PERMITTIVITE DIELECTRIQUE

Dr Oleg Eric Anitoff∗

25 Mars 1998

Contents
1 1.Modélisation des propriétés diélectriques de la matière.Formulaire 2
1.1 Diélectrique non polaire . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
1.2 diélectrique polaire . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
1.3 effets non linéaires . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
1.3.1 saturation(terme quadratique de la fonction de Langevin) 5
1.3.2 changement de moment dipolaire effectif . . . . . . . . . . 6
1.4 permittivité de mélanges hétérogènes. . . . . . . . . . . . . . . . 7

2 Techniques de mesure 7
2.1 Ponts de Mesure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2.2 Mesure en Guide d’Onde . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2.2.1 Mesure en transmission en guide d’onde . . . . . . . . . . 9
2.2.2 Techniques de perturbation en cavité résonante . . . . . . 9
2.3 Mesures Diélectriques Temporelles . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2.3.1 Mesure aux très basses fréquences . . . . . . . . . . . . . 9
2.3.2 Mesures aux très hautes fréquences . . . . . . . . . . . . . 10

3 Applications 11
3.1 Controle de pureté des matériaux . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
3.1.1 eau dans les solvants,bois,papiers et ciments . . . . . . . . 11
3.1.2 Espèces dipolaires photoexcitables dans des substrats . . 11
3.2 Applications biomédicales . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
3.3 Controle de structure des matériaux . . . . . . . . . . . . . . . . 12
3.4 Capteurs de mesure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
3.5 Analyse et controle des polymères . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
3.5.1 Singularités(défauts)de structure . . . . . . . . . . . . . . 12
∗ Normalien,Docteur Es Sciences Physiques,précédement Chargé de Recherche au Cen-

tre National de la Recherche Scientifique détaché au Centre d’Etudes Nucléaires de

Saclay,actuellement Ingénieur Conseil en Electronique,20 rue des Clochettes,93700 Drancy
France

1
 3.5.2 anisotropie de substrats solides . . . . . . . . . . . . . . . 13

4 bibliographie 13

1 1.Modélisation des propriétés diélectriques de

la matière.Formulaire
Selon la seconde équation de Maxwell
divD = ρ (1)
l’application d’un champ électrique à un domaine non vide y induit un déplacement
diélectrique D,résultant de distorsions des orbitales électroniques,modification
de distances interatomiques,réorientation de dipoles et multipoles électriques.
En l’absence de charges électriques non équilibrées(c’est à dire si le domaine
est globalement neutre),et en l’absence de polarisation permanente(electrets et
ferroelectrets),et aux faibles champs électriques
E  κT /µ (2)
la polarisation diélectrique est une fonction linéaire du champ,et somme de trois
termes(électroniquePe ,atomiquePa,dipolaire c’est à dire rotationnelle Pµ ),dont
les deux premiers sont usuellement regroupés en un seul,la polarisabilité Pα .
X X
P = Pe + Pa + Pµ = E( − 1)/4π = Nk αk Eki + Ccgs/SI (Nk µ2k /3)Ekd (3)
k k

Dans cette expression,la permittivité est un tenseur de rang trois,dont les coef-
ficients dépendent de la fréquence de mesure en raison des effets inertiels.Aux
champs forts,ce tenseur devrait inclure des termes non linéaires,et aux fréquences
inférieures aux fréquences optiques,on considère souvent la permittivité comme
un scalaire,c’est à dire que le milieu est souvent considéré comme étant isotrope.

1.1 Diélectrique non polaire

Ce cas se présente lorsqu’il n’y a pas de dipole permanent
µ=0
ou lorsque la fréquence de mesure est suffisament élevée
F ≥ 1010 à1014 Hz
pour que,en raison des effets inertiels,la polarisation rotationelle soit négligeable.
Le champ effectif E i polarisant le diélectrique est le champ dans une cavité
sphérique virtuelle(champ de Lorentz)
EL = E( + 2)/3 (4)

2
alors X
 − 1)/( + 2) = 4π/3 Nk αk (5)
k
Aux fréquences optiques,on remplace la permittivité par le carré de l’indice de
réfraction n.
Dans le cas où
ρ 6= 0
(diélectriques avec injection de charges,par exemple effets photodiélectriques),on
peut introduire des espèces équivalentes hydrogénoides ou hélioides de symétrie
sphérique.
Signalons qu’aux fréquences optiques,l’incrément d’indice de réfraction est di-
rectement observable par interférométrie à contraste de phase(effet Schlieren).
La polarisabilité diélectrique d’une sphère conductrice de rayon a est

α = a3 (6)

Pour une sphère isolante,on a

α = ( − 1)/ + 2)a3 (7)

Les polarisabilités d’un hélioide et d’un hydrogénoide sont respectivement

αhelioide = 1, 37a3; αhydrogenoide = 4, 5a3 (8)

1.2 diélectrique polaire

Le champ effectif orientant chaque espèce de genre k par interaction avec son
moment dipolaire µk est le champ directeur Ekd ,qui dépend de la permittivité
diélectrique moyenne du mélange d’éspèces k et du rayon ak de la cavité occupée
par l’espèce k
Ekd = (1/(1 − fk αk ))(3/(2 + 1))E (9)
avec
fk = 2(( − 1)/(2 + 1))a3k (10)
Dans le cas d’une espèce pure,on peut calculer le moment dipolaire à partir de
la permittivité diélectrique

Ccgs/SI .µ2 = (9/4πN )( − ∞ )(2 + ∞ )/((∞ + 2)2 ) (11)

αk :polarisabilité de l’espèce k (m3 )

Nk :nombre de particules ou molécules du genre k par unité de volume
Ccgs/SI :facteur de conversion CGS SI 8, 99.109
µ: moment dipolaire (C.m)

1C.m = 3.1029Debyes

3
:permittivité mesurée au dessous de la fréquence de relaxation inertielle
∞ :permittivité mesurée au dessus de la fréquence de relaxation inertielle
κ:constante de Boltzmann

κ = 1, 38.10−23J/K

T :température absolue(K)
Le caractère inertiel de la relaxation dipolaire implique que la permittivité
diélectrique est une grandeur complexe fonction de la fréquence de mesure
F,avec:
F = ω/2π
(ω) = r (ω) + ii (ω) (12)
L’équation décrivant la dépendance de la permittivité complexe vis à vis de la
fréquence est nommée équation de dispersion.
Dans le cas d’un système présentant deux temps de relaxation inertiels:

(ω) = ∞ + ( − ∞,1 )/(1 + iωτ1 ) + (2 − ∞ )/(1 + iωτ2 ) (13)

∞,1 étant la permittivité asymptotique après la première dispersion inertielle.

Une forme équivalente peut être écrite en introduisant des coefficients de pondération
g1 ,g2 :
(ω) = ∞ + ( − ∞ )(g1 /(1 + iωτ1 ) + g2 /(1 + iωτ2 ) (14)
L’équation de dispersion peut être généralisée,mais en pratique,le caractère non
résonant aux radiofréquences(sauf cas particulier du couplage électrohydrodynamique:effet
Wimslow dans les solutions de polybenzyl-L glutamate)limite à quatre le nom-
bre de termes inertiels qui peuvent être résolus.
Le temps de relaxation inertiel τ est une grandeur macroscopique,qui peut
être relatée au temps de relaxation inertiel microscopique τm (sauf précisément
lorsque la relaxation inertielle observée résulte d’un effet coopératif,par exemple
dans les structures avec liaisons hydrogène où dans les phénomènes d’onde de po-
larisation dans des macromolécules biologiques telles que ADN,enzymes,protéines).
Plusieurs expressions ont été proposées:

τm = (2 + ∞ )/(3)τ (15)

ou
τm,av = τ W −1/(2W +1) (16)
avec
W = /∞ (17)

4
Le temps de relaxation microscopique τm est relaté aux volume V et forme de
l’espèce inertiel,ainsi quà la viscosité η du continu fluide:
pour une sphère ou un ellipsoide pas trop alongé:
τ = 3ηV /(κT ) (18)
Pour un ellipsoide très allongé,dans le cas où le moment dipolaire est perpen-
diculaire à l’axe principal:
τ ⊥ = 4ηV /κT (19)
Dans le cas d’un cylindre ou ellipsoide très allongé avec dipole parallèle à l’axe
principal:
τ k = 4πηa3 /(3κT (ln2a/b − γ)) (20)
Avec dans le cas de l’ellipsoide:
γellipsoide = 0, 5 (21)
et dans le cas d’un cylindre:
γcylindre = 1, 57 − 7(1/ln(2a/b) − 0, 28)2 (22)

η:viscosité,kg.m−1.s−1

1kg.m−1 .s−1 = 1000centipoises

1.3 effets non linéaires

Sous l’action d’un champ électrique intense:
µk Ekd  κT
la polarisation d’orientation dipolaire Pµ n’est plus une fonction linéaire de E.
Il existe deux sortes d’effets non linéaires,ceux de la seconde catégorie ren-
seignant sur la structure et l’ordre du diélectrique.

1.3.1 saturation(terme quadratique de la fonction de Langevin)

On a:
δ = −Ccgs/SI (4πN 4 )/(45(κT )3 ).(4 (∞ + 2)4 /(2 + ∞ )2 (22 + 2∞ )).E 2 (23)
Par exemple dans le cas du chloroforme à 18 degrés Celsius:
µ = 1, 18Debye = 3, 93.10−30C.m; N = 7, 53.1027.m−3 ;  = 4, 8213; ∞ = 2, 22
δ/E 2 = −16, 5.10−19m2 V −2
Avec un champ de 107 V /m:
δ = −16, 5.10−5

5
1.3.2 changement de moment dipolaire effectif
découplage dipole-dipole C’est le cas du nitrobenzène:

δ/E 2 = 15.10−9m2 V −2

déplacement d’un équilibre conformationnel Ce phénomène a été bien

étudié dans les dihaloalcanes.

dibromo 1,2 éthane

δ/E 2 = +1, 1.10−17m2 V −2

Le poids statistique du conformère cissoide,défavorisé par l’encombrement stérique,augmente

sous champ fort.

dichloro ou bromo 1,n n-alcanes Le signe de l’effet non linéaire dépend

de la parité de n:effet conformationnel positif avec n pair,effet de saturation
négatif avec n impair.

trans dichloro 1,2 cyclohexane Le conformère diéquatorial est stabilisé

sous champ fort.On observe un phénomène de dispersion de l’effet non linéaire,la
fréquence de dispersion étant 80kHz.

déplacement d’équilibre chimique Le champ électrique stabilise les espèces

les plus polaires.Si leur formation est endothermique,le coefficient de température
est:
δ/E 2 δT ≥ 0
et réciproquement.

alcools ou eau dans un fluide continu non polaire Le champ électrique

déplace un système complexe d’équilibres entre multimères liés par liaison hy-
drogène.
alcools à chaine longue:effet positif(dimère seulement)
eau:effet négatif(multimères seulement)
alcools à chaine courte:le signe dépend de la fraction volumique χ dans le fluide
non polaire.En dessous d’un seuil χc ,il y a seulement des dimères et l’effet est
positif.
systèmes hétérogènes liquide-liquide(micelles directes ou inverses,microémulsions).Les
propriétes non linéaires ne sont pas encore connues.Le système peut être bicon-
tinu,monocontinu ou zéro continu selon la connectivité des phases.Dans le cas
des systèmes monocontinus,il existe un seuil de percolation(par exemple dans
les systèmes eau-terpène),et la permittivité varie beaucoup lors de l’échange de
phases(voir chapitre suivant).D’intenses phénomènes de dispersion non linéaires

6
devraient être observés,et au voisinage du seuil de percolation,des phénomènes
de conversion,voire d’amplification paramétrique,devraient être possibles.

1.4 permittivité de mélanges hétérogènes.

On considérera les mélanges binaires diphasés,comportant une phase continue
de permittivité complexe 1 ,et une phase dispersée de permittivité complexe
2 ,de fraction volumique φD et constituée de particules de dimension d.
Il est usuel de nommer différement ces systèmes selon la valeur de d:de 1 à
0, 1mm:suspension;de 10−2 à 10−3 mm:émulsion;de 10−3 à 10−4 mm:microémulsion;de
10−4 à 10−5 mm:phase colloidale,le dispersat étant alors appelé micelle.
La permittivité d’un mélange diphasé est indépendante de d.Aux fractions vo-
lumiques très faibles:

 = 1 ((2 + 21 ) + 2φD (2 − 1 ))/((2 + 21 ) − φD (2 − 1 )) (24)

Aux fractions volumiques plus élevées:

10/3
 = 1 (1+3φD /((2 +21 )/(2 −1 )−φD −φD (π 2 (2 −1 )/(6(2 +41 /3))) (25)
10/3
Le terme en φD représente les interactions intermicellaires. La formule suiv-
ante(formule de Hanai)est d’une applicabilité très générale:diélectriques pouvant
présenter une conductivité non négligeable,ou même dispersion de particules
métalliques dans un isolant:

((1 − 2 )/(1 − ))3 (/2 )1−3ξ1 = (1 − φD )−3 (26)

ξ1 est le paramètre d’anisotropie,nul si le dispersat a une symétrie sphérique.

Le terme quadratique(effet non linéaire)a été déterminé théoriquement:

δ/E 2 = (270 1 /10)((2 − 1 )/(21 + 2 ))4 φD d/ζ (27)

ζ étant la tension superficielle.Cette expression est valable aux faibles con-

centrations:elle permet de prévoir des effets non lin´’eaires très importants et
ajustables.En effet,par exemple dans le cas des micelles inverses(eau-AOT dans
l’isooctane),a est ajustable de facon continue en faisant varier le rapport (eau)/(surfactant),et
la tension superficielle est ajustable au moyen d’un cosurfactant.
Aux concentrations élevées,l’expression théorique a aussi été déterminée,mais il
s’agit d’une expression implicite.

2 Techniques de mesure
La détermination de la permittivité diélectrique complexe de 1kHz à 100M Hz
est habituellement réalisée au moyen de ponts d’impédance à constantes lo-
calisées,dérivés du pont de Sauty.

7
L’analyse de la dispersion diélectrique(c’est à dire de la courbe (F ))aux fréquences
très basses(10−4 à 1000 Hz),intéressante pour étudier les transitions de struc-
ture,et donc les propriétés mécaniques,des polymères plastiques,ou aux fréquences
très élevées(100M Hz à 100GHz),interessante pour l’analyse des liquides com-
plexes(systèmes hétérogènes,milieux biologiques) et le controle des diélectriques
composites pour hyperfréquences requiert d’autres techniques:des ponts d’impédance
hyperfréquence à constantes réparties peuvent être réalisés aux moyens de cavités
connectées par des guides d’onde,et des techniques de mesure temporelle à
large bande ont été développées respectivement pour la mesure de la disper-
sion aux très basses fréquences(10−4 Hz à 10M Hz)et des hautes aux hyper-
fréquences(100M Hz à 50GHz).
La mesure des effets non linéaires nécessite une technique très sensible capa-
ble de détecter une variation de permittivité diélectrique de l’ordre de 10−5
ou 10−6 sous l’action d’un champ électrique ou électromagnétique à fréquence
optique.On utilise dans ce but un oscillateur de mesure radiofréquence,à faible
bruit de phase,couplé capacitivement à la substance à étudier,et dont la vari-
ation de fréquence induite par le champ appliqué est amplifiée par battement
hétérodyne et éventuellement multiplication de fréquence.Des variations de ca-
pacité de un atofarad(10−18F arad)peuvent être détectées.

2.1 Ponts de Mesure

Le principe de fonctionnement du pont de Sauty est rappelé figure 1.La sub-
stance analysée(solide,liquide,gaz sous pression),contenue dans une cellule de
mesure adaptée à sa nature(figure 2) constitue la capacité inconnue complexe
C0 .
De nombreux ponts de mesures sont disponibles commercialement.Fabricants:ESI,
HEWLETT PACKARD,GENRAD,WAYNE KERR,ENERTEC,FRANCAISE
d’INSTRUMENTATION,PHILIPS,RACAL DANA.La plupart comportent des
fréquences de mesure fixes(100Hz,1kHz,10kHz) et atteignent une précision de
±10−3 .
Certains modèles sont adaptés aux fréquences plus élevées:
HEWLETT PACKARD:4191A(1M Hzà1GHz,précision 2.10−2 ;4192A(5Hzà13M Hz,10−3)
4275A(10kHz à 10M Hz,10−3).
WAYNE KERR:3245(20hzà300kHz,10−3).
Les cellules de mesure de fabrication usuelle(métal avec isolants verre,téflon,céramique)ne
sont utilisables que dans une plage de température assez limitée(−50 à +200
degrés Celsius).
L’extension aux températures élevées(jusqu’à 1000C)requiert le dépot d’électrodes
métalliques sur l’échantillon à étudier,lequel est chauffé dans un four sous at-
mosphère de gaz inerte.
L’extension aux températures basses(77K:température de l’azote liquide)est as-
sez aisée:cellule de mesure en duralumin-acier inox-téflon avec isolation par plex-
iglas.

8
Des oscillateurs à diode tunnel au germanium ou avec certains transistors MOS-
FET(par exemple M F E121 de Motorola)peuvent fonctionner immergés dans
l’hélium liquide(3 à 4, 2K).
Quelques exemples de ces dispositifs spéciaux sont représentés figure 3.

2.2 Mesure en Guide d’Onde

Les guides d’ondes sont utilisés de 1GHz à 300GHz,quoique usuellement,les
mesures diélectriques soient effectuées par ces méthodes plutôt dans le domaine
de 3GHz à 50GHz.Au dessus,on utilisera plus facilement des méthodes in-
terférométriques en espace libre,qui ne seront pas abordées ici.

2.2.1 Mesure en transmission en guide d’onde

r et i sont tirés de la mesure de l’atténuation par une épaisseur variable de
liquide en guide d’onde(figure 4).

2.2.2 Techniques de perturbation en cavité résonante

L’échantillon est introduit dans une cavité résonante,dont le coefficient de surten-
sion et la fréquence d’accord sont modifiées,ce dont on déduit i et r .
Si l’échantillon est sous forme de disque solide,on emploie une cavité circulaire
en mode H01.
Si l’échantillon est un tube capillaire contenant un liquide,on emploie une cavité
circulaire en mode H01 ou E010(figure 5).
Les matériels(générateurs:klystron,oscillateur Gunn,Impatt,Mesfet stabilisé par
résonateur diélectrique ou YIG,éventuellement avec asservissement de phase),guides
d’ondes,atténuateurs,cavités résonantes,déphaseurs et détecteurs sont disponibles
chez de nombreux fabricants et distributeurs.
La précision usuelle est de 10−3 ,mais avec une installation soignée,une sensi-
bilité de 10−5 sur r et 10−4 sur i peut tre obtenue. Par exemple,un effet
photodiélectrique de 10−5 à 10GHz a été observé sur des chloroplastes éclairés
au moyen d’une fibre optique.

2.3 Mesures Diélectriques Temporelles

2.3.1 Mesure aux très basses fréquences
Intégration du courant de polarisation A l’instant t = 0,un échelon de
tension est appliqué au diélectrique sous forme de disque ou de feuille pressée
entre deux armatures.Le courant de polarisation i(t) est amplifié au moyen
d’un amplificateur d’électrométrie(figure 6),et la charge intégrée déconvoluée
au moyen d’un transformateur de Fourier cablé.On utilise pour le traitement
FFT un algorythme à pas logarithmique en raison de la grande dynamique
temporelle(1µsà1000s).

9
Dépolarisation induite thermiquement Cette méthode est en quelque
sorte la réciproque de la précédente:le diélectrique sous forme de plaquette ou de
feuille est polarisé par injection de charge électrique ou orientation sous champ
intense suivie de trempe(ce genre de méthode est utilisé pour la préparation de
matériaux non centrosymétriques:céramiques pyro ou piezoélectriques,electrets
tels que le fluorure de polyvinylidène).
Le matériau est ensuite dépolarisé par application d’une rampe de température
T (t).L’énergie d’activation du mécanisme de dépolarisation Ead est une fonction
logarithmique du courant de dépolarisation:
Ead = κT ln(T /i(T )) (28)
et le moment dipolaire effectif µeff des groupements dipolaires en est une fonc-
tion intégrale:
Z T (∞)
µ2eff = 2κT /(N0 Ep A) i(T )dT (29)
T (t=0)
avec:
N0 :concentration de groupements dipolaires
Ep:champ appliqué lors de la polarisation
A:surface de l’échantillon.
La dépolarisation peut également être induite par onde de choc(Laser Induced
Depolarisation Wave:LIDW).

2.3.2 Mesures aux très hautes fréquences

Cette technique,appelée TDR(Time Domain Reflectometry) ou TDS(Time Do-
main Spectroscopy),est basée sur l’analyse par transformation de Fourier de
la forme de l’onde réfléchie sur une discontinuité d’impédance résultant de
l’insertion d’un diélectrique liquide ou solide dans une ligne coaxiale à air de
précision(figures 7 et 8).
Un dispositif de reflectométrie complet est fabriqué par HEWLETT-PACKARD(modèle
1815:temps de montée 28ps;bande passante 0, 5 à 18GHz),qui commercialise
aussi un oscilloscope à échantillonnage 50GHz,alors que PICOSECOND PULSE
LABORATORIES fabrique diverses sources d’échelon de tension,dont le temps
de montée peut être inférieur à 10ps.
L’xemple de ligne de mesure présenté figure 8 est un modèle ancien(GENR RAD
20cm),qu’il est préférable de remplacer par une ligne de précision WILTRON(importé
par ELEXIENCE)de 30cm,munie de connecteurs T N C7.
La principale source d’erreur réside dans les erreurs de phase résultant de
réflections parasites,et la précision sur r et i atteint 10−2 .
Soient Rr (t) et Rx(t) les formes d’onde réfléchies respectivement sur un diélectrique
connu(référence) et le diélectrique inconnu.On a:
Z +∞
Rr/x (ω) = eiωt Rr/x (t)dt (30)
−∞

10
et:
ρ(ω) = Rx(ω)/Rr (ω)eiδtω = (1 − ((ω))1/2 )/(1 + ((ω))1/2 ) (31)

δt:terme de correction de phase.

Outre le dispositif de réflectométrie proprement dit,un microordinateur muni
d’au moins 16 kilooctets de mémoire est nécessaire pour les opérations de
Transformation de Fourier et déconvolution.Bien sur,le travail est facilité par
l’utilisation d’un PC moderne avec un logiciel comportant un programme de
Transformation de Fourier Rapide(FFT) tel que Mathcad.Un point très impor-
tant est d’éviter l’erreur de troncature par soustraction d’une rampe,de facon
que le signal traité soit nul en fin de fenêtre d’acquisition:un exemple de traite-
ment est donné figure 9.

3 Applications
3.1 Controle de pureté des matériaux
Selon l’équation (3),l’incrément de permittivité diélectrique du à une substance
(k) est proportionnel à la concentration de cette substance.D’autre part,la con-
tribution d’une espce dipolaire de moment µk est négligeable au delà de la
fréquence 2/τ ,τ étant déterminé par l’une des équations 18,19,20.Il est donc
possible,par un choix judicieux de la fréquence de mesure,de déterminer la con-
centration de plusieurs éspèces dipolaires dans un mélange.

3.1.1 eau dans les solvants,bois,papiers et ciments

La prise des ciments et platres s’accompagne de l’immobilisation des molécules
d’eau libres dans le réseau cristallin,et d’une diminution de la permittivité
mesurée en hyperfréquence.
Cette méthode est par exemple utilisée dans l’industrie des bois et celluloses.Ainsi
la mesure de permittivité à 2450M Hz des bois humides(taux d’humidité 0, 075
à 0, 26)en fonction de la température permet d’optimiser la puissance requise
dans les installations de séchage par magnétron.

3.1.2 Espèces dipolaires photoexcitables dans des substrats

La concentration de niveaux d’impuretés dans les semiconducteurs est déduite
de l’incrément de permittivité résultant de la formation d’espèces hydrogénoides
par photoexcitation par laser’effet photodiélectrique ou photocapacitif).
Cette technique,exploitée en recherche fondamentale,est aussi utilisée dans l’industrie
des semiconducteurs III-V(AsGa,InSb etc...).
La concentration d’impureté détectable est de l’ordre de 1016 cm−3 .

11
3.2 Applications biomédicales
La spectroscopie diélectrique à basse fréquence a été appliquée au dosage de
substances pharmaceutiques dans les tissus vivants.
L’absorption diélectrique sélective des tissus vivants est aussi appliquée en hy-
perthermie(traitement de maladies inflamatoires et de cancers).

3.3 Controle de structure des matériaux

La permittivité diélectrique complexe des émulsions étant très sensible à leur
structure,cette technique a été appliquée aux cosmétiques et dans l’industrie
pétrolière(extraction des gisements pauvres et sables par émulsification par ten-
sioactif).

3.4 Capteurs de mesure

La sensibilité paramétrique de la permittivité permet plusieurs applications
intéressantes:

capteurs d’humidité L’absorption réversible de l’humidité par un polymère

permet la mesure du degré hygrométrique(humidistance Phillips)

mesure de température La sensibilté à la température d’une émulsion au

seuil de percolation permet la mesure de ce paramètre(Génie chimique de Nancy).
Une application de l’effet photothermodiélectrique dans les solutions de micelles
inverses d’Aerosol O.T. à la mesure de l’énergie d’un laser impulsionnel a été
brevetée par l’auteur.

échantilloneurs photodiélectriques subpicosecondes Cette technique est

courament utilisée pour l’étude d’impulsions picoseconde et subpicoseconde,en
utilisant un laser subpicoseconde pour commuter une microligne interrompue
sur un substrat photosensible(AsGa).

3.5 Analyse et controle des polymères

3.5.1 Singularités(défauts)de structure
Les mesures diélectriques temporelles(ainsi que la relaxation mécanique)sont
très sensibles ‘a la structure et à la cristallinité des polymères.
La présence de cristallites se manifeste par l’existence de microdomaines dont la
relaxation inertielle apparait lors d’un balayage en température ou en fréquence,sous
forme de transition de phase.Ces microdomaines sont organisés autour de sin-
gularités dipolaires(par exemple ponts epoxyde dans les polyoléfines),dont la
concentration détectable est de l’ordre de 1016 à 1018cm−3 .

12
Des méthodes plus radicales peuvent être appliquées aux polymères sipolaires
semicristallins(tels que le PVDF:fluorure de polyvinylidène):analyse de la prop-
agation de domaines de dépolarisation par onde de choc thermique induite par
laser.

3.5.2 anisotropie de substrats solides

L’anisotropie des substrats diélectriques céramique(alumine et composites)ne
peut être ignorée dans la technologie des circuits hyperfréquence en microban-
des(stripline).La permittivité du substrat vis àvis d’une onde .E.M.(transverse
électromagnétique)se propageant dans une ligne imprimée dépend de l’orientation
du réseau cristallin par rapport au plan de l’onde.On détermine une permittivité
effective par une mesure de longueur d’onde:
1/2
λ = c/(F r(eff) (32)

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