre cromossomos de tamanhos diferentes.
Para operar com os cromossomos durante as fases de avaliao do AG,
preciso decodificar os seus respectivos valores binrios em grandezas fsicas que
correspondam aos intervalos de funcionamento dos parmetros de otimizao.
Dentro desta metodologia, possvel estabelecer uma regra matemtica que
decodifique cada parmetro em termos de valores reais (GOLDBERG, 1989). Logo,
tem-se que:
Vtamanho =
(68 5) * D
tamanho + 5 = 1 * Dtamanho + 5
63
(3.1)
=
(500 15) * D
V posio posio + 15 = 1,9 * D posio + 15
255
onde Dtamanho e D posio so os valores dos genes binrios convertidos para a base
decimal.
Os valores entre parnteses na Eq. (3.1) representam os intervalos de valores
admissveis para o problema, ou seja, no caso do tamanho do sensor um intervalo de
5 a 68mm com uma variao de 1mm e no caso da posio, um intervalo de 15 a
500mm e um passo de aproximadamente 2mm.
3.4.2 FUNO DE AVALIAO
A avaliao de cada indivduo durante o processo de otimizao com o AG
dada atravs do clculo da funo de avaliao (fitness). Esta funo deve ser
definida visando privilegiar os indivduos de uma populao que tenham
caractersticas desejveis sobre os outros. Nela devem estar presentes as variveis que
resultam dos modelos matemticos utilizados na avaliao. Em alguns casos, pode
ser necessria tambm a criao de restries de operao ou penalidades, para
adequao aos modelos ou s condies de contorno do problema em estudo.
Buscou-se utilizar uma funo de fitness que traduzisse a diferena (erro) entre
a funo de resposta em freqncia angular obtida atravs do sensor bimorph em
comparao FRFA oriunda do modelo em elementos.
Dois mtodos so comumente referenciados na literatura ao se efetuar a
comparao entre duas curvas: o mtodo da rea e o mtodo do desvio (CHEN; WEI,
1984). Para o mtodo da rea, a diferena entre duas curvas expressa pela
distncia mdia entre elas, porm, nenhuma informao a respeito da similaridade
entre as formas considerada. No segundo mtodo, o valor do desvio expressa a
similaridade das formas, ao passo que a distncia negligenciada. Desta forma,
atribuindo-se caractersticas de ambos os mtodos, um termo global (erro), onde a
distncia e a diferena de forma devem ser as mnimas possveis pode ser escrito da
seguinte maneira:
D ( Di D )2
12
+
i
erro = (3.2)
N N 1
onde Di = RFRFi bimorph RFRFi fem , D = ( D ) N

i e N representa o nmero de
pontos calculados no domnio da freqncia e RFRF as funes de resposta em
freqncia angulares.
Logo, cada indivduo (cromossomo) da populao ser avaliado de acordo
com a traduo de seus genes (dimenses e posies dos bimorphs ao longo da

estrutura) e em curvas de funes de resposta em freqncia angulares, utilizadas no
clculo da funo de fitness.

CAPTULO
QUATRO
4. RESULTADOS
Neste captulo apresentam-se os resultados numricos e experimentais da
utilizao de sensores bimorphs na determinao de funes de resposta em
freqncia angulares (FRFAs), um estudo a cerca dos mtodos de aproximao vistos
anteriormente e a avaliao de parmetros que afetam diretamente o desempenho
do AG no caso de estruturas do tipo viga. Para a estrutura do tipo placa, apresentam-
se os resultados numricos, bem como, uma avaliao do mtodo de aproximao
proposto.
4.1 ESTRUTURAS DO TIPO VIGA
Como visto anteriormente, possvel aproximar a rotao em um ponto
qualquer x out utilizando-se um ou vrios sensores bimorphs. Para tal, um programa
denominado de bimorph foi elaborado em conjunto ao toolbox HDBT desenvolvido
pelo Prof. Dr. Marcelo Areias Trindade em ambiente Matlab.
A Figura 4.1 traduz no formato de diagrama de blocos as etapas envolvidas
no procedimento de clculo que compe o conjunto de funes desenvolvidas. O
programa pode ser resumido da seguinte forma: os dados de entrada (propriedades
fsicas dos materiais e parmetros de configurao), contidos em um arquivo de
entrada, so lidos e analisados pelo programa. Aps a leitura deste arquivo, o
programa se encarrega de gerar a malha em elementos finitos automaticamente de

Resultados 110
acordo com a dimenso mnima adotada para os elementos e a calcular a resposta
no tempo do bimorph para uma dada excitao.
Entrada Elementos Finitos* Espao de Estado*

(properties.txt) (fe_ndelt) (fe_ss)
Voltagens Excitao Anlise Modal*

(respostas do bimorph) (impulse) (fe_modal)
Aproximao Sistema FRFA

(poly ou modes) (sys=A\B) (rotation)
* Rotinas de clculo do toolbox do Prof. Dr. Marcelo A. Trindade
Figura 4.1. Diagrama de blocos do toolbox
Estas respostas so traduzidas em termos da variao no tempo da voltagem
medida em cada bimorph. Por fim, atravs dos mtodos de aproximao vistos
(polinomial e formas modais), o programa estima as FRFs angulares para um
determinado ponto da estrutura.
A Figura 4.2 ilustra as respostas no tempo em termos de voltagem de cada
pastilha piezeltrica, assim como, a diferena entre as tenses fornecidas pelo sensor
para uma entrada do tipo impacto na extremidade livre da viga.
A partir da resoluo do sistema de equaes (2.33) ou (2.38) torna-se
possvel obter o deslocamento transversal e a rotao para cada instante de tempo,
de acordo com o modelo de aproximao adotado. Por fim, a determinao da
correspondente FRFA ocorre com a transformao da resposta temporal da rotao e
da excitao a qual a estrutura foi submetida para o domnio da freqncia atravs
da transformada de Fourier.
Resultados 111
80
Voltagem V1
60
Voltagem V2
V1-V2
40
20
Amplitude [Volts]
-20
-40
-60
-80
0.0 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0
Tempo [s]
Figura 4.2: Resposta no tempo de cada pastilha cermica de um bimorph e a voltagem

resultante a ser medida
Para todas as avaliaes aqui apresentadas, considerou-se uma viga em
alumnio ( E = 69,9GPa e = 2400 kg m 3 ) de dimenses 500 25 3mm 3 na condio
cantilever e cuja excitao ocorre na extremidade oposta regio de engaste (ver
Figura 4.3).
xbn
xb 2
xb1 sb1 sb 2 sbn Resposta
L
xout Excitao
L
Figura 4.3. Configurao numrica adotada nas simulaes
Como excitao para a estrutura, considerou-se sempre uma entrada do tipo
impulsiva de valor unitrio.

Resultados 112
Para o bimorph, fez-se uso de pastilhas piezeltricas do tipo PZT-5H cujas
propriedades fsicas so, respectivamente, c11 = 65,5GPa , = 7500 kg m 3 ,
e31 = 23,2 C m 2 e 33 = 1,54 10 8 F m .
4.1.1 AVALIAO DOS MTODOS DE APROXIMAO
Como visto anteriormente, dois mtodos de aproximao no estudo de
estruturas do tipo viga foram propostos: polinomial e formas modais. No caso da
aproximao polinomial, a ordem do polinmio que aproxima a rotao igual
n + 2 , enquanto que se utiliza para a aproximao por formas modais n + 2 modos
de vibrar traduzidos por polinmios de ordem p 1 , onde n o nmero de bimorphs
presentes.
importante avaliar cada mtodo de aproximao de maneira que seja
possvel explicitar o melhor, tendo em vista o processo de otimizao. Para tal,
inicialmente, fez-se uma varredura da viga e do posicionamento de um nico
bimorph. A Figura 4.4 ilustra no formato de superfcies a sensibilidade dos resultados
em termos da variao do erro, Eq. (3.2), em termos da mudana de posio e
tamanho do sensor bimorph para um ponto de leitura da resposta estrutural
posicionado em 50mm. Nota-se que a diferena nos resultados para os dois mtodos
sutil quando se analisa as superfcies. Desta forma, apresenta-se na Figura 4.5 uma
seco da Figura 4.4 no intuito de comparar os dois mtodos para o caso de um
sensor com dimenso igual a 30mm.

Resultados 113
55
50
60 45
40
40
35
Erro
20 30
25
0 20
60
50 15
500
40 10
400
30 300
5
200
20
100
sb [mm] 10 0 xb [mm]
a) Aproximao polinomial
50
45
60
40
40 35
Erro
30
20
25
0 20
60
15
50
500 10
40
400
30 300 5
200
20
100
b) Aproximao por formas modais
Figura 4.4: Variao do erro para n = 1 e xout = 50 mm

Resultados 114
Observa-se que inicialmente ambas as aproximaes apresentam resultados
bem prximos, com ligeira vantagem em termos da aproximao polinomial. Com o
incremento na posio do bimorph a caminho da extremidade livre da viga, ocorre
um maior distanciamento entre as curvas, de tal forma que a partir da posio
xb L 2 , ocorre uma inverso, de tal maneira que a aproximao por formas
modais passa a reproduzir resultados melhores. O mesmo ocorre para outras
dimenses do bimorph.
50
Formas modais
45 Polinomial
40
35
30
Erro
25
20
15
10 Polinomial
Erro=8.5644
5
50 100 150 200 250 300 350 400 450 500
Posio do bimorph: x b
[mm]
Figura 4.5. Variao do erro para s b = 30 mm e xout = 50 mm
O mesmo estudo feito para outro ponto de estimativa da rotao, agora a
250mm do engaste (ver Figura 4.6). Nota-se novamente ao analisar as superfcies,
uma ligeira diferena entre os resultados.
Na Figura 4.7, no entanto, a seco em s b = 30 mm revela que no ocorre
uma inverso entre o menor erro dentro da comparao entre os dois mtodos. Isso
notado para todos os pontos de estimativa da rotao acima de 1 3 L .

Resultados 115
70
80 60
60
50
Erro
40
40
20
30
0
60
50 20
500
40
400
30 300 10
200
20
100
70
60
80
60 50
Erro
40
40
20
30
0
60
20
50
500
40
400
10
30 300
200
20
100
Figura 4.6: Variao do erro para n = 1 e xout = 250 mm

Resultados 116
70
65 Formas modais
60 Polinomial
55
50
45
40
Erro
35
30
25
20
15
Polinomial
10 Erro=11.0708
5
50 100 150 200 250 300 350 400 450 500
Posio do bimorph: x b
[mm]
A Figura 4.8 apresenta o mesmo levantamento do erro, no entanto,
considerando agora 3 bimorphs. Os dois primeiros bimorphs tm suas posies
fixadas, respectivamente, em: xb1 = 20 mm, xb 2 = 50 mm e dimenses idnticas
( s b1, 2 = 10 mm). Logo, somente ao terceiro bimorph permitida a variao de posio
e tamanho.
No caso de trs bimorphs, os resultados so apresentados na faixa de 100
500mm, pois esta foi a faixa adotada para avaliao do posicionamento do terceiro
bimorph. Nota-se ao analisar os resultados, um comportamento distinto em relao a
um nico bimorph.
Na Figura 4.9 possvel avaliar a distribuio dos valores de acordo com o
mtodo e o posicionamento para um bimorph de tamanho igual a 30mm. Na mdia
dos resultados, a incluso de mais bimorphs propicia uma reduo no valor do erro.
Caba ainda salientar que se trate de um caso no otimizado. Na otimizao, se
permite que tanto o tamanho como as posies dos trs bimorphs variem.
Resultados 117
80 60
60
50
40
Erro
40
20
0 30
60
50
20
40
30 10
20 500
400
sb [mm] 300
10 200
100
xb [mm]
60 55
50
40 45
Erro
40
20
35
30
0
60 25
50 20
40 15
30 10
20 500 5
400
sb [mm] 300
10 200
100
xb [mm]
Figura 4.8: Variao do erro para n = 3

Resultados 118
40 Formas modais
Polinomial
35
30
Formas modais
25 Erro=10.3726
Erro
20
15
10
50 100 150 200 250 300 350 400 450 500

Posio do bimorph: x b3
[mm]
Decorrente destas anlises, passou a se considerar o clculo com ambas as
aproximaes no programa de otimizao. O processo todo se tornou mais oneroso
em termos computacionais, porm, ainda assim, h um consumo menor de tempo ao
se compar-lo com a execuo de duas anlises distintas, uma para cada
aproximao em separado. Alm disso, o ganho final em termos da determinao da
soluo tima foi grande ao se permitir a escolha entre os mtodos de aproximao.
4.1.2 COMPARAO ENTRE MODOS NO CORRIGIDOS E MODOS CORRIGIDOS
Uma considerao importante deve ser feita ao se utilizar a aproximao por
formas modais: a presena do sensor ao longo da viga. A Figura 4.10 compara os
cinco primeiros modos de vibrar oriundos de dois modelos de viga em elementos
finitos: o primeiro retrata apenas a viga (modo no corrigido) e o segundo, quando
um nico sensor bimorph est presente (modo corrigido) 50mm do engaste
( xb = 50mm ). Nesta comparao, avalia-se ainda a importncia da dimenso do

Resultados 119
sensor ao se comparar dois valores distintos: s b = 10mm (coluna da esquerda) e
s b = 50mm (coluna da direita).
1.0 1.0
Corrigido Corrigido
No corrigido No corrigido
0.8 0.8
Amplitude normalizada
0.6 0.6
0.4 0.4
0.2 0.2
0.0 0.0
0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500 0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500
Dimenso da viga [mm] Dimenso da viga [mm]
a) b)
1.0 1.0
0.8 0.8
0.6 0.6
0.4 0.4
0.2 0.2
0.0 0.0
-0.2 -0.2
-0.4 -0.4
-0.6 -0.6
Corrigido Corrigido
-0.8 -0.8
-1.0 -1.0
0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500 0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500
c) d)
1.0 1.0
0.8 0.8
0.6 0.6
0.4 0.4
0.2 0.2
0.0 0.0
-0.2 -0.2
-0.4 -0.4
-0.6 -0.6
Corrigido Corrigido
-0.8 -0.8
-1.0 -1.0
0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500 0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500
e) f)
Resultados 120
1.0 1.0
0.8 0.8
0.6 0.6
0.4 0.4
0.2 0.2
0.0 0.0
-0.2 -0.2
-0.4 -0.4
-0.6 -0.6
Corrigido Corrigido
-0.8 -0.8
-1.0 -1.0
0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500 0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500
g) h)
1.0 1.0
0.8 0.8
0.6 0.6
0.4 0.4
0.2 0.2
0.0 0.0
-0.2 -0.2
-0.4 -0.4
-0.6 -0.6
-0.8 Corrigido -0.8 Corrigido

-1.0 -1.0
0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500 0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500
i) j)
Figura 4.10: Comparao entre os 5 primeiros modos de vibrar (no corrigidos e corrigidos)
no caso de 1 sensor bimorph
Nota-se que para um nico bimorph cuja dimenso pode ser considerada
pequena ( s b = 10mm ), as diferenas entre os modos de vibrar so discretas. No
entanto, o mesmo no pode ser dito para dimenses considerveis como para um
sensor de 50mm de comprimento.
Logo, quanto maior a dimenso do sensor e quanto mais alto for o modo de
vibrar, maiores sero as diferenas. Isso ocorre com os modos mais altos devido ao
respectivo comprimento de onda destes modos serem menores, como tambm,
rigidez local que o bimorph impe a estrutura. Porm, este efeito de correo no
Resultados 121
altera significativamente o resultado final na estimativa da FRFA no caso de um nico
bimorph, pois apenas os 3 primeiros modos ( m = n + 2 ) sero utilizados na
aproximao por formas modais.
No entanto, o efeito evidenciado quando da presena de 2 ou mais
bimorphs. A Figura 4.11 ilustra as diferenas no caso de 3 bimorphs posicionados em
xb1 = 50mm , xb 2 = 250mm e xb 3 = 350mm e dimenses s1, 2,3 = 50mm .
1.0 1.0
Corrigido 0.8
No corrigido
0.8 0.6
0.4
0.6 0.2
0.0
0.4 -0.2
-0.4
0.2 -0.6
Corrigido
-0.8
No corrigido
0.0 -1.0
0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500 0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500
a) b)
1.0 1.0
0.8 0.8
0.6 0.6
0.4 0.4
0.2 0.2
0.0 0.0
-0.2 -0.2
-0.4 -0.4
-0.6 -0.6
Corrigido Corrigido
-0.8 -0.8
-1.0 -1.0
0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500 0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500
c) d)
Resultados 122
1.0
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
-0.2
-0.4
-0.6
Corrigido
-0.8
No corrigido
-1.0
0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500
Dimenso da viga [mm]
e)
Figura 4.11: Comparao entre os 5 primeiros modos de vibrar (no corrigidos e
corrigidos) no caso de 3 sensores bimorphs
Esta correo importante na estimativa das funes de resposta em
freqncia angulares (FRFA) para 2 ou mais bimorphs ( n 2 ), pois o nmero de
modos utilizados igual ou superior a 4 modos de vibrar e a importncia na
estimativa da FRFA considervel (ver Figura 4.12).
Figura 4.12: Efeito da utilizao de modos elsticos para n = 3

Resultados 123
Nota-se uma substancial diferena entre os resultados. Com a utilizao de 3
bimorphs ( n = 3 ), 5 modos de vibrar so utilizados de acordo com o modelo de
aproximao por formas modais. Conseqentemente, devido aos modos de vibrar
mais altos terem suas formas significativamente alteradas, as funes de resposta em
freqncia angulares (FRFA) estimadas nestes casos tambm so de fato influenciadas
se os modos de vibrar no forem corrigidos.
4.1.3 AVALIAO DOS PARMETROS DE DESEMPENHO DO AG
Alm da forma como o cromossomo codificado e da definio do fitness
(erro) escolhidos, existem vrios parmetros dentro de um algoritmo gentico que
podem ser escolhidos para melhorar o seu desempenho, adaptando-o s
caractersticas particulares de determinadas classes de problemas. Entre eles os mais
importantes so: o tamanho da populao, o nmero de geraes, a probabilidade
de crossover e a probabilidade de mutao. A influncia de cada parmetro no
desempenho do algoritmo depende da classe de problemas em estudo. Assim, a
determinao de um conjunto de valores otimizado para estes parmetros depender
da realizao de experimentos e testes.
Dentro da literatura voltada a algoritmos genticos, os valores encontrados
esto na faixa de 60 a 65% para a probabilidade de crossover e entre 0,1 e 5% para
a probabilidade de mutao. O tamanho da populao e o nmero de geraes
dependem da complexidade do problema de otimizao e devem ser determinados
experimentalmente. No entanto, deve ser observado que o tamanho da populao e
o nmero de geraes definem diretamente o tamanho do espao de busca a ser
coberto. Existem estudos que utilizam um AG como mtodo de otimizao para a

Resultados 124
escolha dos parmetros de outro AG, devido importncia da escolha correta destes
parmetros (MITCHELL, 1996).
O primeiro parmetro de desempenho avaliado para o AG desenvolvido neste
trabalho corresponde probabilidade de ocorrncia de crossover, ou seja, a
probabilidade na qual o cruzamento pode ser realizado. Quando a probabilidade de
cruzamento igual a 1 (100%) toda a descendncia produzida por cruzamento.
Porm, quando a probabilidade nula (0%), a nova gerao constitui-se pela cpia
exata dos cromossomos da populao antiga.
O grfico da Figura 4.13 foi construdo a partir da realizao de uma mdia
entre 10 execues do AG para cada conjunto de valores para uma populao pr-
estabelecida contendo 50 indivduos: probabilidade de crossover de 0 a 100% (em
incrementos de 5%), o nmero de bimorphs entre 1 e 3 e os pontos de resposta da
estrutura de 50mm a 500mm (em incrementos de 50mm).
21
20
19
18
Erro
17
16
15
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
Probabilidade de crossover [%]
Figura 4.13: Avaliao da probabilidade de crossover

Resultados 125
Nota-se a partir dos resultados, que a probabilidade de ocorrncia de 95% de
crossover produz o menor erro na estimativa das FRFAs, na mdia das 10 execues
entre as trs quantidades de bimorphs avaliada.
O segundo parmetro de desempenho avaliado para o AG corresponde
probabilidade de ocorrncia de mutao, ou seja, com qual freqncia os
cromossomos sofrero alterao. Se no houver mutao, a descendncia gerada
imediatamente aps o cruzamento no sofre nenhuma alterao. Neste trabalho,
optou-se pela alterao do cromossomo em um nico ponto no caso de ocorrncia
de mutao.
Semelhante ao que foi feito na determinao da probabilidade de crossover, o
grfico da Figura 4.14 foi elaborado a partir de uma mdia entre 10 execues do
AG para uma populao com 50 indivduos com a seguinte variao de parmetros:
probabilidade de mutao de 0 a 5% (em incrementos de 1%); nmero de bimorphs
entre 1 e 3; pontos de resposta estrutural entre 50mm e 500mm (em incrementos de
50mm) e uma probabilidade de crossover de 95%.
24
22
20
18
Erro
16
14
12
10
0 1 2 3 4 5
Probabilidade de mutao [%]
Figura 4.14: Avaliao da probabilidade de mutao

Resultados 126
Nota-se que com a probabilidade de ocorrncia de mutao igual a 4%
obtm-se o menor erro mdio na estimativa das FRFAs.
Outro fator importante no desempenho do AG o tamanho da populao, ou
seja, quantos cromossomos existem em uma gerao. Se houver poucos
cromossomos, o AG ter poucas possibilidades de realizar cruzamentos e somente
uma pequena parte do espao de solues ser explorada. Por outro lado, se houver
muitos indivduos em uma populao, o AG tornar-se- extremamente lento.
Pesquisas mostram que aps determinado limite (que depende principalmente da
codificao e do problema), no conveniente aumentar a populao porque isso
no resolve o problema mais rapidamente se comparado a tamanhos moderados de
populao (MITCHELL, 1996).
A Figura 4.15 apresenta o tempo mdio de execuo do AG em funo do
nmero de bimorphs e do tamanho da populao para um computador tipo desktop
equipado com um processador Pentium 4 de 3,2GHz (single core) e 1 GB de
memria 533MHz operando em dual channel.
Observa-se que ao mesmo passo que o tempo computacional mdio aumenta
com o tamanho da populao, o erro obtido como soluo tima decai. No entanto,
cabe ainda comentar sobre a figura a seguir, que o tempo apresentado referente
ao clculo forado do mesmo nmero de geraes (20) em todas as anlises. No
entanto, o AG pode interromper o processo em funo do critrio de parada de
acordo com o valor da soluo tima obtida.

Resultados 127
12 n=1
n=2
11 n=3
10
8
Erro
3
20 30 40 50 60 70 80 90 100
Tamanho da populao
a) Tamanho da populao versus erro
8000 n=1
n=2
7000 n=3
6000
5000
Tempo [s]
4000
3000
2000
1000
0
20 30 40 50 60 70 80 90 100
Tamanho da populao
b) Tamanho da populao versus tempo computacional
Figura 4.15: Consideraes a respeito do tamanho da populao
A Figura 4.16 ilustra a distribuio das possveis solues para a ltima
gerao de indivduos dentro dos limites aceitveis para dois tamanhos de
populao, 20 e 100, no caso de 3 bimorphs e xout = 150 mm.

Resultados 128
70
60
Tamanho [mm] 50
40
30
Bimorph 1
20 Bimorph 2
Bimorph 3
10
0
0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500
Posio [mm]
a) 20 indivduos por populao
70
60
50
Tamanho [mm]
40
30
20
10 Bimorph 1
Bimorph 2
0 Bimorph 3
0 50 100 150 200 250 300 350 400 450 500

Posio [mm]
b) 100 indivduos por populao
Figura 4.16: Distribuio dos indivduos no domnio das solues
Ao se considerar a relao resultado/tempo computacional, pode-se dizer que
grandes populaes nem sempre reproduzem as melhores condies. Logo, como
critrio de projeto, decidiu-se adotar neste AG uma populao com 50 indivduos,
por representar o caso mdio em termos do tempo computacional e do erro
alcanado nas solues timas.

Resultados 129
A Figura 4.17 ilustra, por fim, o ltimo parmetro de desempenho analisado:
o elitismo. Como dito anteriormente, pela simples gerao de filhos atravs dos
operadores de seleo, reproduo (crossover) e mutao, no se pode garantir que
os melhores indivduos permaneam nas geraes futuras.
13 n=1
n=2
12 n=3
11
10
Erro
5
0% 5% 10% 20%
Porcentagem da populao
Figura 4.17: Avaliao da porcentagem de elitismo
O grfico da Figura 4.17 foi obtido a partir de uma mdia entre 10 execues
do AG para uma populao com 50 indivduos, probabilidade de mutao igual a
4%, pontos de resposta estrutural ( x out ) entre 50mm e 500mm (em incrementos de
50mm) e uma probabilidade de crossover de 95%. Logo, com 5% de indivduos
destinados ao elitismo a mdia das solues timas apresenta a menor faixa de
valores entre 1 e 3 bimorphs, sendo esta a porcentagem de elitismo adotada.

Resultados 130
4.1.4 ESTIMATIVA DAS FRFAS
A Figura 4.18 ilustra os valores de fitness atingidos em cada soluo tima de
acordo com o nmero de bimorphs ( n ) utilizados na aproximao e o ponto de
medio da resposta estrutural ( x out ) ao longo do comprimento da viga.
12
11 n=1
10 n=2
9 n=3
8
7
6
Erro
5
4
3
2
1
0
50 100 150 200 250 300 350 400 450 500
Posio de resposta da estrutura: x out
[mm]
Figura 4.18: Solues timas atingidas
As figuras 4.18 e 4.28 ilustram os resultados timos e a evoluo do fitness de
acordo com as geraes. Apresentam-se tambm os valores referentes s posies
( x b ) e dimenses ( s b ) timas dos respectivos sensores.
Os resultados mostram uma boa correlao entre o mtodo dos elementos
finitos, o qual possui inerente a sua formulao graus de liberdade referentes
rotao e o sensor bimorph desenvolvido e otimizado neste trabalho.

Resultados 131
n = 3 : xb1 = 10mm , xb 2 = 378mm , xb 3 = 432mm e s b1 = 30mm , s b 2 = 38mm e

s b 3 = 42mm
Figura 4.19: Evoluo dos indivduos e FRFA para xout = 50mm
Resultados 132

s b 3 = 45mm
Resultados 133

s b 3 = 42mm
Resultados 134
n = 2 : xb1 = 28mm , xb 2 = 96mm e s b1 = 38mm , s b 2 = 24mm

Resultados 135

s b 3 = 60mm
Figura 4.23. Evoluo dos indivduos e FRFA para xout = 250mm
Resultados 136
n = 2 : xb1 = 8mm , xb 2 = 116mm e s b1 = 27mm , s b 2 = 56mm
Figura 4.24. Evoluo dos indivduos e FRFA para xout = 300mm

Resultados 137
n = 3 : xb1 = 30mm , xb 2 = 134mm , xb 3 = 190mm e s b1 = 17 mm , s b 2 = 29mm e

s b 3 = 64mm
Figura 4.25. Evoluo dos indivduos e FRFA para xout = 350m
Resultados 138

s b 3 = 34mm
Resultados 139
n = 1 : xb1 = 8mm e s b1 = 51mm

Resultados 140
n = 1 : xb1 = 20mm e s b1 = 61mm

Resultados 141
4.1.5 RESULTADOS EXPERIMENTAIS
Apresenta-se a seguir os resultados experimentais na determinao de FRFs
angulares para estruturas do tipo viga atravs da utilizao de sensores bimorphs.
Uma das dificuldades encontradas nesta etapa deveu-se a aquisio de
pastilhas cermicas de tamanhos satisfatrios para o corte e montagem dos bimorphs
de acordo com os resultados oriundos do procedimento evolutivo por algoritmos
genticos.
Optou-se pela construo de dois bimorphs de dimenso s b = 25 mm (625mm2
cada pastilha piezeltrica), respeitando a condio de que cada sensor tivesse a
mesma largura da viga (25mm). A partir de uma placa de dimenses 60mm 60mm
de PZT-5H, gentilmente cedida pelo Prof. Dr. Marcelo Areias Trindade, foi possvel
ento construir os dois sensores, bem como, realizar testes de montagem com as
sobras de materiais aps o corte.
4.1.5.1 MONTAGEM DOS SENSORES BIMORPH
A seguir, descrevem-se os procedimentos empregados no corte, colagem e
montagem dos contatos e de cada bimorph.
O primeiro passo foi realizar o corte da pastilha de PZT-5H em quatro
pastilhas de 25mm 25mm . Observa-se na Figura 4.29 que as linhas de corte foram
demarcadas com 1mm a mais em cada dimenso. Isso se deve ao tamanho do disco
de corte disponvel no laboratrio do Grupo de Cermicas Ferroeltricas
Departamento de Fsica Universidade Federal de So Carlos (UFSCar), que tambm
gentilmente cedeu o equipamento para o corte da pastilha cermica.

Resultados 142
As marcas no formato de X indicam o sentido de polarizao de cada
pastilha, sentido este, muito importante na montagem dos bimorphs.
PZT-5H
X X X
26
Sentido da polarizao
Linha de corte
60
X X
26
X X X
8
26 26 8
60
a) Linhas de corte da pastilha
b) Corte da pastilha c) Remoo das pastilhas por ultra-som
Figura 4.29: Dimenses da pastilha cermica piezeltrica (PZT-5H) e procedimento de

corte e remoo das pastilhas do suporte de fixao
As dimenses requeridas foram finalmente atingidas atravs do lixamento de
cada aresta das pastilhas com lixas 400, 200 e 100, respectivamente.
Para realizar a colagem das pastilhas cermicas foram seguidos alguns
procedimentos bsicos como a limpeza mecnica das superfcies para a retirada de
resduos slidos e poeira e a limpeza qumica (lcool isoproplico) para a retirada de
graxas, gorduras e leos.

Resultados 143
Como a montagem dos bimorphs segue a configurao em paralelo (Figura
2.3a), um cuidado especial foi tomado com relao aos contatos eltricos. Para tal,
foram escolhidas lminas de cobre com espessuras inferiores a 0,25mm. Estas
lminas foram coladas s camadas de eletrodos das pastilhas cermicas atravs de
uma tinta condutiva adesiva utilizada na reconstruo de trilhas de circuitos
impressos. Os fios utilizados so esmaltados e possuem aplicao comum em
medies com strain-gages.
Figura 4.30: Materiais utilizados na confeco dos bimorphs
Para a colagem entre as duas camadas foi utilizada uma cola do tipo
cianoacrilato Loctite Super Bonder Preciso (tubo de 5g). Para garantir o contato
entre a pastilha inferior e a superior, distribuiu-se uma camada de tinta condutiva
adesiva sobre o condutor de cobre (lmina).
Aps espalhar uma fina camada sobre o topo da pastilha inferior, deixando de
cobrir apenas a regio com a tira de cobre coberta pela tinta condutiva adesiva, a
pastilha superior foi posicionada sobre a inferior e ento logo pressionada.

Resultados 144
Ensaios mecnicos para assegurar a eficincia da colagem, bem como, a
utilizao da folha de cobre, foram realizados com os retalhos das cermicas
piezeltricas em estruturas testes. Aps diversos ciclos de excitao, a cola e a folha
de cobre mostraram-se aptas na construo dos sensores bimorphs.
A Figura 4.31 ilustra um dos sensores bimorphs finalizado. No contato superior
foi posto um pingo de cola para assegurar que o mesmo no se soltasse, bem como,
no contato inferior, o mesmo foi recoberto com cola para evitar qualquer contato
eltrico entre a viga e o bimorph.
Figura 4.31: Sensor bimorph confeccionado
Para colagem dos bimorphs sobre a viga foram seguidos os mesmos
procedimentos de limpeza e colagem. Alm disso, demarcou-se o permetro de cada
sensor na superfcie da viga. A Figura 4.32 ilustra a viga e os respectivos sensores

Resultados 145
bimorphs B1 e B2 aps todo o procedimento de montagem e engaste da
estrutura.
Figura 4.32: Sensores bimorphs posicionados sobre a viga
A escolha do posicionamento dos dois bimorphs foi obtida de acordo com o
mesmo algoritmo gentico visto anteriormente. No entanto, a otimizao das
dimenses no foi adotada em vista da limitao fsica durante a construo. Buscou-

Resultados 146
se encontrar um posicionamento que resultasse em boas estimativas para alguns
pontos de leitura da resposta da estrutura. O resultado encontrado foi: xb1 = 42mm e
xb 2 = 124mm para os respectivos pontos de estimativa da rotao: 150, 200 e
300mm.
Aps a colagem, fitas adesivas foram utilizadas para assegurar que os fios no
vibrassem proporcionando uma possvel fadiga e rompimento das folhas de cobre.
4.1.5.2 FUNES DE RESPOSTA EM FREQUENCIA ANGULARES
O aparato experimental montado utilizou um analisador espectral Tectronix
modelo 2630, um martelo de impacto PCB, dois amplificadores PCB modelo
478A01, um acelermetro angular Kistler modelo 8840 (34 V rad s 2 ), uma fonte
de tenso/corrente eltrica ajustvel e dois cabos BNC modificados para a captura da
tenso eltrica resultante em cada bimorph (ver Figura 4.33).
Utilizou-se uma resoluo em freqncia de 0,2441Hz para um intervalo de
anlise de 0 1000Hz tomando-se 4096 pontos neste intervalo para uma mdia
entre 10 avaliaes. Os sinais foram tratados utilizando-se o software Origin 7,
assim como, o software Matlab 6.5.
Os resultados apresentados a seguir comparam, para cada ponto de
estimativa na estrutura ( xout ), as FRFs angulares do modelo em elementos finitos, da
estimativa numrica baseada na utilizao dos bimorphs, assim como, para o
acelermetro angular, cuja integrao numrica foi realizada atravs do software
Origin 7. Salienta-se, assim como efetuado nas simulaes numricas, que o ponto
de excitao fixo, est localizado na extremidade livre da viga e ocorre na direo z.

Resultados 147
Figura 4.33: Aparato experimental
As figuras 4.34 a 4.36 ilustram os resultados obtidos.
150 F
Figura 4.34: Resultado experimental: xout = 150mm

Resultados 148
200 F
300 F

Resultados 149
Observa-se, primeiramente, que os resultados experimentais concordam
satisfatoriamente com as estimativas numricas em todos os pontos investigados. No
entanto, em relao ao mtodo dos elementos finitos, os resultados divergem tendo
em vista que a otimizao ocorreu apenas para o posicionamento de dois sensores
bimorphs e para uma estimativa mdia entre os pontos selecionados.
Nota-se tambm uma divergncia dos resultados em comparao ao
acelermetro angular. Em particular, este sensor no apresenta acuracidade para
baixas freqncias, porm as freqncias de ressonncia foram bem estimadas.
Para a divergncia entre as freqncias de ressonncias explica-se o fato das
estimativas numricas acima no considerarem a presena do acelermetro angular.
Tal efeito pode ser corrigido ao se considerar uma camada adicional sobre a viga
equivalente ao acelermetro angular em termos da sua inrcia.
Figura 4.37: Correo da estimativa numrica ( xout = 150mm )

Resultados 150

Resultados 151
Nota-se que atravs da considerao da presena do acelermetro angular, os
resultados em termos das freqncias de ressonncia melhoraram bastante, assim
como, a proximidade entre os resultados numricos e experimentais. Tais resultados,
conseqentemente, validam a tcnica no caso de estruturas do tipo viga.
4.2 ESTRUTURAS DO TIPO PLACA
O modelo considerado nesta tese consiste de uma placa retangular de
alumnio simplesmente apoiada em todas as extremidades com espessura de 3mm
cujas dimenses nas direes x e y so, respectivamente, L x = 320 mm e
L y = 280 mm. Adotou-se ainda pastilhas cermicas piezeltricas quadradas do tipo
PZT-5H de espessura igual a h p = 0,5 mm e dimenso L px = L py = 25 mm.
z, w
y, v
L px
Ly
L py
yb
x, u
xb
Lx
Figura 4.40: Dimenses principais na modelagem da placa
As propriedades consideradas para o material da placa encontram-se
resumidas na Tabela 4.1.
Tabela 4.1. Propriedades do material da placa
(
E 10 9 Nm 2 ) (kg m 3 )
70 2700 0.3
Resultados 152
As propriedades para o material das pastilhas (PZT-5H) so as seguintes:
16,5 4,78 8,45 0 0 0 0 0 274

4,78 16,5 8,45 0 0 0 0 274
0
8,45 8,45 20,7 0 0 0 pm 2 0 0 593 pC
sE = ; d=
0 0 0 43,5 0 0 N 0 741 0 N
0 0 0 0 43,5 0 741 0 0

0 0 0 0 0 42,6 0 0 0
3130 0 0
T
= 0 3130 0
0
0 0 3400
onde 0 = 8,854 pFm 1 .
Como excitao para a estrutura, considerou-se sempre uma entrada do tipo
impulsiva de amplitude unitria no ponto (xin , y in ) = (200,25)mm .
4.2.1 AVALIAO DO MTODO DE APROXIMAO
Como visto anteriormente, um mtodo de aproximao para a determinao
do campo de deslocamentos e, conseqentemente, da curvatura em qualquer ponto
da placa foi proposto: a aproximao por formas modais. Estas formas modais, por
sua vez, so oriundas da aproximao pelo mtodo de Rayleigh-Ritz (RR).
Como visto anteriormente, para cada bimorph disposto sobre a placa, um
nico modo de vibrar, traduzido por funes trigonomtricas, ser utilizado para
aproximar o campo de deslocamentos w(x, y ) da placa. Dois casos foram estudados
no intuito de avaliar a capacidade da tcnica em estimar as FRFs angulares de
acordo com o nmero de sensores utilizados. No primeiro caso, 4 sensores bimorphs
( n = 4 ) foram dispostos sobre a placa (ver Figura 4.41).

Resultados 153
280 3 4
220
F
1 2
35
35
260
320
Figura 4.41: 4 bimorphs dispostos sobre a placa
O mtodo de Rayleigh-Ritz, por sua vez, possibilita a determinao das
freqncias naturais aproximadas, bem como, os respectivos modos de vibrar da
estrutura. Na Tabela 4.2 apresenta-se um comparativo entre as freqncias naturais
oriundas do modelo em elementos finitos e do mtodo de aproximao via Rayleigh-
Ritz.
Tabela 4.2. Comparao entre as freqncias naturais (n=4)
Rayleigh-Ritz Elem. Finitos (%)

1 493,29 514,09 4,05
2 1135,0 1176,0 3,49
3 1331,4 1380,9 3,58
4 1973,1 2010,3 1,85
5 2204,5 2274,9 3,09
6 2728,4 2824,5 3,40
7 3042,7 3068,5 0,84
8 3370,1 3407,9 1,11
9 3701,8 3832,2 3,40
10 4439,6 4443,2 0,08
Resultados 154
Da Tabela 4.2, observa-se uma boa aproximao para as freqncias pelo
mtodo de Rayleigh-Ritz.
O mesmo pode ser dito com relao aos modos de vibrar. Na Figura 4.42,
apresenta-se os 8 primeiros modos de vibrar estimados pelo mtodo de aproximao
via Rayleigh-Ritz e o modelo em elementos finitos. Observa-se que h tambm uma
boa correlao em relao aos modos de vibrar.
2
z
0.25
0.2
0.3
0.15
0.2
0.1
0.05 0.1
y 0 0 x
RR: 493,29Hz Ansys: 514,09Hz
0
z
0.25
0.2
0.3
0.15
0.2
0.1
0.05 0.1
y 0 0 x
RR: 1135,0Hz Ansys: 1176,0Hz

Resultados 155
0
z
0.25
0.2
0.3
0.15
0.2
0.1
0.05 0.1
y 0 0 x
RR: 1331,4Hz Ansys: 1380,9Hz
0
z
0.25
0.2
0.3
0.15
0.2
0.1
0.05 0.1
y 0 0 x
RR: 1973,1Hz Ansys: 2010,3Hz
0
z
0.25
0.2
0.3
0.15
0.2
0.1
0.05 0.1
y 0 0 x
RR: 2204,5Hz Ansys: 2274,9Hz

Resultados 156
0
z
0.25
0.2
0.3
0.15
0.2
0.1
0.05 0.1
y 0 0 x
RR: 2728,4Hz Ansys: 2824,5Hz
0
z
0.25
0.2
0.3
0.15
0.2
0.1
0.05 0.1
y 0 0 x
RR: 3042,7Hz Ansys: 3068,5Hz
0
z
0.25
0.2
0.3
0.15
0.2
0.1
0.05 0.1
y 0 0 x
RR: 3370,1Hz Ansys: 3407,9Hz
Figura 4.42: Modos de vibrar para placa com 4 bimorphs (Rayleigh-Ritz)

Resultados 157
O modelo em elementos finitos fornece ainda a resposta em termos da tenso
eltrica resultante em cada sensor bimorph no domnio da freqncia (ver Figura
4.43). Utilizou-se aqui um incremento de 0,5Hz no intervalo de 0 5000Hz para
construo das curvas.
50 40
Bimorph 1 Bimorph 2
20
Amplitude [Volt/N, dB]

0 0
20
50 40
60
100 80
100
150 120
0 1000 2000 3000 4000 5000 0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz] Frequncia [Hz]
40 50
Bimorph 3 Bimorph 4
20
0 0
20
40 50
60
80 100
100
120 150
0 1000 2000 3000 4000 5000 0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz] Frequncia [Hz]
Figura 4.43: Respostas no domnio da freqncia para cada bimorph (n=4)
Determinados os modos de vibrar e as respostas em termos da tenso eltrica
gerada em cada sensor bimorph, possvel atravs do mtodo de aproximao por
formas modais estimar as FRFs angulares para qualquer ponto da estrutura - ver Eq.
(2.69).
Sendo assim, quatro pontos distintos na placa foram escolhidos para a
avaliao da metodologia ao estimar as FRFs angulares. Ponto 1: (x1 , y1 ) = (200,25) ;
ponto 2: (x 2 , y 2 ) = (100,50 ) ; ponto 3: (x3 , y 3 ) = (220,250 ) e ponto 4: (x4 , y4 ) = (90,210 ) .

Resultados 158
As figuras 4.44 4.47 ilustram os resultados obtidos.
0
Bimorph
Elementos finitos
50
FRFA [rad/N, dB]
100
150
200
250
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
a) Rotao em x
40
60
80
100
FRFA [rad/N, dB]
120
140
160
180
200 Bimorph
Elementos finitos
220
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
b) Rotao em y
Figura 4.44: Estimativa da FRFA: ponto 1 (x=200,y=25) e n=4
Resultados 159
40
Bimorph
60 Elementos finitos
80
100
FRFA [rad/N, dB]
120
140
160
180
200
220
240
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
a) Rotao em x
40
Bimorph
80
100
FRFA [rad/N, dB]
120
140
160
180
200
220
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
b) Rotao em y
Resultados 160
0
Bimorph
Elementos finitos
50
FRFA [rad/N, dB]
100
150
200
250
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
a) Rotao em x
40
Bimorph
80
100
FRFA [rad/N, dB]
120
140
160
180
200
220
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
b) Rotao em y
Resultados 161
20
Bimorph
60
80
FRFA [rad/N, dB]
100
120
140
160
180
200
220
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
a) Rotao em x
40
Bimorph
Elementos finitos
60
80
FRFA [rad/N, dB]
100
120
140
160
180
200
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
b) Rotao em y
Resultados 162
Nota-se que os resultados obtidos no so satisfatrios, pois h uma grande
divergncia entre as FRFs angulares. Tal resultado pode ser explicado por uma falta
de investigao acerca de um posicionamento e dimensionamento otimizado dos
sensores. Alm disso, com 4 bimorphs, apenas 4 modos de vibrar so utilizados na
construo do campo de deslocamentos.
Em vista disso, uma nova configurao de sensores bimorphs foi proposta: 12
sensores bimorphs ( n = 12 ) dispostos sobre a placa de acordo com a configurao
ilustrada na Figura 4.48 (PAGANI JR; TRINDADE, 2007).
11 12
9 10
7 8
280
5 6
220
185
3 4
155
100
1 2
70
35
35
75
115
180
220
260
320
Figura 4.48: 4 bimorphs dispostos sobre a placa
Na Tabela 4.3 apresenta-se novamente um comparativo entre as freqncias
naturais oriundas de ambos os modelos: elementos finitos e Rayleigh-Ritz.
A Figura 4.49 apresenta os 8 primeiros modos de vibrar estimados pelo
modelo em elementos finitos. Os modos de vibrar estimados pelo mtodo de
Rayleigh-Ritz nesta configurao com 12 bimorphs so os mesmos vistos na Figura
4.42.
Resultados 163
Tabela 4.3. Comparao entre as freqncias naturais (n=12)
Rayleigh-Ritz Elem. Finitos (%)

1 493,29 490,28 -0,61
2 1135,0 1123,1 -1,06
3 1331,4 1324,3 -0,54
4 1973,1 1956,1 -0,87
5 2204,5 2228,3 1,07
6 2728,4 2778,0 1,79
7 3042,7 3017,7 -0,83
8 3370,1 3349,9 -0,60
9 3701,8 3724,2 0,60
10 4439,6 4415,5 -0,55
Da tabela acima, observa-se uma boa aproximao para as freqncias pelo
mtodo de Rayleigh-Ritz.
Resultados 164
Figura 4.49: Modos de vibrar para placa com 12 bimorphs (Elementos finitos)
As amplitudes em tenso lidas para cada sensor bimorph no domnio da
freqncia esto representadas na Figura 4.50.
50 50 50 50
0 0 0 0
50 50 50 50
100 100 100 100

Bimorph 1 Bimorph 2 Bimorph 3 Bimorph 4
150 150 150 150
0 1000 2000 3000 4000 5000 0 1000 2000 3000 4000 5000 0 1000 2000 3000 4000 5000 0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz] Frequncia [Hz] Frequncia [Hz] Frequncia [Hz]
50 50 50 50
0
0 0 0
50
50 50 50
100
100 100 100
150
Bimorph 5 Bimorph 6 Bimorph 7 Bimorph 8
150 150 150 200
0 1000 2000 3000 4000 5000 0 1000 2000 3000 4000 5000 0 1000 2000 3000 4000 5000 0 1000 2000 3000 4000 5000
50 50 50 50
Bimorph 11
0 0 0
0
50 50 50
50
100 100 100
Bimorph 9 Bimorph 10 Bimorph 12
150 150 100 150
0 1000 2000 3000 4000 5000 0 1000 2000 3000 4000 5000 0 1000 2000 3000 4000 5000 0 1000 2000 3000 4000 5000
Figura 4.50: Respostas no domnio da freqncia para cada bimorph (n=12)

Resultados 165
As figuras a seguir ilustram os resultados para a configurao com 12
bimorphs.
20
40
60
80
FRFA [rad/N, dB]
100
120
140
160
180
200 Bimorph
Elementos finitos
220
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
a) Rotao em x
40
60
80
100
FRFA [rad/N, dB]
120
140
160
180
200
220 Bimorph
Elementos finitos
240
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
b) Rotao em y
Resultados 166
20
40
60
80
FRFA [rad/N, dB]
100
120
140
160
180 Bimorph
Elementos finitos
200
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
a) Rotao em x
20
Bimorph
60
80
FRFA [rad/N, dB]
100
120
140
160
180
200
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
b) Rotao em y
Resultados 167
0
Bimorph
Elementos finitos
50
FRFA [rad/N, dB]
100
150
200
250
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
a) Rotao em x
20
40
60
80
FRFA [rad/N, dB]
100
120
140
160
180
200 Bimorph
Elementos finitos
220
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
b) Rotao em y
Resultados 168
20
Bimorph
60
80
FRFA [rad/N, dB]
100
120
140
160
180
200
220
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
a) Rotao em x
20
40
60
80
FRFA [rad/N, dB]
100
120
140
160
180
200 Bimorph
Elementos finitos
220
0 1000 2000 3000 4000 5000
Frequncia [Hz]
b) Rotao em y
Resultados 169
As figuras acima apresentam as FRFs angulares estimadas atravs da utilizao
dos sensores bimorphs em comparao ao resultado oriundo diretamente do modelo
em elementos finitos, onde os graus de liberdade de rotao nas direes x e y so
diretamente medidos de acordo com o ponto de teste escolhido.
Em vista dos resultados obtidos, possvel afirmar que a utilizao de mais
modos de vibrar no mtodo de aproximao melhora em muito as estimativas. No
entanto, uma otimizao quanto ao nmero de sensores, posio e dimenso de
cada bimorph possa ainda reproduzir resultados to bons como os ilustrados acima.
4.2.1.1 AVALIAO DAS CONDIES DE CONTORNO ELTRICAS
Duas condies de contorno eltricas foram consideradas no intuito de verificar
a variao na rigidez da estrutura em funo da mudana na condio de contorno
eltrica:
1) Todas as pastilhas piezeltricas em circuito aberto. Nesta condio, os ns
da base e do topo de cada bimorph so aterrados e todas as superfcies, superior e
inferior, de cada camada piezeltrica respeitam a equipotencialidade.
A condio de equipotencialidade equivale a uma rede de eletrodos
interconectados que tem por funo escoar instantaneamente o acmulo de carga
gerado em regies de maior tenso mecnica, uniformizando a tenso eltrica
superficial induzida pelo acoplamento eletromecnico. Logo, as condies de
contorno na superfcie equipotencial so tpicas de uma interface condutor-espao
livre.
Resultados 170
2) Todas as pastilhas piezeltricas em circuito fechado. Nesta segunda
condio, todos os ns da base e do topo de cada pastilha piezeltrica so aterrados,
de maneira que os potenciais eltricos sejam mantidos nulos. Sendo assim, a pastilha
se comporta como um dispositivo em curto-circuito. Fisicamente, as cargas geradas
escoam para fora da pastilha por meio de fios condutores, de maneira a mant-la
superficialmente descarregada.
Levando-se em conta as duas condies de contorno eltricas vistas acima,
pode-se medir o grau de variao na rigidez da estrutura em funo da mudana na
condio de contorno. Isto feito atravs do coeficiente efetivo de acoplamento
eletromecnico (EMCC), o qual mede o potencial de conversibilidade das formas de
energia, eltrica e mecnica, na estrutura, relativa energia total distribuda no
sistema (PAGANI JR; TRINDADE, 2007).
O EMCC pode ser definido pela diferena relativa entre as freqncias de
ressonncia da estrutura em condies eltricas de circuito aberto OC e curto-circuito
SC conforme a equao a seguir (TRINDADE; BENJEDDOU, 2007):
OC
2
SC
2
EMCC = (4.1)
OC
2
A Tabela 4.4 fornece as freqncias de ressonncia da estrutura para as duas
condies de contorno eltricas descritas anteriormente e para os 10 primeiros modos
vibrar no caso de 12 bimorphs presentes sobre a placa.
Conforme pode ser observado da Tabela 4.4, as freqncias em curto-circuito
(SC) e circuito aberto (OC) so muito prximas, resultando em valores relativamente

Resultados 171
baixos de EMCC. Isto indica uma pequena variao na rigidez da estrutura em
funo da mudana na condio de contorno (PAGANI JR; TRINDADE, 2007).
Tabela 4.4. Freqncias naturais da placa sob condies de contorno eltricas diferentes
SC OC EMCC (%)
1 490,26 490,28 0,008
2 1123,1 1123,1 0,000
3 1324,2 1324,3 0,015
4 1956,0 1956,1 0,010
5 2228,2 2228,3 0,009
6 2778,0 2778,0 0,000
7 3017,6 3017,7 0,007
8 3349,8 3349,9 0,006
9 3724,1 3724,2 0,005
10 4415,2 4415,5 0,014
CAPTULO
CINCO
5. CONCLUSES
O desenvolvimento de um novo transdutor de baixo custo capaz de medir a
curvatura local de estruturas do tipo viga foi apresentado em sua forma analtica e
numrica. No caso de estruturas do tipo placa, apresentou-se a formulao analtica.
Em ambos os casos foi possvel estabelecer uma relao direta entre a
curvatura local da estrutura e a voltagem resultante do sensor bimorph.
Para estruturas do tipo viga, propuseram-se dois mtodos de aproximao na
estimativa da rotao em qualquer ponto de interesse da estrutura: polinomial, onde
o campo de deslocamentos e, por sua vez, a rotao, representado atravs de um
polinmio de ordem p . Os coeficientes temporais so obtidos utilizando-se as
condies de contorno, bem como, as leituras de curvatura local oriundas de cada
sensor bimorph. Demonstrou-se que para uma viga cantilever, o grau do polinmio
que aproxima a rotao em qualquer ponto da estrutura igual p = n + 1 , onde n o
nmero de sensores bimorph presente na estimativa.
O segundo mtodo de aproximao apresentado utiliza formas modais na
estimativa da rotao. A grande vantagem neste mtodo de aproximao se baseia
na possibilidade de utilizao de polinmios de alta ordem na representao dos
modos de vibrar. O mesmo no ocorre com a aproximao polinomial, pois esta
limitada a polinmios de ordem p = n + 2 em termos do campo de deslocamentos.

Concluses 173
Novamente os coeficientes que descrevem a resposta da estrutura no tempo so
obtidos atravs da imposio das condies de contorno e da curvatura local para
cada sensor bimorph posicionado sobre a estrutura. Para cada bimorph, o nmero
de modos utilizados na aproximao dado por m = n + 2 .
As anlises demonstraram que para estimativas onde o ponto de medio da
rotao est prximo da regio de engaste, ocorre uma inverso entre o melhor
mtodo de aproximao. Para o caso de um nico sensor posicionado at o meio da
viga, a aproximao polinomial propicia resultados ligeiramente melhores em
comparao ao mtodo de aproximao por formas modais. No entanto, este fato se
inverte quando o sensor posicionado alm do ponto central da viga e, neste caso,
as diferenas entre os mtodos se sobressaem.
Para pontos prximos extremidade livre da viga, o que se observou que a
aproximao modal fornece sempre resultados melhores quando do posicionamento
do bimorph.
Em termos da incluso de mais bimorphs nas aproximaes, foi possvel
estabelecer uma relao direta com a melhoria dos resultados, porm, sem uma
percepo direta de qual mtodo se comporta melhor de acordo com o
posicionamento dos sensores bimorphs.
Outra anlise efetuada corresponde correo dos modos de vibrar devido
presena dos sensores ao longo da viga. Tal correo se mostrou importante quando
se tem dimenses de sensores superiores s b > 15mm e quando mais de um sensor
utilizado na aproximao.
Concluses 174
Os resultados obtidos foram comparados a outros oriundos de um modelo
baseado no mtodo dos elementos finitos demonstrando a viabilidade de uso deste
sensor. Ficou evidente a influncia da correo dos modos de vibrar na estimativa das
funes de resposta em freqncia angulares.
Devido extensa gama de possveis solues, props-se o estudo de um
mtodo de otimizao. Neste trabalho, optou-se por uma otimizao via algoritmos
genticos (AG) devido a sua simplicidade de implementao e aos bons resultados
oriundos desta tcnica. Alguns fatores revelaram-se importantes na melhoria dos
resultados: (i) escolha por parte do AG do melhor mtodo de aproximao; (ii) o
nmero de bimorphs, como tambm, alguns parmetros relacionados ao
desempenho ao AG: (iii) a probabilidade de ocorrncia de crossover (iv) a
probabilidade de mutao, (v) tamanho da populao e (vi) porcentagem de elitismo.
O estudo acerca dos parmetros de desempenho do AG mostrou-se decisivo
considerando os resultados finais obtidos, bem como, a funo de avaliao (erro)
introduzida neste trabalho. Um ganho considervel em termos de qualidade nas
aproximaes, bem como, o aumento da faixa de freqncia analisada, 0 1000Hz,
foi alcanado.
Os resultados experimentais apresentados comprovaram ainda o desempenho
da tcnica, validando tambm o modelo numrico. No entanto, resultados apenas
satisfatrios foram obtidos com a utilizao do acelermetro angular.
Para estruturas do tipo placa, apenas um nico mtodo de aproximao foi
considerado: formas modais. Para a determinao dos modos de vibrar, por sua vez,
Concluses 175
utilizou-se o mtodo de Rayleigh-Ritz, por se mostrar preciso e ao mesmo tempo
simples em termos da sua programao.
Os resultados numricos obtidos demonstraram que o nmero de modos de
vibrar possui um peso significativo para a metodologia proposta. Foi possvel
observar que com o aumento do nmero de sensores, de 4 para 12 bimorphs, houve
um aumento expressivo na qualidade dos resultados. Em ambos os casos, as
freqncias de ressonncia foram bem estimadas, porm, somente no segundo caso,
as anti-ressonncias tambm foram.
Outra anlise feita levou em considerao as condies de contorno eltricas.
Os resultados em termos do coeficiente efetivo de acoplamento eletromecnico
(EMCC) demonstraram uma pequena variao na rigidez da estrutura em funo da
mudana na condio de contorno (curto-circuito e circuito aberto).
Por fim, os resultados aqui apresentados comprovaram a eficcia da
metodologia proposta na estimativa de funes de resposta em freqncia angulares
utilizando-se para tal um sensor baseado em pastilhas piezeltricas, aqui
denominado por bimorph, para ambos os tipos de estruturas investigadas: viga
engastada-livre e uma placa simplesmente apoiada.
5.1 TRABALHOS FUTUROS
Baseando-se nos resultados promissores envolvendo os sensores bimorph
aplicados a estruturas do tipo viga, prope-se a confeco de um novo algoritmo
gentico para a otimizao das dimenses, com a possibilidade de variao da
forma, e o posicionamento dos bimorphs no caso da estrutura do tipo placa.

Concluses 176
O estudo e desenvolvimento de um novo algoritmo gentico permitiro ainda
avaliar a qualidade da metodologia proposta. Prope-se determinar o mnimo de
sensores (quantidade) em vista do mximo desempenho em termos de uma
estimativa global de FRFs angulares.
Ainda em termos de trabalhos futuros, projeta-se a avaliao experimental do
transdutor bimorph para estruturas do tipo placa tendo em vista o procedimento de
otimizao, validando por fim a tcnica e confirmando aplicabilidade da
metodologia proposta.
Por fim, considerando-se apenas o sensor bimorph, prope-se o estudo de um
mtodo de calibrao experimental confivel do mesmo. Desta forma, ser possvel
descrever informaes importantes concernentes ao sensor, como sensibilidade
(direta e cruzada), bem como, adequ-lo a uma possvel utilizao em maior escala.
CAPTULO
SEIS
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APNDICE
A
A. CDIGO EM MATLAB PARA ESTRUTURAS DO TIPO VIGA
A seguir, apresentam-se as rotinas desenvolvidas em ambiente Matlab para a
modelagem numrica do transdutor bimorph aplicado a estruturas do tipo viga.
A.1. PROGRAMA PRINCIPAL
% Main program # 1.25

% Last modification: 20/09/07
%-------------------------------------------------------------------------
clc; clear all; close all; clear memory;
%-------------------------------------------------------------------------
b=25e-3; kc=0.83; L=500e-3; mod_id=[1:20]; fdisp=0; fplot=0; frec=1;
n=8; hv=3e-3; thick_sens=0.5e-3; thick_glue=0.2e-3; dx=5e-3;
dt=2.5e-4; tf=5.0; popsize=60; pc=0.95; pm=0.04; elite=3;
ngerstop=100; rstop=10.0; bitsleng=6; bitspos=8;
for nb=1:3
for x_out=450.0:0.050:L
% Saving values
if frec==1
eval(['fid=fopen(''a_status_',int2str(nb),'_',int2str(x_out*1000),
'.out'',''a'');'])
fprintf(fid,'%s\n',datestr(now));
fprintf(fid,' nb=%1.0f\n x_out=%1.3f\n L=%1.3f\n b=%1.3f\n
hv=%1.3f\n',nb,
x_out,L,b,hv);
fprintf(fid,' kc=%1.2f\n thick_sens=%1.5f\n thick_glue=%1.5f\n
dx=%1.5f\n
dt=%1.5f\n tf=%1.5f\n',kc,thick_sens,thick_glue,dx,dt,tf);
fprintf(fid,' popsize=%1.0f\n pcros=%1.3f\n
pmut=%1.3f\n',popsize,pc,pm);
fprintf(fid,' ngerstop=%1.0f\n rstop=%1.1f\n',ngerstop,rstop);
fclose(fid);
end
%---------------------------------------------------------------------
% GA: inital population
[popini]=initialise(popsize,nb,bitsleng,bitspos); % Call INITIALIZE
function
[values]=dcode(popsize,popini,nb,bitsleng,bitspos,L); % Call DCODE
function
% Loop: adding values (leng_sens, pos_sens) to POPINI
for i=1:2*nb
popini(:,nb*bitsleng+nb*bitspos+i)=values(:,i);
end
%---------------------------------------------------------------------
nger=1; valger(1,2)=50; contfig=0;% Initialization
Cdigo em Matlab para estruturas do tipo viga 186
% GA: run until the result be acceptable

while ((valger(:,2)>rstop) & (nger<=ngerstop))
tic
if nger==1
oldpop=popini;
start=1;
clear popini
else
oldpop=newpop;
start=elite+1;
end
%---------------------------------------------------------------------
% Loop: determines the value for each pair: leng_sens and pos_sens
for k=start:length(oldpop(:,1))
contfig=contfig+1;
for m=1:nb
input(2*m-1)=oldpop(k,nb*bitsleng+nb*bitspos+nb+m); % Bimorph's
position
input(2*m)=oldpop(k,nb*bitsleng+nb*bitspos+m)/1e3; % Bimorph's
length
end
oldpop(k,nb*bitsleng+nb*bitspos+2*nb+1)=bimorph(input,fplot,fdisp,frec,n,
L,b,hv,kc,mod_id,thick_sens,thick_glue,x_out,dx,dt,tf); % Call
BIMORPH
function
end
[oldpop]=sortpop(popsize,oldpop,nb,bitsleng,bitspos); % Call SORTPOP
function
oldpop=oldpop(1:popsize,:);
wval(popsize,oldpop,nb,bitsleng,bitspos,eval(['''gen_pop_',int2str(nb),'_'
,
int2str(x_out*1000),'.out''']),nger); % Call WVAL function
%---------------------------------------------------------------------
% Values from BIMORPH function
valger(nger,1)=max(oldpop(:,nb*bitsleng+nb*bitspos+2*nb+1));
valger(nger,2)=min(oldpop(:,nb*bitsleng+nb*bitspos+2*nb+1));
valger(nger,3)=mean(oldpop(:,nb*bitsleng+nb*bitspos+2*nb+1));
% Saving values
eval(['fid=fopen(''gen_values_',int2str(nb),'_',int2str(x_out*1000),'.out'
',
''a'');'])
fprintf(fid,'%1.4f %1.4f %1.4f \n',valger(nger,1),valger(nger,3),
valger(nger,2));
fclose(fid);
%---------------------------------------------------------------------
[newpop]=genetic(popsize,oldpop,nb,bitsleng,bitspos,pc,pm,elite);%
Call
GENETIC function
[values]=dcode(popsize,newpop(elite+1:elite+popsize,:),nb,bitsleng,
bitspos,L); % Call DCODE function
% Loop: writting values into NEWPOP
for i=1:popsize
for j=1:2*nb
newpop(elite+i,nb*bitsleng+nb*bitspos+j)=values(i,j);
end
end
nger=nger+1;
pack
toc
end
%-----------------------------------------------------------------------
% Output according to generation values
eval(['fid=fopen(''gen_values_',int2str(nb),'_',int2str(x_out*1000),
'.out'',''a'');'])
fprintf(fid,'\n%s\n',datestr(now));
fprintf(fid,'nger=%1.0f (evaluated) \n',nger-1);
fclose(fid);
%-----------------------------------------------------------------------
% Plot results
xax=[1:nger-1];
figure
plot(xax,valger(:,2),'.-r',xax,valger(:,3),'.:b',xax,valger(:,1),'.
k','LineWidth',1.2);
ylabel('Fitness');
xlabel('Number of generations');
legend('best','average','worst',0);
%-----------------------------------------------------------------------
bimorph(input,1,fdisp,frec,n,L,b,hv,kc,mod_id,thick_sens,thick_glue,x_out,
dx,
dt,tf)
end
A.2. FUNO INITIALISE
% INITIALISE function # 1.25

% Description: creates random initial population
%--------------------------------------------------------------------------
function [pop]=initialise(popsize,nb,bitsleng,bitspos);
%--------------------------------------------------------------------------
pop=round(rand(popsize,nb*bitspos+nb*bitsleng));
A.3. FUNO DCODE
% DCODE function #1.25

% Description: decodes values from genes
%--------------------------------------------------------------------------
function [dcoded]=dcode(popsize,pop,nb,bitsleng,bitspos,L);
%--------------------------------------------------------------------------
% Dcode
aleng=5; bleng=68;
for i=1:popsize
% Bimorph's length
for contnb=1:nb
dcoded(i,contnb)=sum(2.^(size(pop(:,(contnb-
1)*bitsleng+1:contnb*bitsleng),2)-1:-1:0).*pop(i,(contnb-
1)*bitsleng+1:contnb*bitsleng))*(bleng-aleng)/(2.^bitsleng-1)+aleng;
end
% Bimorph's position
for m=nb+1:2*nb
dcoded(i,m)=sum(2.^(size(pop(:,nb*bitsleng+(m-nb-
1)*bitspos+1:nb*bitsleng+(m-nb)*bitspos),2)-1:-1:0).*pop(i,nb*bitsleng+(m-
nb-1)*bitspos+1:nb*bitsleng+(m-nb)*bitspos))*(L-0.010)/(2.^bitspos-1);
end
end
A.4. FUNO BIMORPH
% BIMORPH function #1.25

% Description: evaluates FRFAs from bimorphs
%-------------------------------------------------------------------------
function
fitness=bimorph(input,fplot,fdisp,frec,n,L,b,hv,kc,mod_id,thick_sens,thick
_glue,
x_out,dx,dt,tf);
%-------------------------------------------------------------------------
%Data input (reading inputs from Genetic Algorithm)
nb=length(input)/2;
for i=1:nb
pos_sens(i)=input(2*i-1);
leng_sens(i)=input(2*i);
newin(i,1)=pos_sens(i);
newin(i,2)=leng_sens(i);
end
%-------------------------------------------------------------------------
elname='pmepf'; fcondt=1e8;
anrange=1000; % frequency analysis range
fdamp=0.01; fndm=.99; %(dissipative modes for ADF)
%-------------------------------------------------------------------------
%Mesh Data
LcDofs=[1 .01]'; % Locked dofs (boundary conditions)
% Define Input/Output vectors
Po_in=[L]; % Position of perturbation
input
Dof_in=[.03]; % Nodal dof of perturbation
input
Mag_in=[1]; % Magnitude of perturbation
input
Po_ou=x_out; % Position of output measurement
Dof_ou=[.05]; % Nodal dof of output measurement
%-------------------------------------------------------------------------
% Sorting bimorph position
if nb>1
for i=1:nb-1
if newin(i+1,1)<newin(i,1)
aux=newin(i,:);
newin(i,:)=newin(i+1,:);
newin(i+1,:)=aux;
end
end
end
clear status
% Physical criteria selection
if (newin(:,1)>=0)&(newin(:,1)<L)&(newin(:,2)>=0.010)&(newin(:,2)<=0.068)
status=1;
else
status=0;
end
if status==1
for i=1:nb-1
if (newin(i+1,1)-
(newin(i,1)+newin(i,2))<=dx)|((newin(nb,1)+newin(nb,2))>=L)
status=0;
end
end
end
%-------------------------------------------------------------------------
% Loop to determine RFRF from bimorph/cantilever beam
if status==1
%Top layer
%Sub-layers definition: begin from lower left sub-layer (PZT5H)
for i=1:nb
for j=1:2
To_h(i,j)=thick_sens;
To_p(i,j)=pos_sens(i);
To_a(i,j)=leng_sens(i);
%Material data
To_c11m(i,j)=65.5e9;
To_rho(i,j)=7500;
To_e31m(i,j)=-23.2;
To_epsm(i,j)=1.54e-8;
end
%Core layer
%Core center determines z=0, so that its thickness
% must be the same for all adjacent layers
Co_h(i,1)=thick_glue;
Co_p(i,1)=pos_sens(i);
Co_a(i,1)=leng_sens(i);
%Core layer: material data
Co_c33m(i,1)=300e9;
Co_c55(i,1)=100e9;
Co_rho(i,1)=1000;
end
%Bottom layer
%Sub-layers definition: begin from upper left sub-layer
Bo_h(1,1)=hv;
Bo_p(1,1)=0e-3;
Bo_a(1,1)=L;
% Material properties == Alu
Bo_c11m(1,1)=70.3e9;
Bo_rho(1,1)=2690;
%---------------------------------------------------------------------
fe_ndelt
fe_ss
% Finding DDLs
Lp = full(nod(1:size(nod,1)-1,5));
ua= real(Tr); uf = zeros(size(mdof,1),size(Tr,2));
for kd = 1:size(adof,1), id = find(mdof(:)==adof(kd)); uf(id,:) =
ua(kd,:); end
ws = full(uf(find(round(100*(mdof-fix(mdof)))==3),:));
%---------------------------------------------------------------------
%Plot excitation
[y,t]=impulse(ssp(:,1),[0:dt:tf]);
%---------------------------------------------------------------------
if elname=='pmepf'
saidas=size(ssp.c,1); sdesl=saidas/2; spiezo=sdesl-1;
sp=spiezo/(2*nb);
V12b=zeros(length(t),nb+2);
for i=1:2*nb
bV=1+i*[1:sp];
Vb(:,i)=mean(y(:,bV)')';
end
for i=1:nb
V12b(:,i)=Vb(:,i)-Vb(:,i+nb);
end
else
for i=1:nb
V1=y(2*i-1,:);
V2=y(2*i,:);
V12b(i,:)=V1-V2;
V12b=V12b';
end
end
if fplot==1
figure
for i=1:nb
subplot(nb,1,i)
plot(t,V12b(:,i),'LineWidth',2), set(gca,'xlim',[0,tf]),
xlabel('Time [s]'), ylabel('Voltage [V]'),legend(['Bimorph '
int2str(i)])
end
end
for i=1:nb
x_sens(i)=To_p(i,1)+To_a(i,1)/2;
const(i)=-(To_epsm(i,1))/(To_e31m(i,1)*To_h(i,1)^2);
end
%---------------------------------------------------------------------
% Modes approximation
% Beam FE data
load nel.txt; load leng.txt; load tleng.txt; load modes_lin.txt;
x_axis=0:leng:tleng;
x_axis=x_axis';
syms x real
p=n:-1:0;
for i=1:length(p)
phi(i)=x^p(i);
end
nmodes=nb+2; % Number of modes to be adjusted (cantilever beam)
for i=1:nmodes
poly(i,:)=polyfit(Lp,ws(:,i),n); % Modes interpolation poly
poly_sym0(i,:)=dot(phi,poly(i,:));
% figure
% plot(x_axis,modes_lin(:,i),'b',Lp,ws(:,i),'r')
% legend('Elastic','Bimorph')
end
rot0=diff(poly_sym0,x);
curv0=diff(poly_sym0,2);
shear0=diff(poly_sym0,3);
% Building the matrix system
for i=1:nb
for j=1:nb+2
A0(i,j)=subs(sum(curv0(j,:)),x,x_sens(i));
A0(nb+1,j)=subs(sum(curv0(j,:)),x,L);
A0(nb+2,j)=subs(sum(shear0(j,:)),x,L);
end
end
for j=1:nb+2
aux0(j)=sum(subs(rot0(j,:),x,x_out));
end
vet0=subs(aux0',x,x_out);
%---------------------------------------------------------------------
% Polynomial approximation
p=(nb+3):-1:2; % Degree of the polynomial ajust (cantilever beam)
syms x real
for i=1:length(p)
poly_sym1(i)=x^p(i);
end
rot1=diff(poly_sym1,x);
curv1=diff(poly_sym1,2);
shear1=diff(poly_sym1,3);
% Building the matrix system
for i=1:nb
A1(i,:)=subs(curv1,x,x_sens(i));
A1(nb+1,:)=subs(curv1,x,L);
A1(nb+2,:)=subs(shear1,x,L);
end
vet1=subs(rot1,x,x_out);
%---------------------------------------------------------------------
for i=1:length(t)
B=const(1)*V12b(i,:)';
solu0=A0\B; % System solution (modes shapes)
solu1=A1\B; % System solution (polynomial)
rotation0(i)=dot(solu0,vet0);
rotation1(i)=dot(solu1,vet1);
end
%---------------------------------------------------------------------
%FRFA from FE Rotation DOF
dwdx=y(:,1)';
N=2^floor(log(length(t))/log(2));
f=(1/dt/N)*[0:N/2-1];
Hn=fft(dwdx,N); Gdwdx=abs(Hn(1:N/2));
%---------------------------------------------------------------------
%FRFA from bimorph
He0=fft(rotation0,N); rotat0=abs(He0((1:N/2)));
He1=fft(rotation1,N); rotat1=abs(He1((1:N/2)));
if fplot==1
figure
plot(f,20*log(Gdwdx),'k-.',f,20*log(rotat0),'b-
',f,20*log(rotat1),'r-','LineWidth',2), set(gca,'xlim',[0,1.0e3]),
xlabel('Frequency [Hz]'), ylabel('FRFA [rad/N]')
legend('FE','Bimorph: modes shape','Bimorph: polynomial')
grid
end
%---------------------------------------------------------------------
for i=1:(anrange/(1/dt/N))+1
deltaDi0(i)=20*log(rotat0(i))-20*log(Gdwdx(i));
deltaDi1(i)=20*log(rotat1(i))-20*log(Gdwdx(i));
end
deltaD0=sum(deltaDi0)/(anrange/(1/dt/N));
deltaD1=sum(deltaDi1)/(anrange/(1/dt/N));
for i=1:(anrange/(1/dt/N))+1
S0(i)=(deltaDi0(i)-deltaD0)^2;
S1(i)=(deltaDi1(i)-deltaD1)^2;
end
fitness0=sqrt((sum(S0))/(anrange/(1/dt/N)))+abs(sum(deltaDi0))/((anrange/
(1/dt/N))+1);
fitness1=sqrt((sum(S1))/(anrange/(1/dt/N)))+abs(sum(deltaDi1))/((anrange/
(1/dt/N))+1);
if fitness0<fitness1
fitness=fitness0;
approx=0;
else
fitness=fitness1;
approx=1;
end
%---------------------------------------------------------------------
if frec==1
eval(['fid=fopen(''c_backup_',int2str(nb),'_',int2str(x_out*1000),
'.out'',''a'');'])
for i=1:nb
fprintf(fid,' %1.3f',newin(i,:));
end
fprintf(fid,' %1.3f %1.3f %1.0f\n',fitness0,fitness1,approx);
fclose(fid);
end
%---------------------------------------------------------------------
else
fitness=250.000;
approx=-1;
end
%-------------------------------------------------------------------------
if (fplot==1)&(status==1)
figure
subplot(311)
plot(f,20*log(Gdwdx),'k-.',f,20*log(rotat0),'b-',f,20*log(rotat1),'r-
','LineWidth',2), set(gca,'xlim',[0,1.0e3]),
ylabel('FRFA [rad/N]')
legend('FE','Bimorph: modes shape','Bimorph: polynomial')
grid
subplot(312)
bar(f(1:(1000/(1/dt/N))+1),deltaDi0), set(gca,'xlim',[0,1.0e3]),
ylabel('Difference: approx0 [db]'), xlabel('Frequency [Hz]'), grid
subplot(313)
bar(f(1:(1000/(1/dt/N))+1),deltaDi1), set(gca,'xlim',[0,1.0e3]),
ylabel('Difference: approx1 [db]'), xlabel('Frequency [Hz]'), grid
end
%-------------------------------------------------------------------------
if frec==1
eval(['fid=fopen(''b_values_',int2str(nb),'_',int2str(x_out*1000),'.out'',
''a'');'])
for i=1:nb
fprintf(fid,'%1.3f ',newin(i,:));
end
fprintf(fid,' %1.3f %1.0f\n',fitness,approx);
fclose(fid);
end
%-------------------------------------------------------------------------
A.5. FUNO GENETIC
% GENETIC function # 1.25

% Description: genetic operators
%--------------------------------------------------------------------------
function [newpop]=genetic(popsize,oldpop,nb,bitsleng,bitspos,pc,pm,elite);
%--------------------------------------------------------------------------
newpop=zeros(elite+popsize,nb*bitsleng+nb*bitspos+2*nb+1);
for i=1:elite
for j=1:nb*bitsleng+nb*bitspos+2*nb+1
newpop(i,j)=oldpop(i,j);
end
end
for i=1:popsize/2
[parents]=select(popsize,nb,bitspos,bitsleng,oldpop); % Call SELECT
function
[childs]=crossover(popsize,nb,bitspos,bitsleng,parents,pc,pm); % Call
CROSSOVER function
for j=1:nb*bitsleng+nb*bitspos
newpop(elite+2*i-1,j)=childs(1,j);
newpop(elite+2*i,j)=childs(2,j);
end
end
A.6. FUNO SELECT
% SELECT function # 1.25

% Description: selection operator (roulette wheel)
%--------------------------------------------------------------------------
function [parents]=select(popsize,nb,bitspos,bitsleng,oldpop);
%--------------------------------------------------------------------------
for i=1:2
partsum=0; count(i)=0;
totalfit=sum((oldpop(:,nb*bitsleng+nb*bitspos+2*nb+1)).^-1);
aleat=rand(1,1)*totalfit;
while (partsum<aleat) & (count(i)<=popsize)
count(i)=count(i)+1;
partsum=partsum+(oldpop(count(i),nb*bitsleng+nb*bitspos+2*nb+1).^-
1);
end
parents(i,:)=oldpop(count(i),:);
end
if parents(1,:)==parents(2,:)
[parents]=select(popsize,nb,bitspos,bitsleng,oldpop); % Call SELECT
function
end
A.7. FUNO CROSSOVER
% CROSSOVER function # 1.25

% Description: reproduction operator
%--------------------------------------------------------------------------
function [childs]=crossover(popsize,nb,bitspos,bitsleng,parents,pc,pm);
%--------------------------------------------------------------------------
cromo=nb*bitspos+nb*bitsleng;
parent1=parents(1,:);
parent2=parents(2,:);
if (rand<pc)
for i=1:nb
cpoint(i)=round(rand*(cromo/nb))+(i-1)*cromo/nb;
if cpoint(i)==0
cpoint(i)=cpoint(i)+1;
end
end
switch nb
case 1
child1=[parent1(:,1:cpoint(1)) parent2(:,cpoint(1)+1:cromo)];
child2=[parent2(:,1:cpoint(1)) parent1(:,cpoint(1)+1:cromo)];
case 2
child1=[parent1(:,1:cpoint(1)) parent2(:,cpoint(1)+1:cpoint(2))
parent1(:,cpoint(2)+1:cromo)];
case 3
parent1(:,cpoint(2)+1:cpoint(3)) parent2(:,cpoint(3)+1:cromo)];
case 4
parent1(:,cpoint(2)+1:cpoint(3)) parent2(:,cpoint(3)+1:cpoint(4))
case 5
end
else
child1=parent1;
child2=parent2;
end
child1=mutation(bitsleng,bitspos,child1,pm); % Call MUTATION function
child2=mutation(bitsleng,bitspos,child2,pm); % Call MUTATION function
childs(1,:)=child1;
childs(2,:)=child2;
A.8. FUNO MUTATION
% MUTATION function # 1.25

% Description: mutation operator
%--------------------------------------------------------------------------
function [mutchild]=mutation(bitsleng,bitspos,child,pm);
%--------------------------------------------------------------------------
cromo=bitsleng+bitspos;
if (rand<pm)
mpoint=round(rand*(cromo-1))+1;
mutchild=child;
mutchild(mpoint)=abs(child(mpoint)-1);
else
mutchild=child;
end
A.9. FUNO WVAL
% WVAL function # 1.25

% Description: write population
%--------------------------------------------------------------------------
function wval(popsize,pop,nb,bitsleng,bitspos,nome,contador)
%--------------------------------------------------------------------------
cromo=nb*bitsleng+nb*bitspos;
fid=fopen(nome,'a');
fprintf(fid,'Generation number %1.0f\n',contador);

fprintf(fid,'%s\n',datestr(now));
for i=1:popsize
for j=1:cromo+2*nb+1
if (j>=cromo+nb+1)
fprintf(fid,' %1.4f',pop(i,j));
else
fprintf(fid,' %1.0f',pop(i,j));
end
end
fprintf(fid,'\n');
end
fprintf(fid,'\n');
fclose(fid);
A.10. FUNO SORTPOP
% SORTPOP function # 1.25

% Description: sort population according the fitness value
%--------------------------------------------------------------------------
function [sortpop]=sortpop(popsize,pop,nb,bitsleng,bitspos)
%--------------------------------------------------------------------------
cromo=nb*bitsleng+nb*bitspos;
for i=1:popsize
for j=1:popsize
if pop(i,cromo+2*nb+1)<pop(j,cromo+2*nb+1)
aux=pop(i,:);
pop(i,:)=pop(j,:);
pop(j,:)=aux;
end
end
end
sortpop=pop;
APNDICE
B
B. CDIGO EM ANSYS PARA ESTRUTURAS DO TIPO PLACA
Um agradecimento especial ao Alexandre Tacito Malavolta por possibilitar o
meu aprendizado e a programao do cdigo abaixo.
/CWD,'C:\Documents and Settings\Cicogna\12bimorphs'

/FILNAME,12bimorphs,0
!**************************************************************************
KEYW,PR_STRUC,1
KEYW,PR_ELMAG,1
/PREP7
CSYS,0 !coordenadas cartesianas
/UNITS,SI !unidades no SI
/NUMBER,1
/PNUM,MAT,1
/REPLOT
!**************************************************************************
! DADOS de ENTRADA
!**************************************************************************
PI = 2*ACOS(0) !PI
LCH = 320e-3 !comprimento da chapa (X)
BCH = 280e-3 !largura da chapa (Y)
TCH = 3e-3 !espessura (Z)
LPIZ = 25e-3 !comprimento do piezo (X)

BPIZ = 25e-3 !largura do piezo (Y)
HPIZ = 0.5e-3 !altura do piezo (Z)
NDIVX = 64 !numero de divisoes na malha da chapa na direcao X

NDIVY = 56 !numero de divisoes na malha da chapa na direcao Y
INCX = LCH/NDIVX !medida do grid X

INCY = BCH/NDIVY !medida do grid Y
AMORT = 0.01 !FATOR DE AMORTECIMENTO
!**************************************************************************
! MATERIAL DA CHAPA (MAT 1)
!**************************************************************************
ROCH = 2700
MELCH = 7e11
POISCH = 0.3
MPTEMP,,,,,,,,
MPTEMP,1,0
MPDATA,DENS,1,,ROCH
MPDATA,EX,1,,MELCH
MPDATA,PRXY,1,,POISCH
Cdigo em Ansys para estruturas do tipo placa 197
!**************************************************************************
! MATERIAL DOS PIEZOS (MAT 2)
!**************************************************************************
ROPIZ = 7500 !densidade do piezo
!PERMISIVIDADE
EP11 = 3130
EP22 = 3130
EP33 = 3400
EP12 = 0
EP23 = 0
EP13 = 0
!MATRIZ ANISOTROPICA
D11 = 1.272E+011
D12 = 8.21E+010
D13 = 8.467E+010
D14 = 0
D15 = 0
D16 = 0
D22 = 1.272E+011
D23 = 8.467E+010
D24 = 0
D25 = 0
D26 = 0
D33 = 1.1744E+011
D34 = 0
D35 = 0
D36 = 0
D44 = 2.299E+010
D45 = 0
D46 = 0
D55 = 2.299E+010
D56 = 0
D66 = 2.347E+010
!MATRIZ PIEZO
XX = 0
XY = 0
XZ = -2.74E-010
YX = 0
YY = 0
YZ = -2.74E-010
ZX = 0
ZY = 0
ZZ = 5.93E-010
XYX = 0
XYY = 0
XYZ = 0
YZX = 0
YZY = 7.41E-010
YZZ = 0
XZX = 7.41E-010
XZY = 0
XZZ = 0
TB,ANEL,2,1,21,0
TBTEMP,0
TBDATA,,D11,D12,D13,D14,D15,D16
TBDATA,,D22,D23,D24,D25,D26,D33
TBDATA,,D34,D35,D36,D44,D45,D46
TBDATA,,D55,D56,D66,,,
MPTEMP,,,,,,,,
MPTEMP,1,0
MPDATA,DENS,2,,ROPIZ
TB,DPER,2,,,1
TBMODIF,1,1,EP11
TBMODIF,1,2,EP22
TBMODIF,1,3,EP33
TBMODIF,1,4,EP12
TBMODIF,1,5,EP23
TBMODIF,1,6,EP13
TB,PIEZ,2,,,1
TBMODIF,1,1,0
TBMODIF,1,2,0
TBMODIF,1,3,-2.74E-010
TBMODIF,2,1,0
TBMODIF,2,2,0
TBMODIF,2,3,-2.74E-010
TBMODIF,3,1,0
TBMODIF,3,2,0
TBMODIF,3,3,5.93E-010
TBMODIF,4,1,0
TBMODIF,4,2,0
TBMODIF,4,3,0
TBMODIF,5,1,0
TBMODIF,5,2,7.41E-010
TBMODIF,5,3,0
TBMODIF,6,1,7.41E-010
TBMODIF,6,2,0
TBMODIF,6,3,0
!**************************************************************************
! ELEMENTOS
!**************************************************************************
ET,1,SHELL99
KEYOPT,1,11,2
ET,2,SOLID226,101
KEYOPT,2,1,1001
R,1
RMODIF,1,1,1,0,0,0,0,0
RMODIF,1,13,1,0,TCH
!**************************************************************************
! CHAPA
!**************************************************************************
RECTNG,0,LCH,0,BCH
!**************************************************************************
! MALHA CHAPA
!**************************************************************************
LSEL,S,,,1,3,2
LESIZE,ALL,,,NDIVX
LSEL,S,,,2,4,2
LESIZE,ALL,,,NDIVY
!*
TYPE,1,
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!**************************************************************************
! PIEZOS
!**************************************************************************
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
! BIMORPH 1
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
! LOCALIZACAO DO PIEZO 1
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
NGRIDX1 = 7 ! numero de grid em X a partir da quina (0,0)
NGRIDY1 = 7 ! numero de grid em Y a partir da quina (0,0)
POSX1 = INCX*NGRIDX1
POSY1 = INCY*NGRIDY1
K,,POSX1,POSY1,0
KWPAVE,5
RECTNG,0,LPIZ,0,BPIZ
NZPIZ = LPIZ/INCX
LSEL,S,,,5,8,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,2
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX1,POSY1,HPIZ
KWPAVE,10
LSEL,S,,,9,12,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,3
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
! BIMORPH 2
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX2,POSY2,0
KWPAVE,15
LSEL,S,,,13,16,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,4
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX2,POSY2,HPIZ
KWPAVE,20
LSEL,S,,,17,20,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,5
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
! BIMORPH 3
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX3,POSY3,0
KWPAVE,25
LSEL,S,,,21,24,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,6
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX3,POSY3,HPIZ
KWPAVE,30
LSEL,S,,,25,28,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,7
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
! BIMORPH 4
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX4,POSY4,0
KWPAVE,35
LSEL,S,,,29,32,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,8
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX4,POSY4,HPIZ
KWPAVE,40
LSEL,S,,,33,36,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,9
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
! BIMORPH 5
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX5,POSY5,0
KWPAVE,45
LSEL,S,,,37,40,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,10
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX5,POSY5,HPIZ
KWPAVE,50
LSEL,S,,,41,44,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,11
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
! BIMORPH 6
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX6,POSY6,0
KWPAVE,55
LSEL,S,,,45,48,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,12
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX6,POSY6,HPIZ
KWPAVE,60
LSEL,S,,,49,52,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,13
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
! BIMORPH 7
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX7,POSY7,0
KWPAVE,65
LSEL,S,,,53,56,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,14
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX7,POSY7,HPIZ
KWPAVE,70
LSEL,S,,,57,60,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,15
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
! BIMORPH 8
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX8,POSY8,0
KWPAVE,75
LSEL,S,,,61,64,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,16
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX8,POSY8,HPIZ
KWPAVE,80
LSEL,S,,,65,68,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,17
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
! BIMORPH 9
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX9,POSY9,0
KWPAVE,85
LSEL,S,,,69,72,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,18
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX9,POSY9,HPIZ
KWPAVE,90
LSEL,S,,,73,76,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,19
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
! BIMORPH 10
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX10,POSY10,0
KWPAVE,95
LSEL,S,,,77,80,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,20
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX10,POSY10,HPIZ
KWPAVE,100
LSEL,S,,,81,84,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,21
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
! BIMORPH 11
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX11,POSY11,0
KWPAVE,105
LSEL,S,,,85,88,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,22
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
KWPAVE,110
LSEL,S,,,89,92,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,23
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
! BIMORPH 12
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
K,,POSX12,POSY12,0
KWPAVE,115
LSEL,S,,,93,96,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,24
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
!@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@@
KWPAVE,120
LSEL,S,,,97,100,1
LESIZE,ALL,,,NZPIZ
TYPE,1
MAT,1
MSHAPE,0,2D
MSHKEY,1
ASEL,S,,,25
AMESH,ALL
ALLSEL,ALL
!###############
! EXTRUSAO PIEZOs
!###############
AUX = 2
EXTOPT,ESIZE,AUX,0,
EXTOPT,ACLEAR,1
ASEL,S,,,2,25,1
TYPE,2
MAT,2
VEXT,ALL, , ,0,0,HPIZ
ALLSEL,ALL
EPLO
NUMMRG,KP, , , ,LOW
NUMMRG,NODE, , , ,LOW
NUMMRG,KP, , , ,LOW
!*************************************
! LOAD ELETRICO
!*************************************
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NSEL,R,LOC,Z,0,0
NPLOT
D,ALL,VOLT,0
ALLSEL,ALL
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NSEL,R,LOC,Z,2*HPIZ,2*HPIZ
NPLOT
D,ALL,VOLT,0
ALLSEL,ALL
!*************************************
! COUPLING
!*************************************
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NSEL,R,LOC,Z,0,0
NSEL,R,LOC,X,POSX1,POSX1+LPIZ
NSEL,R,LOC,Y,POSY1,POSY1+BPIZ
NPLOT
CP,1,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NSEL,R,LOC,Z,0,0
NPLOT
CP,2,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NSEL,R,LOC,Z,0,0
NPLOT
CP,3,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NSEL,R,LOC,Z,0,0
NPLOT
CP,4,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NSEL,R,LOC,Z,0,0
NPLOT
CP,5,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NSEL,R,LOC,Z,0,0
NPLOT
CP,6,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NSEL,R,LOC,Z,0,0
NPLOT
CP,7,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NSEL,R,LOC,Z,0,0
NPLOT
CP,8,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NSEL,R,LOC,Z,0,0
NPLOT
CP,9,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NSEL,R,LOC,Z,0,0
NPLOT
CP,10,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NSEL,R,LOC,Z,0,0
NPLOT
CP,11,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NSEL,R,LOC,Z,0,0
NPLOT
CP,12,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NSEL,R,LOC,Z,HPIZ,HPIZ
NPLOT
CP,13,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NPLOT
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ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NPLOT
CP,15,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NPLOT
CP,16,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
ESEL,S,MAT,,2
NSLE,R
NPLOT
NPLOT
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NSLE,R
NPLOT
NPLOT
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EPLO
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NSLE,R
NPLOT
NPLOT
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NPLOT
NPLOT
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NPLOT
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NPLOT
CP,22,VOLT,ALL
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EPLO
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NSLE,R
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NPLOT
CP,23,VOLT,ALL
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EPLO
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NSLE,R
NPLOT
NPLOT
CP,24,VOLT,ALL
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EPLO
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NPLOT
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NPLOT
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CP,29,VOLT,ALL
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NPLOT
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NPLOT
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NSLE,R
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NPLOT
CP,33,VOLT,ALL
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EPLO
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NSLE,R
NPLOT
NPLOT
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NPLOT
NPLOT
CP,35,VOLT,ALL
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EPLO
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NPLOT
NPLOT
CP,36,VOLT,ALL
ALLSEL,ALL
EPLO
/PREP7
FLST,2,4,4,ORDE,2
FITEM,2,1
FITEM,2,-4
!*
/GO
DL,P51X, ,UZ,0
FLST,2,2,4,ORDE,2
FITEM,2,1
FITEM,2,3
!*************************************
! MODAL
!*************************************
/SOL
ANTYPE,2
MSAVE,0
MODOPT,LANB,10
EQSLV,SPAR
MXPAND,10, , ,0
LUMPM,0
PSTRES,0
MODOPT,LANB,10,0.1,5000, ,ON
/STATUS,SOLU
SOLVE
FINISH
!*************************************
! HARMONICA
!*************************************
/SOL
ANTYPE,3
HROPT,MSUP, , ,0
HROUT,OFF
LUMPM,0
HROPT,MSUP,20,1,1
HROUT,OFF,OFF,1
!*
FLST,2,1,1,ORDE,1
FITEM,2,7019
/GO
F,P51X,FZ,-1,
!*
HARFRQ,0,5000,
NSUBST,10000,
KBC,1
!*
SOLVE
FINISH

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THIAGO RODRIGO CICOGNA

Identificao de matrizes de funes de resposta em

Tese apresentada Escola de

Orientador: Prof. Tit. Paulo Sergio Varoto

admirao e eterna gratido.

caminho pessoas que auxiliaram em muito para a minha formao.

Ao Prof. Dr. Marcelo Areias Trindade pela amizade, confiana e inestimveis

contribuies ao longo do desenvolvimento dessa tese.

Agradeo a minha famlia, simplesmente por tudo que fizeram e fazem ao

longo de minha vida e a minha esposa pelo amor e o apoio constante.

Aos colegas de laboratrio pelo companheirismo e em especial aos amigos

Marcelo, Heinsten, Denis e Carlos, pelas contribuies em muitas etapas desse

sincera e presena mesmo em momentos difceis e muitas vezes incertos.

Meus sinceros agradecimentos aos funcionrios do Laboratrio de Dinmica,

Cristina, Xina, Diego, Sergio e Leandro, por todo o apoio e amizade.

Aos colegas do Laboratoire de Mcanique des Structures et des Systmes

e Mtiers (CNAM/Paris) e em especial, ao Prof. Tit. Roger Ohayon.

Fundao de Amparo Pesquisa do Estado de So Paulo (FAPESP) pela

bolsa de doutorado direto concedida.

E a todos que acreditam, torcem e contribuem para o meu crescimento.

CICOGNA, T. R. Identificao de matrizes de funes de resposta em freqncia

multidirecionais em estruturas complexas. 2008. 215 p. Tese (Doutorado) Escola de

Engenharia de So Carlos, Universidade de So Paulo, So Carlos-SP.

Este trabalho apresenta o desenvolvimento de uma metodologia para a

estimativa de funes de resposta em freqncia angulares (FRFAs). Trata-se de uma

curvatura local da estrutura atravs do potencial eltrico induzido pela extenso e

compresso do sensor. A partir da estimativa da curvatura, a rotao pode ser obtida

diretamente atravs de vrias tcnicas de interpolao (polinomial, formas modais,

etc.). Apresenta-se a modelagem terica da qual se deriva as equaes que

governam a dinmica de estruturas uni-dimensionais, do tipo viga, e estruturas bi-

dimensionais, do tipo placa, ambas isotrpicas, onde se incorpora o sensor bimorph.

Modelos em elementos finitos foram propostos no intuito de avaliar a utilizao destes

sensores (bimorphs) aplicados estimativa das FRFAs. Apresentam-se tambm

resultados numricos e experimentais considerando-se uma viga engastada-livre

(cantilever) e resultados numricos considerando-se uma placa simplesmente

apoiada. Um algoritmo gentico foi ainda desenvolvido no intuito de determinar a

posio e dimenso timas dos bimorphs em estruturas do tipo viga.

Palavras-chave: FRF Angular, Bimorph, Material piezeltrico, Movimentos

CICOGNA, T. R. Multidirectional frequency response functions matrices assessment in

complex structures. 2008. 215 p. Thesis (Doctoral) So Carlos School of

Engineering, University of So Paulo, So Carlos-SP, Brazil.

The present work aims to perform the development of an attractive approach

for accurate measurement of angular frequency response functions (AFRFs). It uses

obtained directly by several interpolation techniques (single polynomial, modes basis).

Theoretical modeling of the vibration incorporating piezoelectric bimorph sensor is

bimorphs patches applied to the measurement of angular FRFs. Numerical and

experimental results are presented considering a cantilever beam and numerical

and sizing of the bimorph sensor into beam like structures.

Keywords: Angular FRF, Bimorph, Piezoelectric material, Angular motions

LISTA DE FIGURAS................................................................................................ XII

Figura 1.1: Anlise dinmica de sistemas (OLIVEIRA, 2003) ............................................................. 26

Figura 1.2: Crescimento do nmero de publicaes nas ltimas dcadas ......................................... 27

Figura 1.3: Medio de acelerao angular atravs do bloco T ........................................................ 30

Figura 1.4: Configurao experimental (MOTTERSHEAD et al., 2005) .............................................. 33

Figura 1.5: Determinao das componentes de acelerao atravs de lasers.................................... 37

Figura 1.6: Transdutor de 6 GDL constitudo por acelermetros lineares........................................... 37

Figura 1.9 : Estrutura 2D (CHARETTE et al., 1998) ........................................................................... 53

Figura 2.2: Exemplos de bimorphs .................................................................................................. 67

Figura 2.3: Montagem do sensor bimorph em paralelo (a e c) e em srie (b e d) (DAS-GUPTA, 1998)68

Figura 2.4: Bimorph sujeito a: a) trao e b) flexo.......................................................................... 69

Figura 2.5: Representao cinemtica para uma viga laminada....................................................... 70

Figura 2.6: Polarizao e numerao das camadas piezeltricas ...................................................... 78

Figura 2.10: Elemento SHELL99 utilizado na modelagem via elementos finitos.................................. 96

Figura 3.1: Funcionamento do operador de reproduo (crossover) ............................................... 101